СБИС для микроэлектронного координатно-чувствительного детектора приборов элементного анализа материалов

СБИС для микроэлектронного координатно-чувствительного детектора приборов элементного анализа материалов

Разработана СБИС, обеспечивающая одновременный анализ всех входящих в состав вещества элементов с высокой чувствительностью и точностью. Ее применение позволяет значительно снизить массу, габариты и энергопотребление детектора. Розроблено НВІС, яка забезпечує одночасний аналіз всіх елементів, що уві...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Дата:2009
Автори: Сидоренко, В.П., Вербицкий, В.Г., Прокофьев, Ю.В., Кизяк, А.Ю., Николаенко, Ю.Е.
Формат: Стаття
Мова:Russian
Опубліковано: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2009
Теми:
Функциональная микро- и наноэлектроника
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52041
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:СБИС для микроэлектронного координатно-чувствительного детектора приборов элементного анализа материалов / В.П. Сидоренко, В.Г. Вербицкий, Ю.В. Прокофьев, А.Ю. Кизяк, Ю.Е. Николаенко // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2009. — № 2. — С. 25-29. — Бібліогр.: 2 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-52041
record_format dspace
spelling Сидоренко, В.П.
Вербицкий, В.Г.
Прокофьев, Ю.В.
Кизяк, А.Ю.
Николаенко, Ю.Е.
2013-12-26T00:19:31Z
2013-12-26T00:19:31Z
2009
СБИС для микроэлектронного координатно-чувствительного детектора приборов элементного анализа материалов / В.П. Сидоренко, В.Г. Вербицкий, Ю.В. Прокофьев, А.Ю. Кизяк, Ю.Е. Николаенко // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2009. — № 2. — С. 25-29. — Бібліогр.: 2 назв. — рос.
2225-5818
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52041
Разработана СБИС, обеспечивающая одновременный анализ всех входящих в состав вещества элементов с высокой чувствительностью и точностью. Ее применение позволяет значительно снизить массу, габариты и энергопотребление детектора.
Розроблено НВІС, яка забезпечує одночасний аналіз всіх елементів, що увіходять до складу речовини, з високою чутливістю та точністю. НВІС має в своєму складі 384 детектори з кроком 25 мкм. Застосування мікросхеми дозволяє суттєво знизити вагу, розміри, споживану потужність детектора, зменшити час аналізу та витрати матеріалу, що досліджується.
VLSI which provides the simultaneous analysis of all composition of substance with a high sensitivity and precision has been developed. VLSI contains 384 detectors with a spatial resolution 25 microns. Application of the microcircuit allows essential lowering of the weight, size and power consumption of the detector, reducing the period of analysis and the expenditure of the material which is investigated.
ru
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Функциональная микро- и наноэлектроника
СБИС для микроэлектронного координатно-чувствительного детектора приборов элементного анализа материалов
НВІС для мікроелектронного координатно-чутливого детектора приладів для елементного аналізу матеріалів
VLSI for microelectronic coordinate-sensitive detector of the devices for element analysis of substance
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title СБИС для микроэлектронного координатно-чувствительного детектора приборов элементного анализа материалов
spellingShingle СБИС для микроэлектронного координатно-чувствительного детектора приборов элементного анализа материалов
Сидоренко, В.П.
Вербицкий, В.Г.
Прокофьев, Ю.В.
Кизяк, А.Ю.
Николаенко, Ю.Е.
Функциональная микро- и наноэлектроника
title_short СБИС для микроэлектронного координатно-чувствительного детектора приборов элементного анализа материалов
title_full СБИС для микроэлектронного координатно-чувствительного детектора приборов элементного анализа материалов
title_fullStr СБИС для микроэлектронного координатно-чувствительного детектора приборов элементного анализа материалов
title_full_unstemmed СБИС для микроэлектронного координатно-чувствительного детектора приборов элементного анализа материалов
title_sort сбис для микроэлектронного координатно-чувствительного детектора приборов элементного анализа материалов
author Сидоренко, В.П.
Вербицкий, В.Г.
Прокофьев, Ю.В.
Кизяк, А.Ю.
Николаенко, Ю.Е.
author_facet Сидоренко, В.П.
Вербицкий, В.Г.
Прокофьев, Ю.В.
Кизяк, А.Ю.
Николаенко, Ю.Е.
topic Функциональная микро- и наноэлектроника
topic_facet Функциональная микро- и наноэлектроника
publishDate 2009
language Russian
container_title Технология и конструирование в электронной аппаратуре
publisher Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
format Article
title_alt НВІС для мікроелектронного координатно-чутливого детектора приладів для елементного аналізу матеріалів
VLSI for microelectronic coordinate-sensitive detector of the devices for element analysis of substance
description Разработана СБИС, обеспечивающая одновременный анализ всех входящих в состав вещества элементов с высокой чувствительностью и точностью. Ее применение позволяет значительно снизить массу, габариты и энергопотребление детектора. Розроблено НВІС, яка забезпечує одночасний аналіз всіх елементів, що увіходять до складу речовини, з високою чутливістю та точністю. НВІС має в своєму складі 384 детектори з кроком 25 мкм. Застосування мікросхеми дозволяє суттєво знизити вагу, розміри, споживану потужність детектора, зменшити час аналізу та витрати матеріалу, що досліджується. VLSI which provides the simultaneous analysis of all composition of substance with a high sensitivity and precision has been developed. VLSI contains 384 detectors with a spatial resolution 25 microns. Application of the microcircuit allows essential lowering of the weight, size and power consumption of the detector, reducing the period of analysis and the expenditure of the material which is investigated.
issn 2225-5818
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52041
citation_txt СБИС для микроэлектронного координатно-чувствительного детектора приборов элементного анализа материалов / В.П. Сидоренко, В.Г. Вербицкий, Ю.В. Прокофьев, А.Ю. Кизяк, Ю.Е. Николаенко // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2009. — № 2. — С. 25-29. — Бібліогр.: 2 назв. — рос.
work_keys_str_mv AT sidorenkovp sbisdlâmikroélektronnogokoordinatnočuvstvitelʹnogodetektorapriborovélementnogoanalizamaterialov
AT verbickiivg sbisdlâmikroélektronnogokoordinatnočuvstvitelʹnogodetektorapriborovélementnogoanalizamaterialov
AT prokofʹevûv sbisdlâmikroélektronnogokoordinatnočuvstvitelʹnogodetektorapriborovélementnogoanalizamaterialov
AT kizâkaû sbisdlâmikroélektronnogokoordinatnočuvstvitelʹnogodetektorapriborovélementnogoanalizamaterialov
AT nikolaenkoûe sbisdlâmikroélektronnogokoordinatnočuvstvitelʹnogodetektorapriborovélementnogoanalizamaterialov
AT sidorenkovp nvísdlâmíkroelektronnogokoordinatnočutlivogodetektorapriladívdlâelementnogoanalízumateríalív
AT verbickiivg nvísdlâmíkroelektronnogokoordinatnočutlivogodetektorapriladívdlâelementnogoanalízumateríalív
AT prokofʹevûv nvísdlâmíkroelektronnogokoordinatnočutlivogodetektorapriladívdlâelementnogoanalízumateríalív
AT kizâkaû nvísdlâmíkroelektronnogokoordinatnočutlivogodetektorapriladívdlâelementnogoanalízumateríalív
AT nikolaenkoûe nvísdlâmíkroelektronnogokoordinatnočutlivogodetektorapriladívdlâelementnogoanalízumateríalív
AT sidorenkovp vlsiformicroelectroniccoordinatesensitivedetectorofthedevicesforelementanalysisofsubstance
AT verbickiivg vlsiformicroelectroniccoordinatesensitivedetectorofthedevicesforelementanalysisofsubstance
AT prokofʹevûv vlsiformicroelectroniccoordinatesensitivedetectorofthedevicesforelementanalysisofsubstance
AT kizâkaû vlsiformicroelectroniccoordinatesensitivedetectorofthedevicesforelementanalysisofsubstance
AT nikolaenkoûe vlsiformicroelectroniccoordinatesensitivedetectorofthedevicesforelementanalysisofsubstance
first_indexed 2025-12-07T20:09:59Z
last_indexed 2025-12-07T20:09:59Z
_version_ 1850881552217538560

Схожі ресурси