Повышение помехоустойчивости бинаризации изображений фотошаблонов в пространстве вейвлет-преобразования

Предложен метод, основанный на применении субградиентного итеративного метода оптимизации в пространстве вейвлет-преобразования, который удовлетворяет требованиям задачи автоматизированного оптического контроля фотошаблонов по погрешности и помехоустойчивости. Запропоновано інформаційну технологію а...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Published in:Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Date:2011
Main Authors: Щербакова, Г.Ю., Дилевский, А.А., Крылов, В.Н., Логвинов, О.В., Плачинда, О.Е.
Format: Article
Language:Russian
Published: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2011
Subjects:
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/51862
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Повышение помехоустойчивости бинаризации изображений фотошаблонов в пространстве вейвлет-преобразования / Г.Ю. Щербакова, А.А. Дилевский, В.Н. Крылов, О.В. Логвинов, О.Е. Плачинда // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2011. — № 6. — С. 23-26. — Бібліогр.: 6 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
_version_ 1862690093138968576
author Щербакова, Г.Ю.
Дилевский, А.А.
Крылов, В.Н.
Логвинов, О.В.
Плачинда, О.Е.
author_facet Щербакова, Г.Ю.
Дилевский, А.А.
Крылов, В.Н.
Логвинов, О.В.
Плачинда, О.Е.
citation_txt Повышение помехоустойчивости бинаризации изображений фотошаблонов в пространстве вейвлет-преобразования / Г.Ю. Щербакова, А.А. Дилевский, В.Н. Крылов, О.В. Логвинов, О.Е. Плачинда // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2011. — № 6. — С. 23-26. — Бібліогр.: 6 назв. — рос.
collection DSpace DC
container_title Технология и конструирование в электронной аппаратуре
description Предложен метод, основанный на применении субградиентного итеративного метода оптимизации в пространстве вейвлет-преобразования, который удовлетворяет требованиям задачи автоматизированного оптического контроля фотошаблонов по погрешности и помехоустойчивости. Запропоновано інформаційну технологію аналізу гістограм та метод завадостійкої бінаризації зображень фотошаблонів (ФШ) ІС та друкованих плат (ДП) на її основі. Цей метод, заснований на застосуванні субградієнтного ітеративного завадостійкого методу оптимізації, задовольняє вимогам задачі автоматизованого оптичного контролю ФШ і ПП за похибкою та завадостійкістю. Помилка бінаризації не перевищує 1 пікселя призначенні відношення сигнал/ шум більш ніж 7. An information technology for histogram analysis and a method for noise immunity binary processing of integrated and printed circuits board photo-masks image based on this technology was carried out. This method based on the sub-gradient iterative noise stability optimization method satisfies the demands of the automated optical control of photo-masks and printed circuits in the error and noise immunity. The maximum binary processing error does not exceed 1 pixel if the signal-to-noise ratio is more than 7.
first_indexed 2025-12-07T16:12:10Z
format Article
fulltext
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-51862
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
issn 2225-5818
language Russian
last_indexed 2025-12-07T16:12:10Z
publishDate 2011
publisher Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
record_format dspace
spelling Щербакова, Г.Ю.
Дилевский, А.А.
Крылов, В.Н.
Логвинов, О.В.
Плачинда, О.Е.
2013-12-14T00:54:19Z
2013-12-14T00:54:19Z
2011
Повышение помехоустойчивости бинаризации изображений фотошаблонов в пространстве вейвлет-преобразования / Г.Ю. Щербакова, А.А. Дилевский, В.Н. Крылов, О.В. Логвинов, О.Е. Плачинда // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2011. — № 6. — С. 23-26. — Бібліогр.: 6 назв. — рос.
2225-5818
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/51862
621.382
Предложен метод, основанный на применении субградиентного итеративного метода оптимизации в пространстве вейвлет-преобразования, который удовлетворяет требованиям задачи автоматизированного оптического контроля фотошаблонов по погрешности и помехоустойчивости.
Запропоновано інформаційну технологію аналізу гістограм та метод завадостійкої бінаризації зображень фотошаблонів (ФШ) ІС та друкованих плат (ДП) на її основі. Цей метод, заснований на застосуванні субградієнтного ітеративного завадостійкого методу оптимізації, задовольняє вимогам задачі автоматизованого оптичного контролю ФШ і ПП за похибкою та завадостійкістю. Помилка бінаризації не перевищує 1 пікселя призначенні відношення сигнал/ шум більш ніж 7.
An information technology for histogram analysis and a method for noise immunity binary processing of integrated and printed circuits board photo-masks image based on this technology was carried out. This method based on the sub-gradient iterative noise stability optimization method satisfies the demands of the automated optical control of photo-masks and printed circuits in the error and noise immunity. The maximum binary processing error does not exceed 1 pixel if the signal-to-noise ratio is more than 7.
ru
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Технологические процессы и оборудование
Повышение помехоустойчивости бинаризации изображений фотошаблонов в пространстве вейвлет-преобразования
Підвищення завадостійкості бінаризації зображень фотошаблонів в просторі вейвлет-перетворення
Increase of noise immunity of photomask images binarization in the space of the wavelet transform
Article
published earlier
spellingShingle Повышение помехоустойчивости бинаризации изображений фотошаблонов в пространстве вейвлет-преобразования
Щербакова, Г.Ю.
Дилевский, А.А.
Крылов, В.Н.
Логвинов, О.В.
Плачинда, О.Е.
Технологические процессы и оборудование
title Повышение помехоустойчивости бинаризации изображений фотошаблонов в пространстве вейвлет-преобразования
title_alt Підвищення завадостійкості бінаризації зображень фотошаблонів в просторі вейвлет-перетворення
Increase of noise immunity of photomask images binarization in the space of the wavelet transform
title_full Повышение помехоустойчивости бинаризации изображений фотошаблонов в пространстве вейвлет-преобразования
title_fullStr Повышение помехоустойчивости бинаризации изображений фотошаблонов в пространстве вейвлет-преобразования
title_full_unstemmed Повышение помехоустойчивости бинаризации изображений фотошаблонов в пространстве вейвлет-преобразования
title_short Повышение помехоустойчивости бинаризации изображений фотошаблонов в пространстве вейвлет-преобразования
title_sort повышение помехоустойчивости бинаризации изображений фотошаблонов в пространстве вейвлет-преобразования
topic Технологические процессы и оборудование
topic_facet Технологические процессы и оборудование
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/51862
work_keys_str_mv AT ŝerbakovagû povyšeniepomehoustoičivostibinarizaciiizobraženiifotošablonovvprostranstveveivletpreobrazovaniâ
AT dilevskiiaa povyšeniepomehoustoičivostibinarizaciiizobraženiifotošablonovvprostranstveveivletpreobrazovaniâ
AT krylovvn povyšeniepomehoustoičivostibinarizaciiizobraženiifotošablonovvprostranstveveivletpreobrazovaniâ
AT logvinovov povyšeniepomehoustoičivostibinarizaciiizobraženiifotošablonovvprostranstveveivletpreobrazovaniâ
AT plačindaoe povyšeniepomehoustoičivostibinarizaciiizobraženiifotošablonovvprostranstveveivletpreobrazovaniâ
AT ŝerbakovagû pídviŝennâzavadostíikostíbínarizacíízobraženʹfotošablonívvprostoríveivletperetvorennâ
AT dilevskiiaa pídviŝennâzavadostíikostíbínarizacíízobraženʹfotošablonívvprostoríveivletperetvorennâ
AT krylovvn pídviŝennâzavadostíikostíbínarizacíízobraženʹfotošablonívvprostoríveivletperetvorennâ
AT logvinovov pídviŝennâzavadostíikostíbínarizacíízobraženʹfotošablonívvprostoríveivletperetvorennâ
AT plačindaoe pídviŝennâzavadostíikostíbínarizacíízobraženʹfotošablonívvprostoríveivletperetvorennâ
AT ŝerbakovagû increaseofnoiseimmunityofphotomaskimagesbinarizationinthespaceofthewavelettransform
AT dilevskiiaa increaseofnoiseimmunityofphotomaskimagesbinarizationinthespaceofthewavelettransform
AT krylovvn increaseofnoiseimmunityofphotomaskimagesbinarizationinthespaceofthewavelettransform
AT logvinovov increaseofnoiseimmunityofphotomaskimagesbinarizationinthespaceofthewavelettransform
AT plačindaoe increaseofnoiseimmunityofphotomaskimagesbinarizationinthespaceofthewavelettransform