Повышение помехоустойчивости бинаризации изображений фотошаблонов в пространстве вейвлет-преобразования

Предложен метод, основанный на применении субградиентного итеративного метода оптимизации в пространстве вейвлет-преобразования, который удовлетворяет требованиям задачи автоматизированного оптического контроля фотошаблонов по погрешности и помехоустойчивости. Запропоновано інформаційну технологію а...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Datum:2011
Hauptverfasser: Щербакова, Г.Ю., Дилевский, А.А., Крылов, В.Н., Логвинов, О.В., Плачинда, О.Е.
Format: Artikel
Sprache:Russian
Veröffentlicht: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2011
Schlagworte:
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/51862
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Повышение помехоустойчивости бинаризации изображений фотошаблонов в пространстве вейвлет-преобразования / Г.Ю. Щербакова, А.А. Дилевский, В.Н. Крылов, О.В. Логвинов, О.Е. Плачинда // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2011. — № 6. — С. 23-26. — Бібліогр.: 6 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-51862
record_format dspace
spelling Щербакова, Г.Ю.
Дилевский, А.А.
Крылов, В.Н.
Логвинов, О.В.
Плачинда, О.Е.
2013-12-14T00:54:19Z
2013-12-14T00:54:19Z
2011
Повышение помехоустойчивости бинаризации изображений фотошаблонов в пространстве вейвлет-преобразования / Г.Ю. Щербакова, А.А. Дилевский, В.Н. Крылов, О.В. Логвинов, О.Е. Плачинда // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2011. — № 6. — С. 23-26. — Бібліогр.: 6 назв. — рос.
2225-5818
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/51862
621.382
Предложен метод, основанный на применении субградиентного итеративного метода оптимизации в пространстве вейвлет-преобразования, который удовлетворяет требованиям задачи автоматизированного оптического контроля фотошаблонов по погрешности и помехоустойчивости.
Запропоновано інформаційну технологію аналізу гістограм та метод завадостійкої бінаризації зображень фотошаблонів (ФШ) ІС та друкованих плат (ДП) на її основі. Цей метод, заснований на застосуванні субградієнтного ітеративного завадостійкого методу оптимізації, задовольняє вимогам задачі автоматизованого оптичного контролю ФШ і ПП за похибкою та завадостійкістю. Помилка бінаризації не перевищує 1 пікселя призначенні відношення сигнал/ шум більш ніж 7.
An information technology for histogram analysis and a method for noise immunity binary processing of integrated and printed circuits board photo-masks image based on this technology was carried out. This method based on the sub-gradient iterative noise stability optimization method satisfies the demands of the automated optical control of photo-masks and printed circuits in the error and noise immunity. The maximum binary processing error does not exceed 1 pixel if the signal-to-noise ratio is more than 7.
ru
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Технологические процессы и оборудование
Повышение помехоустойчивости бинаризации изображений фотошаблонов в пространстве вейвлет-преобразования
Підвищення завадостійкості бінаризації зображень фотошаблонів в просторі вейвлет-перетворення
Increase of noise immunity of photomask images binarization in the space of the wavelet transform
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title Повышение помехоустойчивости бинаризации изображений фотошаблонов в пространстве вейвлет-преобразования
spellingShingle Повышение помехоустойчивости бинаризации изображений фотошаблонов в пространстве вейвлет-преобразования
Щербакова, Г.Ю.
Дилевский, А.А.
Крылов, В.Н.
Логвинов, О.В.
Плачинда, О.Е.
Технологические процессы и оборудование
title_short Повышение помехоустойчивости бинаризации изображений фотошаблонов в пространстве вейвлет-преобразования
title_full Повышение помехоустойчивости бинаризации изображений фотошаблонов в пространстве вейвлет-преобразования
title_fullStr Повышение помехоустойчивости бинаризации изображений фотошаблонов в пространстве вейвлет-преобразования
title_full_unstemmed Повышение помехоустойчивости бинаризации изображений фотошаблонов в пространстве вейвлет-преобразования
title_sort повышение помехоустойчивости бинаризации изображений фотошаблонов в пространстве вейвлет-преобразования
author Щербакова, Г.Ю.
Дилевский, А.А.
Крылов, В.Н.
Логвинов, О.В.
Плачинда, О.Е.
author_facet Щербакова, Г.Ю.
Дилевский, А.А.
Крылов, В.Н.
Логвинов, О.В.
Плачинда, О.Е.
topic Технологические процессы и оборудование
topic_facet Технологические процессы и оборудование
publishDate 2011
language Russian
container_title Технология и конструирование в электронной аппаратуре
publisher Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
format Article
title_alt Підвищення завадостійкості бінаризації зображень фотошаблонів в просторі вейвлет-перетворення
Increase of noise immunity of photomask images binarization in the space of the wavelet transform
description Предложен метод, основанный на применении субградиентного итеративного метода оптимизации в пространстве вейвлет-преобразования, который удовлетворяет требованиям задачи автоматизированного оптического контроля фотошаблонов по погрешности и помехоустойчивости. Запропоновано інформаційну технологію аналізу гістограм та метод завадостійкої бінаризації зображень фотошаблонів (ФШ) ІС та друкованих плат (ДП) на її основі. Цей метод, заснований на застосуванні субградієнтного ітеративного завадостійкого методу оптимізації, задовольняє вимогам задачі автоматизованого оптичного контролю ФШ і ПП за похибкою та завадостійкістю. Помилка бінаризації не перевищує 1 пікселя призначенні відношення сигнал/ шум більш ніж 7. An information technology for histogram analysis and a method for noise immunity binary processing of integrated and printed circuits board photo-masks image based on this technology was carried out. This method based on the sub-gradient iterative noise stability optimization method satisfies the demands of the automated optical control of photo-masks and printed circuits in the error and noise immunity. The maximum binary processing error does not exceed 1 pixel if the signal-to-noise ratio is more than 7.
issn 2225-5818
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/51862
citation_txt Повышение помехоустойчивости бинаризации изображений фотошаблонов в пространстве вейвлет-преобразования / Г.Ю. Щербакова, А.А. Дилевский, В.Н. Крылов, О.В. Логвинов, О.Е. Плачинда // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2011. — № 6. — С. 23-26. — Бібліогр.: 6 назв. — рос.
work_keys_str_mv AT ŝerbakovagû povyšeniepomehoustoičivostibinarizaciiizobraženiifotošablonovvprostranstveveivletpreobrazovaniâ
AT dilevskiiaa povyšeniepomehoustoičivostibinarizaciiizobraženiifotošablonovvprostranstveveivletpreobrazovaniâ
AT krylovvn povyšeniepomehoustoičivostibinarizaciiizobraženiifotošablonovvprostranstveveivletpreobrazovaniâ
AT logvinovov povyšeniepomehoustoičivostibinarizaciiizobraženiifotošablonovvprostranstveveivletpreobrazovaniâ
AT plačindaoe povyšeniepomehoustoičivostibinarizaciiizobraženiifotošablonovvprostranstveveivletpreobrazovaniâ
AT ŝerbakovagû pídviŝennâzavadostíikostíbínarizacíízobraženʹfotošablonívvprostoríveivletperetvorennâ
AT dilevskiiaa pídviŝennâzavadostíikostíbínarizacíízobraženʹfotošablonívvprostoríveivletperetvorennâ
AT krylovvn pídviŝennâzavadostíikostíbínarizacíízobraženʹfotošablonívvprostoríveivletperetvorennâ
AT logvinovov pídviŝennâzavadostíikostíbínarizacíízobraženʹfotošablonívvprostoríveivletperetvorennâ
AT plačindaoe pídviŝennâzavadostíikostíbínarizacíízobraženʹfotošablonívvprostoríveivletperetvorennâ
AT ŝerbakovagû increaseofnoiseimmunityofphotomaskimagesbinarizationinthespaceofthewavelettransform
AT dilevskiiaa increaseofnoiseimmunityofphotomaskimagesbinarizationinthespaceofthewavelettransform
AT krylovvn increaseofnoiseimmunityofphotomaskimagesbinarizationinthespaceofthewavelettransform
AT logvinovov increaseofnoiseimmunityofphotomaskimagesbinarizationinthespaceofthewavelettransform
AT plačindaoe increaseofnoiseimmunityofphotomaskimagesbinarizationinthespaceofthewavelettransform
first_indexed 2025-12-07T16:12:10Z
last_indexed 2025-12-07T16:12:10Z
_version_ 1850866590614028288