Попов, В., Клименко, А., Поканевич, А., & Шустов, Ю. (2010). Ртутный микрозонд для исследования локальных электрофизических свойств полупроводниковых структур. Технология и конструирование в электронной аппаратуре.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Попов, В.М, А.С Клименко, А.П Поканевич, та Ю.М Шустов. "Ртутный микрозонд для исследования локальных электрофизических свойств полупроводниковых структур." Технология и конструирование в электронной аппаратуре 2010.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Попов, В.М, et al. "Ртутный микрозонд для исследования локальных электрофизических свойств полупроводниковых структур." Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2010.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.