Попов, В., Клименко, А., Поканевич, А., & Шустов, Ю. (2010). Ртутный микрозонд для исследования локальных электрофизических свойств полупроводниковых структур. Технология и конструирование в электронной аппаратуре.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Попов, В.М, А.С Клименко, А.П Поканевич, und Ю.М Шустов. "Ртутный микрозонд для исследования локальных электрофизических свойств полупроводниковых структур." Технология и конструирование в электронной аппаратуре 2010.
MLA-Zitierstil (8. Ausg.)Попов, В.М, et al. "Ртутный микрозонд для исследования локальных электрофизических свойств полупроводниковых структур." Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2010.
Achtung: Diese Zitate sind unter Umständen nicht zu 100% korrekt.