Горев, Н., Коджеспирова, И., & Привалов, Е. (2010). Диагностика глубоких центров на границе пленка–подложка в тонкопленочных эпитаксиальных структурах GaAs. Технология и конструирование в электронной аппаратуре.
Chicago Style (17th ed.) CitationГорев, Н.Б, И.Ф Коджеспирова, and Е.Н Привалов. "Диагностика глубоких центров на границе пленка–подложка в тонкопленочных эпитаксиальных структурах GaAs." Технология и конструирование в электронной аппаратуре 2010.
MLA (8th ed.) CitationГорев, Н.Б, et al. "Диагностика глубоких центров на границе пленка–подложка в тонкопленочных эпитаксиальных структурах GaAs." Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2010.
Warning: These citations may not always be 100% accurate.