Связь параметров спектральной плотности фликкер-шума с особенностями внутренней структуры системы
В результате компьютерного моделирования хаотического движения элементарных частиц в системах с хаотической и упорядоченной структурой сделан вывод о возможности использования фликкер-шума при анализе надежности элементов электроники. Приведено результати комп.ютерного моделювання хаотичного руху ел...
Saved in:
| Published in: | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
|---|---|
| Date: | 2009 |
| Main Authors: | , , , , , |
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Published: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2009
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52020 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Связь параметров спектральной плотности фликкер-шума с особенностями внутренней структуры системы / З.А. Колодий, О.Г. Крук, Ю.В. Саноцкий, В.Д. Голынский, А.З. Колодий, П.И. Депко // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2009. — № 1. — С. 10-14. — Бібліогр.: 4 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-52020 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
Колодий, З.А. Крук, О.Г. Саноцкий, Ю.В. Голынский, В.Д. Колодий, А.З. Депко, П.И. 2013-12-22T20:34:12Z 2013-12-22T20:34:12Z 2009 Связь параметров спектральной плотности фликкер-шума с особенностями внутренней структуры системы / З.А. Колодий, О.Г. Крук, Ю.В. Саноцкий, В.Д. Голынский, А.З. Колодий, П.И. Депко // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2009. — № 1. — С. 10-14. — Бібліогр.: 4 назв. — рос. 2225-5818 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52020 В результате компьютерного моделирования хаотического движения элементарных частиц в системах с хаотической и упорядоченной структурой сделан вывод о возможности использования фликкер-шума при анализе надежности элементов электроники. Приведено результати комп.ютерного моделювання хаотичного руху елементарних частинок в плоскому пря мокутнику, якому можна поставити у відповідність плівковий резистор з електронами провідності. Аналізспектральної щільності хаотичного руху вказує, що один·з параметрів флікер-шуму залежить від кількості елементарних частинок і середньої швидкості їх руху. Другий параметр флікер-шуму (час релаксації) залежить від особливостей внутрішньої структури системи. Це може бути використано для прогнозування надійності як окремих елементів електроніки, так і апаратури в цілому порівню їх флікер-шуму, який можна виміряти.· The results of computer design of chaotic motion of elementary particles are resulted in a flat rectangle which can be put in accordance to a pellicle resistor with the electrons of conductivity. The analysis of spectral closeness of chaotic motion shows that one of parameters of flicker-noise depends only on the amount of elementary particles and middle rate of their movement. The second parameter of flicker-noise (time of relaxation) depends on the features of underlying structure of the system. It can be used for prognostication of reliability as separate elements of electronics so apparatus as a whole on the measured level of their flicker-noise. ru Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України Технология и конструирование в электронной аппаратуре Электронные средства: исследования, разработки Связь параметров спектральной плотности фликкер-шума с особенностями внутренней структуры системы Зв'язок параметрів спектральної щільності флікер-шуму з особливостями внутрішньої структури системи Association of spectral closeness of flicker-noise parameters with features of underlying structure of system Article published earlier |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| title |
Связь параметров спектральной плотности фликкер-шума с особенностями внутренней структуры системы |
| spellingShingle |
Связь параметров спектральной плотности фликкер-шума с особенностями внутренней структуры системы Колодий, З.А. Крук, О.Г. Саноцкий, Ю.В. Голынский, В.Д. Колодий, А.З. Депко, П.И. Электронные средства: исследования, разработки |
| title_short |
Связь параметров спектральной плотности фликкер-шума с особенностями внутренней структуры системы |
| title_full |
Связь параметров спектральной плотности фликкер-шума с особенностями внутренней структуры системы |
| title_fullStr |
Связь параметров спектральной плотности фликкер-шума с особенностями внутренней структуры системы |
| title_full_unstemmed |
Связь параметров спектральной плотности фликкер-шума с особенностями внутренней структуры системы |
| title_sort |
связь параметров спектральной плотности фликкер-шума с особенностями внутренней структуры системы |
| author |
Колодий, З.А. Крук, О.Г. Саноцкий, Ю.В. Голынский, В.Д. Колодий, А.З. Депко, П.И. |
| author_facet |
Колодий, З.А. Крук, О.Г. Саноцкий, Ю.В. Голынский, В.Д. Колодий, А.З. Депко, П.И. |
| topic |
Электронные средства: исследования, разработки |
| topic_facet |
Электронные средства: исследования, разработки |
| publishDate |
2009 |
| language |
Russian |
| container_title |
Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| publisher |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
| format |
Article |
| title_alt |
Зв'язок параметрів спектральної щільності флікер-шуму з особливостями внутрішньої структури системи Association of spectral closeness of flicker-noise parameters with features of underlying structure of system |
| description |
В результате компьютерного моделирования хаотического движения элементарных частиц в системах с хаотической и упорядоченной структурой сделан вывод о возможности использования фликкер-шума при анализе надежности элементов электроники.
Приведено результати комп.ютерного моделювання хаотичного руху елементарних частинок в плоскому пря мокутнику, якому можна поставити у відповідність плівковий резистор з електронами провідності. Аналізспектральної щільності хаотичного руху вказує, що один·з параметрів флікер-шуму залежить від кількості елементарних частинок і середньої швидкості їх руху. Другий параметр флікер-шуму (час релаксації) залежить від особливостей внутрішньої структури системи. Це може бути використано для прогнозування надійності як окремих елементів електроніки, так і апаратури в цілому порівню їх флікер-шуму, який можна виміряти.·
The results of computer design of chaotic motion of elementary particles are resulted in a flat rectangle which can be put in accordance to a pellicle resistor with the electrons of conductivity. The analysis of spectral closeness of chaotic motion shows that one of parameters of flicker-noise depends only on the amount of elementary particles and middle rate of their movement. The second parameter of flicker-noise (time of relaxation) depends on the features of underlying structure of the system. It can be used for prognostication of reliability as separate elements of electronics so apparatus as a whole on the measured level of their flicker-noise.
|
| issn |
2225-5818 |
| url |
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52020 |
| citation_txt |
Связь параметров спектральной плотности фликкер-шума с особенностями внутренней структуры системы / З.А. Колодий, О.Г. Крук, Ю.В. Саноцкий, В.Д. Голынский, А.З. Колодий, П.И. Депко // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2009. — № 1. — С. 10-14. — Бібліогр.: 4 назв. — рос. |
| work_keys_str_mv |
AT kolodiiza svâzʹparametrovspektralʹnoiplotnostiflikkeršumasosobennostâmivnutrenneistrukturysistemy AT krukog svâzʹparametrovspektralʹnoiplotnostiflikkeršumasosobennostâmivnutrenneistrukturysistemy AT sanockiiûv svâzʹparametrovspektralʹnoiplotnostiflikkeršumasosobennostâmivnutrenneistrukturysistemy AT golynskiivd svâzʹparametrovspektralʹnoiplotnostiflikkeršumasosobennostâmivnutrenneistrukturysistemy AT kolodiiaz svâzʹparametrovspektralʹnoiplotnostiflikkeršumasosobennostâmivnutrenneistrukturysistemy AT depkopi svâzʹparametrovspektralʹnoiplotnostiflikkeršumasosobennostâmivnutrenneistrukturysistemy AT kolodiiza zvâzokparametrívspektralʹnoíŝílʹnostíflíkeršumuzosoblivostâmivnutríšnʹoístrukturisistemi AT krukog zvâzokparametrívspektralʹnoíŝílʹnostíflíkeršumuzosoblivostâmivnutríšnʹoístrukturisistemi AT sanockiiûv zvâzokparametrívspektralʹnoíŝílʹnostíflíkeršumuzosoblivostâmivnutríšnʹoístrukturisistemi AT golynskiivd zvâzokparametrívspektralʹnoíŝílʹnostíflíkeršumuzosoblivostâmivnutríšnʹoístrukturisistemi AT kolodiiaz zvâzokparametrívspektralʹnoíŝílʹnostíflíkeršumuzosoblivostâmivnutríšnʹoístrukturisistemi AT depkopi zvâzokparametrívspektralʹnoíŝílʹnostíflíkeršumuzosoblivostâmivnutríšnʹoístrukturisistemi AT kolodiiza associationofspectralclosenessofflickernoiseparameterswithfeaturesofunderlyingstructureofsystem AT krukog associationofspectralclosenessofflickernoiseparameterswithfeaturesofunderlyingstructureofsystem AT sanockiiûv associationofspectralclosenessofflickernoiseparameterswithfeaturesofunderlyingstructureofsystem AT golynskiivd associationofspectralclosenessofflickernoiseparameterswithfeaturesofunderlyingstructureofsystem AT kolodiiaz associationofspectralclosenessofflickernoiseparameterswithfeaturesofunderlyingstructureofsystem AT depkopi associationofspectralclosenessofflickernoiseparameterswithfeaturesofunderlyingstructureofsystem |
| first_indexed |
2025-12-07T16:44:14Z |
| last_indexed |
2025-12-07T16:44:14Z |
| _version_ |
1850868608447545344 |