Повышение помехоустойчивости бинаризации изображений фотошаблонов в пространстве вейвлет-преобразования

• Veröffentlicht in: Технология и конструирование в электронной аппаратуре
• Datum: 2011
• Hauptverfasser: Щербакова, Г.Ю., Дилевский, А.А., Крылов, В.Н., Логвинов, О.В., Плачинда, О.Е.
• Format: Artikel
• Sprache: Russisch
• Veröffentlicht: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2011
• Schlagworte: Технологические процессы и оборудование
• Online Zugang: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/51862
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Zitieren: Повышение помехоустойчивости бинаризации изображений фотошаблонов в пространстве вейвлет-преобразования / Г.Ю. Щербакова, А.А. Дилевский, В.Н. Крылов, О.В. Логвинов, О.Е. Плачинда // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2011. — № 6. — С. 23-26. — Бібліогр.: 6 назв. — рос.

Предложен метод, основанный на применении субградиентного итеративного метода оптимизации в пространстве вейвлет-преобразования, который удовлетворяет требованиям задачи автоматизированного оптического контроля фотошаблонов по погрешности и помехоустойчивости. Запропоновано інформаційну технологію аналізу гістограм та метод завадостійкої бінаризації зображень фотошаблонів (ФШ) ІС та друкованих плат (ДП) на її основі. Цей метод, заснований на застосуванні субградієнтного ітеративного завадостійкого методу оптимізації, задовольняє вимогам задачі автоматизованого оптичного контролю ФШ і ПП за похибкою та завадостійкістю. Помилка бінаризації не перевищує 1 пікселя призначенні відношення сигнал/ шум більш ніж 7. An information technology for histogram analysis and a method for noise immunity binary processing of integrated and printed circuits board photo-masks image based on this technology was carried out. This method based on the sub-gradient iterative noise stability optimization method satisfies the demands of the automated optical control of photo-masks and printed circuits in the error and noise immunity. The maximum binary processing error does not exceed 1 pixel if the signal-to-noise ratio is more than 7.