Связь параметров спектральной плотности фликкер-шума с особенностями внутренней структуры системы

• Veröffentlicht in: Технология и конструирование в электронной аппаратуре
• Datum: 2009
• Hauptverfasser: Колодий, З.А., Крук, О.Г., Саноцкий, Ю.В., Голынский, В.Д., Колодий, А.З., Депко, П.И.
• Format: Artikel
• Sprache: Russian
• Veröffentlicht: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2009
• Schlagworte: Электронные средства: исследования, разработки
• Online Zugang: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52020
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Zitieren: Связь параметров спектральной плотности фликкер-шума с особенностями внутренней структуры системы / З.А. Колодий, О.Г. Крук, Ю.В. Саноцкий, В.Д. Голынский, А.З. Колодий, П.И. Депко // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2009. — № 1. — С. 10-14. — Бібліогр.: 4 назв. — рос.

В результате компьютерного моделирования хаотического движения элементарных частиц в системах с хаотической и упорядоченной структурой сделан вывод о возможности использования фликкер-шума при анализе надежности элементов электроники. Приведено результати комп.ютерного моделювання хаотичного руху елементарних частинок в плоскому пря мокутнику, якому можна поставити у відповідність плівковий резистор з електронами провідності. Аналізспектральної щільності хаотичного руху вказує, що один·з параметрів флікер-шуму залежить від кількості елементарних частинок і середньої швидкості їх руху. Другий параметр флікер-шуму (час релаксації) залежить від особливостей внутрішньої структури системи. Це може бути використано для прогнозування надійності як окремих елементів електроніки, так і апаратури в цілому порівню їх флікер-шуму, який можна виміряти.· The results of computer design of chaotic motion of elementary particles are resulted in a flat rectangle which can be put in accordance to a pellicle resistor with the electrons of conductivity. The analysis of spectral closeness of chaotic motion shows that one of parameters of flicker-noise depends only on the amount of elementary particles and middle rate of their movement. The second parameter of flicker-noise (time of relaxation) depends on the features of underlying structure of the system. It can be used for prognostication of reliability as separate elements of electronics so apparatus as a whole on the measured level of their flicker-noise.