Оценка параметров компонентов моноармированой стеклокерамики со стеклокристаллической матрицей
Приведены методики оценки объемных долей и диэлектрической проницаемости стекла, кристаллической фазы и наполнителя, реализуемых в стеклокерамике при разных режимах спекания. Приведено методики оцінки об'ємних часток і діелектричної проникності скла, кристалічної фази і наповнювача, що реалізов...
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
|---|---|
| Дата: | 2009 |
| Автори: | , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Російська |
| Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2009
|
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52047 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Оценка параметров компонентов моноармированой стеклокерамики со стеклокристаллической матрицей / М.В. Дмитриев, И.Н. Еримичой, Л.И. Панов // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2009. — № 2. — С. 51-57. — Бібліогр.: 23 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862600767039340544 |
|---|---|
| author | Дмитриев, М.В. Еримичой, И.Н. Панов, Л.И. |
| author_facet | Дмитриев, М.В. Еримичой, И.Н. Панов, Л.И. |
| citation_txt | Оценка параметров компонентов моноармированой стеклокерамики со стеклокристаллической матрицей / М.В. Дмитриев, И.Н. Еримичой, Л.И. Панов // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2009. — № 2. — С. 51-57. — Бібліогр.: 23 назв. — рос. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| description | Приведены методики оценки объемных долей и диэлектрической проницаемости стекла, кристаллической фазы и наполнителя, реализуемых в стеклокерамике при разных режимах спекания.
Приведено методики оцінки об'ємних часток і діелектричної проникності скла, кристалічної фази і наповнювача, що реалізовуються в склокераміці при різних режимах спікання, що дозволяє прогнозувати частку кристалічної фази і оцінювати вплив умов спікання на ефективність кристалоутворення.
This article deals with methods of estimation of volumetric parts and dielectric permittivity of glass, crystalline phase and filler which are realizable in glass-ceramics at different sintering regimes. It allows to predict the part of crystalline phase and estimate the influence of sintering conditions on efficiency of crystal formation.
|
| first_indexed | 2025-11-28T00:38:55Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-52047 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 2225-5818 |
| language | Russian |
| last_indexed | 2025-11-28T00:38:55Z |
| publishDate | 2009 |
| publisher | Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Дмитриев, М.В. Еримичой, И.Н. Панов, Л.И. 2013-12-26T00:46:54Z 2013-12-26T00:46:54Z 2009 Оценка параметров компонентов моноармированой стеклокерамики со стеклокристаллической матрицей / М.В. Дмитриев, И.Н. Еримичой, Л.И. Панов // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2009. — № 2. — С. 51-57. — Бібліогр.: 23 назв. — рос. 2225-5818 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52047 Приведены методики оценки объемных долей и диэлектрической проницаемости стекла, кристаллической фазы и наполнителя, реализуемых в стеклокерамике при разных режимах спекания. Приведено методики оцінки об'ємних часток і діелектричної проникності скла, кристалічної фази і наповнювача, що реалізовуються в склокераміці при різних режимах спікання, що дозволяє прогнозувати частку кристалічної фази і оцінювати вплив умов спікання на ефективність кристалоутворення. This article deals with methods of estimation of volumetric parts and dielectric permittivity of glass, crystalline phase and filler which are realizable in glass-ceramics at different sintering regimes. It allows to predict the part of crystalline phase and estimate the influence of sintering conditions on efficiency of crystal formation. ru Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України Технология и конструирование в электронной аппаратуре Материалы электроники Оценка параметров компонентов моноармированой стеклокерамики со стеклокристаллической матрицей Оцінка параметрів компонентів моноармованої склокераміки із склокристалічною матрицею Estimation of the components of monoreinforced glass-ceramics with glass-crystalline matrix Article published earlier |
| spellingShingle | Оценка параметров компонентов моноармированой стеклокерамики со стеклокристаллической матрицей Дмитриев, М.В. Еримичой, И.Н. Панов, Л.И. Материалы электроники |
| title | Оценка параметров компонентов моноармированой стеклокерамики со стеклокристаллической матрицей |
| title_alt | Оцінка параметрів компонентів моноармованої склокераміки із склокристалічною матрицею Estimation of the components of monoreinforced glass-ceramics with glass-crystalline matrix |
| title_full | Оценка параметров компонентов моноармированой стеклокерамики со стеклокристаллической матрицей |
| title_fullStr | Оценка параметров компонентов моноармированой стеклокерамики со стеклокристаллической матрицей |
| title_full_unstemmed | Оценка параметров компонентов моноармированой стеклокерамики со стеклокристаллической матрицей |
| title_short | Оценка параметров компонентов моноармированой стеклокерамики со стеклокристаллической матрицей |
| title_sort | оценка параметров компонентов моноармированой стеклокерамики со стеклокристаллической матрицей |
| topic | Материалы электроники |
| topic_facet | Материалы электроники |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52047 |
| work_keys_str_mv | AT dmitrievmv ocenkaparametrovkomponentovmonoarmirovanoisteklokeramikisosteklokristalličeskoimatricei AT erimičoiin ocenkaparametrovkomponentovmonoarmirovanoisteklokeramikisosteklokristalličeskoimatricei AT panovli ocenkaparametrovkomponentovmonoarmirovanoisteklokeramikisosteklokristalličeskoimatricei AT dmitrievmv ocínkaparametrívkomponentívmonoarmovanoísklokeramíkiízsklokristalíčnoûmatriceû AT erimičoiin ocínkaparametrívkomponentívmonoarmovanoísklokeramíkiízsklokristalíčnoûmatriceû AT panovli ocínkaparametrívkomponentívmonoarmovanoísklokeramíkiízsklokristalíčnoûmatriceû AT dmitrievmv estimationofthecomponentsofmonoreinforcedglassceramicswithglasscrystallinematrix AT erimičoiin estimationofthecomponentsofmonoreinforcedglassceramicswithglasscrystallinematrix AT panovli estimationofthecomponentsofmonoreinforcedglassceramicswithglasscrystallinematrix |