СБИС для микроэлектронного координатно-чувствительного детектора приборов элементного анализа материалов

Разработана СБИС, обеспечивающая одновременный анализ всех входящих в состав вещества элементов с высокой чувствительностью и точностью. Ее применение позволяет значительно снизить массу, габариты и энергопотребление детектора. Розроблено НВІС, яка забезпечує одночасний аналіз всіх елементів, що уві...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Published in:Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Date:2009
Main Authors: Сидоренко, В.П., Вербицкий, В.Г., Прокофьев, Ю.В., Кизяк, А.Ю., Николаенко, Ю.Е.
Format: Article
Language:Russian
Published: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2009
Subjects:
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52041
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:СБИС для микроэлектронного координатно-чувствительного детектора приборов элементного анализа материалов / В.П. Сидоренко, В.Г. Вербицкий, Ю.В. Прокофьев, А.Ю. Кизяк, Ю.Е. Николаенко // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2009. — № 2. — С. 25-29. — Бібліогр.: 2 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
_version_ 1862739666703220736
author Сидоренко, В.П.
Вербицкий, В.Г.
Прокофьев, Ю.В.
Кизяк, А.Ю.
Николаенко, Ю.Е.
author_facet Сидоренко, В.П.
Вербицкий, В.Г.
Прокофьев, Ю.В.
Кизяк, А.Ю.
Николаенко, Ю.Е.
citation_txt СБИС для микроэлектронного координатно-чувствительного детектора приборов элементного анализа материалов / В.П. Сидоренко, В.Г. Вербицкий, Ю.В. Прокофьев, А.Ю. Кизяк, Ю.Е. Николаенко // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2009. — № 2. — С. 25-29. — Бібліогр.: 2 назв. — рос.
collection DSpace DC
container_title Технология и конструирование в электронной аппаратуре
description Разработана СБИС, обеспечивающая одновременный анализ всех входящих в состав вещества элементов с высокой чувствительностью и точностью. Ее применение позволяет значительно снизить массу, габариты и энергопотребление детектора. Розроблено НВІС, яка забезпечує одночасний аналіз всіх елементів, що увіходять до складу речовини, з високою чутливістю та точністю. НВІС має в своєму складі 384 детектори з кроком 25 мкм. Застосування мікросхеми дозволяє суттєво знизити вагу, розміри, споживану потужність детектора, зменшити час аналізу та витрати матеріалу, що досліджується. VLSI which provides the simultaneous analysis of all composition of substance with a high sensitivity and precision has been developed. VLSI contains 384 detectors with a spatial resolution 25 microns. Application of the microcircuit allows essential lowering of the weight, size and power consumption of the detector, reducing the period of analysis and the expenditure of the material which is investigated.
first_indexed 2025-12-07T20:09:59Z
format Article
fulltext
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-52041
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
issn 2225-5818
language Russian
last_indexed 2025-12-07T20:09:59Z
publishDate 2009
publisher Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
record_format dspace
spelling Сидоренко, В.П.
Вербицкий, В.Г.
Прокофьев, Ю.В.
Кизяк, А.Ю.
Николаенко, Ю.Е.
2013-12-26T00:19:31Z
2013-12-26T00:19:31Z
2009
СБИС для микроэлектронного координатно-чувствительного детектора приборов элементного анализа материалов / В.П. Сидоренко, В.Г. Вербицкий, Ю.В. Прокофьев, А.Ю. Кизяк, Ю.Е. Николаенко // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2009. — № 2. — С. 25-29. — Бібліогр.: 2 назв. — рос.
2225-5818
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52041
Разработана СБИС, обеспечивающая одновременный анализ всех входящих в состав вещества элементов с высокой чувствительностью и точностью. Ее применение позволяет значительно снизить массу, габариты и энергопотребление детектора.
Розроблено НВІС, яка забезпечує одночасний аналіз всіх елементів, що увіходять до складу речовини, з високою чутливістю та точністю. НВІС має в своєму складі 384 детектори з кроком 25 мкм. Застосування мікросхеми дозволяє суттєво знизити вагу, розміри, споживану потужність детектора, зменшити час аналізу та витрати матеріалу, що досліджується.
VLSI which provides the simultaneous analysis of all composition of substance with a high sensitivity and precision has been developed. VLSI contains 384 detectors with a spatial resolution 25 microns. Application of the microcircuit allows essential lowering of the weight, size and power consumption of the detector, reducing the period of analysis and the expenditure of the material which is investigated.
ru
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Функциональная микро- и наноэлектроника
СБИС для микроэлектронного координатно-чувствительного детектора приборов элементного анализа материалов
НВІС для мікроелектронного координатно-чутливого детектора приладів для елементного аналізу матеріалів
VLSI for microelectronic coordinate-sensitive detector of the devices for element analysis of substance
Article
published earlier
spellingShingle СБИС для микроэлектронного координатно-чувствительного детектора приборов элементного анализа материалов
Сидоренко, В.П.
Вербицкий, В.Г.
Прокофьев, Ю.В.
Кизяк, А.Ю.
Николаенко, Ю.Е.
Функциональная микро- и наноэлектроника
title СБИС для микроэлектронного координатно-чувствительного детектора приборов элементного анализа материалов
title_alt НВІС для мікроелектронного координатно-чутливого детектора приладів для елементного аналізу матеріалів
VLSI for microelectronic coordinate-sensitive detector of the devices for element analysis of substance
title_full СБИС для микроэлектронного координатно-чувствительного детектора приборов элементного анализа материалов
title_fullStr СБИС для микроэлектронного координатно-чувствительного детектора приборов элементного анализа материалов
title_full_unstemmed СБИС для микроэлектронного координатно-чувствительного детектора приборов элементного анализа материалов
title_short СБИС для микроэлектронного координатно-чувствительного детектора приборов элементного анализа материалов
title_sort сбис для микроэлектронного координатно-чувствительного детектора приборов элементного анализа материалов
topic Функциональная микро- и наноэлектроника
topic_facet Функциональная микро- и наноэлектроника
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52041
work_keys_str_mv AT sidorenkovp sbisdlâmikroélektronnogokoordinatnočuvstvitelʹnogodetektorapriborovélementnogoanalizamaterialov
AT verbickiivg sbisdlâmikroélektronnogokoordinatnočuvstvitelʹnogodetektorapriborovélementnogoanalizamaterialov
AT prokofʹevûv sbisdlâmikroélektronnogokoordinatnočuvstvitelʹnogodetektorapriborovélementnogoanalizamaterialov
AT kizâkaû sbisdlâmikroélektronnogokoordinatnočuvstvitelʹnogodetektorapriborovélementnogoanalizamaterialov
AT nikolaenkoûe sbisdlâmikroélektronnogokoordinatnočuvstvitelʹnogodetektorapriborovélementnogoanalizamaterialov
AT sidorenkovp nvísdlâmíkroelektronnogokoordinatnočutlivogodetektorapriladívdlâelementnogoanalízumateríalív
AT verbickiivg nvísdlâmíkroelektronnogokoordinatnočutlivogodetektorapriladívdlâelementnogoanalízumateríalív
AT prokofʹevûv nvísdlâmíkroelektronnogokoordinatnočutlivogodetektorapriladívdlâelementnogoanalízumateríalív
AT kizâkaû nvísdlâmíkroelektronnogokoordinatnočutlivogodetektorapriladívdlâelementnogoanalízumateríalív
AT nikolaenkoûe nvísdlâmíkroelektronnogokoordinatnočutlivogodetektorapriladívdlâelementnogoanalízumateríalív
AT sidorenkovp vlsiformicroelectroniccoordinatesensitivedetectorofthedevicesforelementanalysisofsubstance
AT verbickiivg vlsiformicroelectroniccoordinatesensitivedetectorofthedevicesforelementanalysisofsubstance
AT prokofʹevûv vlsiformicroelectroniccoordinatesensitivedetectorofthedevicesforelementanalysisofsubstance
AT kizâkaû vlsiformicroelectroniccoordinatesensitivedetectorofthedevicesforelementanalysisofsubstance
AT nikolaenkoûe vlsiformicroelectroniccoordinatesensitivedetectorofthedevicesforelementanalysisofsubstance