Цифровой метод измерения коэффициента направленного отражения поверхности

• Опубліковано в: : Технология и конструирование в электронной аппаратуре
• Дата: 2010
• Автори: Иванченко, И.А., Сантоний, В.И., Смынтына, В.А.
• Формат: Стаття
• Мова: Russian
• Опубліковано: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2010
• Теми: Электронные средства: исследования, разработки
• Онлайн доступ: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/51948
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Цитувати: Цифровой метод измерения коэффициента направленного отражения поверхности / И.А. Иванченко, В.И. Сантоний, В.А. Смынтына // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2010. — № 3. — С. 16-20. — Бібліогр.: 11 назв. — рос.

Применение в отражательной фотометрии многоэлементного фотоприемника позволило увеличить точность и упростить измерение спектрального коэффициента направленного отражения поверхности. Встановлено звязок між коефіцієнтом відбиття поверхніта координатою зображення у площині фотоприймача. Розроблено ци...