Цифровой метод измерения коэффициента направленного отражения поверхности

• Veröffentlicht in: Технология и конструирование в электронной аппаратуре
• Datum: 2010
• ISSN: 2225-5818
• Hauptverfasser: Иванченко, И.А., Сантоний, В.И., Смынтына, В.А.
• Format: Artikel
• Sprache: Russisch
• Veröffentlicht: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2010
• Schlagworte: Электронные средства: исследования, разработки
• Online Zugang: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/51948
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Zitieren: Цифровой метод измерения коэффициента направленного отражения поверхности / И.А. Иванченко, В.И. Сантоний, В.А. Смынтына // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2010. — № 3. — С. 16-20. — Бібліогр.: 11 назв. — рос.

Применение в отражательной фотометрии многоэлементного фотоприемника позволило увеличить точность и упростить измерение спектрального коэффициента направленного отражения поверхности. Встановлено звязок між коефіцієнтом відбиття поверхніта координатою зображення у площині фотоприймача. Розроблено цифровий метод вимірювання коефіцієнту відбиття з використанням багатоелементного фотоприймача, що дозволяє збільшити точність вимірювань додесятих часток відсотка. The connection between the reflectance of a surface and the coordinate of picture in a photodetector plane is established. The digital method of measurement of reflectance with application of the multielement photodetector is developed. This method allows to increase accuracy of measurements to the tenth shares of percent.