Связь параметров спектральной плотности фликкер-шума с особенностями внутренней структуры системы

В результате компьютерного моделирования хаотического движения элементарных частиц в системах с хаотической и упорядоченной структурой сделан вывод о возможности использования фликкер-шума при анализе надежности элементов электроники. Приведено результати комп.ютерного моделювання хаотичного руху ел...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Datum:2009
Hauptverfasser: Колодий, З.А., Крук, О.Г., Саноцкий, Ю.В., Голынский, В.Д., Колодий, А.З., Депко, П.И.
Format: Artikel
Sprache:Russisch
Veröffentlicht: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2009
Schlagworte:
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52020
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Связь параметров спектральной плотности фликкер-шума с особенностями внутренней структуры системы / З.А. Колодий, О.Г. Крук, Ю.В. Саноцкий, В.Д. Голынский, А.З. Колодий, П.И. Депко // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2009. — № 1. — С. 10-14. — Бібліогр.: 4 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
_version_ 1862702308033298432
author Колодий, З.А.
Крук, О.Г.
Саноцкий, Ю.В.
Голынский, В.Д.
Колодий, А.З.
Депко, П.И.
author_facet Колодий, З.А.
Крук, О.Г.
Саноцкий, Ю.В.
Голынский, В.Д.
Колодий, А.З.
Депко, П.И.
citation_txt Связь параметров спектральной плотности фликкер-шума с особенностями внутренней структуры системы / З.А. Колодий, О.Г. Крук, Ю.В. Саноцкий, В.Д. Голынский, А.З. Колодий, П.И. Депко // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2009. — № 1. — С. 10-14. — Бібліогр.: 4 назв. — рос.
collection DSpace DC
container_title Технология и конструирование в электронной аппаратуре
description В результате компьютерного моделирования хаотического движения элементарных частиц в системах с хаотической и упорядоченной структурой сделан вывод о возможности использования фликкер-шума при анализе надежности элементов электроники. Приведено результати комп.ютерного моделювання хаотичного руху елементарних частинок в плоскому пря мокутнику, якому можна поставити у відповідність плівковий резистор з електронами провідності. Аналізспектральної щільності хаотичного руху вказує, що один·з параметрів флікер-шуму залежить від кількості елементарних частинок і середньої швидкості їх руху. Другий параметр флікер-шуму (час релаксації) залежить від особливостей внутрішньої структури системи. Це може бути використано для прогнозування надійності як окремих елементів електроніки, так і апаратури в цілому порівню їх флікер-шуму, який можна виміряти.· The results of computer design of chaotic motion of elementary particles are resulted in a flat rectangle which can be put in accordance to a pellicle resistor with the electrons of conductivity. The analysis of spectral closeness of chaotic motion shows that one of parameters of flicker-noise depends only on the amount of elementary particles and middle rate of their movement. The second parameter of flicker-noise (time of relaxation) depends on the features of underlying structure of the system. It can be used for prognostication of reliability as separate elements of electronics so apparatus as a whole on the measured level of their flicker-noise.
first_indexed 2025-12-07T16:44:14Z
format Article
fulltext
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-52020
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
issn 2225-5818
language Russian
last_indexed 2025-12-07T16:44:14Z
publishDate 2009
publisher Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
record_format dspace
spelling Колодий, З.А.
Крук, О.Г.
Саноцкий, Ю.В.
Голынский, В.Д.
Колодий, А.З.
Депко, П.И.
2013-12-22T20:34:12Z
2013-12-22T20:34:12Z
2009
Связь параметров спектральной плотности фликкер-шума с особенностями внутренней структуры системы / З.А. Колодий, О.Г. Крук, Ю.В. Саноцкий, В.Д. Голынский, А.З. Колодий, П.И. Депко // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2009. — № 1. — С. 10-14. — Бібліогр.: 4 назв. — рос.
2225-5818
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52020
В результате компьютерного моделирования хаотического движения элементарных частиц в системах с хаотической и упорядоченной структурой сделан вывод о возможности использования фликкер-шума при анализе надежности элементов электроники.
Приведено результати комп.ютерного моделювання хаотичного руху елементарних частинок в плоскому пря мокутнику, якому можна поставити у відповідність плівковий резистор з електронами провідності. Аналізспектральної щільності хаотичного руху вказує, що один·з параметрів флікер-шуму залежить від кількості елементарних частинок і середньої швидкості їх руху. Другий параметр флікер-шуму (час релаксації) залежить від особливостей внутрішньої структури системи. Це може бути використано для прогнозування надійності як окремих елементів електроніки, так і апаратури в цілому порівню їх флікер-шуму, який можна виміряти.·
The results of computer design of chaotic motion of elementary particles are resulted in a flat rectangle which can be put in accordance to a pellicle resistor with the electrons of conductivity. The analysis of spectral closeness of chaotic motion shows that one of parameters of flicker-noise depends only on the amount of elementary particles and middle rate of their movement. The second parameter of flicker-noise (time of relaxation) depends on the features of underlying structure of the system. It can be used for prognostication of reliability as separate elements of electronics so apparatus as a whole on the measured level of their flicker-noise.
ru
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Электронные средства: исследования, разработки
Связь параметров спектральной плотности фликкер-шума с особенностями внутренней структуры системы
Зв'язок параметрів спектральної щільності флікер-шуму з особливостями внутрішньої структури системи
Association of spectral closeness of flicker-noise parameters with features of underlying structure of system
Article
published earlier
spellingShingle Связь параметров спектральной плотности фликкер-шума с особенностями внутренней структуры системы
Колодий, З.А.
Крук, О.Г.
Саноцкий, Ю.В.
Голынский, В.Д.
Колодий, А.З.
Депко, П.И.
Электронные средства: исследования, разработки
title Связь параметров спектральной плотности фликкер-шума с особенностями внутренней структуры системы
title_alt Зв'язок параметрів спектральної щільності флікер-шуму з особливостями внутрішньої структури системи
Association of spectral closeness of flicker-noise parameters with features of underlying structure of system
title_full Связь параметров спектральной плотности фликкер-шума с особенностями внутренней структуры системы
title_fullStr Связь параметров спектральной плотности фликкер-шума с особенностями внутренней структуры системы
title_full_unstemmed Связь параметров спектральной плотности фликкер-шума с особенностями внутренней структуры системы
title_short Связь параметров спектральной плотности фликкер-шума с особенностями внутренней структуры системы
title_sort связь параметров спектральной плотности фликкер-шума с особенностями внутренней структуры системы
topic Электронные средства: исследования, разработки
topic_facet Электронные средства: исследования, разработки
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52020
work_keys_str_mv AT kolodiiza svâzʹparametrovspektralʹnoiplotnostiflikkeršumasosobennostâmivnutrenneistrukturysistemy
AT krukog svâzʹparametrovspektralʹnoiplotnostiflikkeršumasosobennostâmivnutrenneistrukturysistemy
AT sanockiiûv svâzʹparametrovspektralʹnoiplotnostiflikkeršumasosobennostâmivnutrenneistrukturysistemy
AT golynskiivd svâzʹparametrovspektralʹnoiplotnostiflikkeršumasosobennostâmivnutrenneistrukturysistemy
AT kolodiiaz svâzʹparametrovspektralʹnoiplotnostiflikkeršumasosobennostâmivnutrenneistrukturysistemy
AT depkopi svâzʹparametrovspektralʹnoiplotnostiflikkeršumasosobennostâmivnutrenneistrukturysistemy
AT kolodiiza zvâzokparametrívspektralʹnoíŝílʹnostíflíkeršumuzosoblivostâmivnutríšnʹoístrukturisistemi
AT krukog zvâzokparametrívspektralʹnoíŝílʹnostíflíkeršumuzosoblivostâmivnutríšnʹoístrukturisistemi
AT sanockiiûv zvâzokparametrívspektralʹnoíŝílʹnostíflíkeršumuzosoblivostâmivnutríšnʹoístrukturisistemi
AT golynskiivd zvâzokparametrívspektralʹnoíŝílʹnostíflíkeršumuzosoblivostâmivnutríšnʹoístrukturisistemi
AT kolodiiaz zvâzokparametrívspektralʹnoíŝílʹnostíflíkeršumuzosoblivostâmivnutríšnʹoístrukturisistemi
AT depkopi zvâzokparametrívspektralʹnoíŝílʹnostíflíkeršumuzosoblivostâmivnutríšnʹoístrukturisistemi
AT kolodiiza associationofspectralclosenessofflickernoiseparameterswithfeaturesofunderlyingstructureofsystem
AT krukog associationofspectralclosenessofflickernoiseparameterswithfeaturesofunderlyingstructureofsystem
AT sanockiiûv associationofspectralclosenessofflickernoiseparameterswithfeaturesofunderlyingstructureofsystem
AT golynskiivd associationofspectralclosenessofflickernoiseparameterswithfeaturesofunderlyingstructureofsystem
AT kolodiiaz associationofspectralclosenessofflickernoiseparameterswithfeaturesofunderlyingstructureofsystem
AT depkopi associationofspectralclosenessofflickernoiseparameterswithfeaturesofunderlyingstructureofsystem