Оценка параметров компонентов моноармированой стеклокерамики со стеклокристаллической матрицей

• Published in: Технология и конструирование в электронной аппаратуре
• Date: 2009
• Main Authors: Дмитриев, М.В., Еримичой, И.Н., Панов, Л.И.
• Format: Article
• Language: Russian
• Published: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2009
• Subjects: Материалы электроники
• Online Access: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52047
• Journal Title: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Cite this: Оценка параметров компонентов моноармированой стеклокерамики со стеклокристаллической матрицей / М.В. Дмитриев, И.Н. Еримичой, Л.И. Панов // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2009. — № 2. — С. 51-57. — Бібліогр.: 23 назв. — рос.

Приведены методики оценки объемных долей и диэлектрической проницаемости стекла, кристаллической фазы и наполнителя, реализуемых в стеклокерамике при разных режимах спекания. Приведено методики оцінки об'ємних часток і діелектричної проникності скла, кристалічної фази і наповнювача, що реалізов...