Расчет нормальных допусков с учетом отклонений коэффициентов внешних воздействий

Разработан метод назначения номинальных допусков при нормальном законе распределения параметров элементов и заданных внешних воздействиях. Розглядаються особливості формування еліпсоїдних допускових областей при заданих відхиленнях коефіцієнтів зовнішніх дій. Розроблені методи призначення допусків п...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Datum:2009
Hauptverfasser: Шило, Г.Н., Коваленко, Д.А., Гапоненко, Н.П.
Format: Artikel
Sprache:Russian
Veröffentlicht: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2009
Schlagworte:
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52021
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Расчет нормальных допусков с учетом отклонений коэффициентов внешних воздействий / Г.Н. Шило, Д.А. Коваленко, Н.П. Гапоненко // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2009. — № 1. — С. 15-18. — Бібліогр.: 14 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Beschreibung
Zusammenfassung:Разработан метод назначения номинальных допусков при нормальном законе распределения параметров элементов и заданных внешних воздействиях. Розглядаються особливості формування еліпсоїдних допускових областей при заданих відхиленнях коефіцієнтів зовнішніх дій. Розроблені методи призначення допусків при нормальному законі розподілу основних параметрів елементів і коефіцієнтів зовнішніх чинників. Використовується метод відображень. Peculiarities of ellipsoidal tolerance regions forming under given deviations of external actions coefficients are being considered. Methods of tolerances assignment under the normal distribution law of key parameters and external factors coefficients have been developed. Mapping method is being used.
ISSN:2225-5818