Прибор и методы измерения параметров и степени однородности пленочных структур
Разработана блок-схема, изготовлен макет прибора и создан пакет автоматизированных программ для измерения показателя преломления и контроля толщины пленок в процессе изготовления пленочных структур. У роботі проведено конструкторсько-технологічний аналіз схеми вимірювання еліпсометричних параметрів,...
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
|---|---|
| Datum: | 2009 |
| Hauptverfasser: | , , , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Russisch |
| Veröffentlicht: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2009
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52063 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Прибор и методы измерения параметров и степени однородности пленочных структур / В.А. Макара, В.А. Одарич, Т.Ю. Кепич, Т.Д. Преображенская, О.В. Руденко // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2009. — № 3. — С. 40-46. — Бібліогр.: 12 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862715498225991680 |
|---|---|
| author | Макара, В.А. Одарич, В.А. Кепич, Т.Ю. Преображенская, Т.Д. Руденко, О.В. |
| author_facet | Макара, В.А. Одарич, В.А. Кепич, Т.Ю. Преображенская, Т.Д. Руденко, О.В. |
| citation_txt | Прибор и методы измерения параметров и степени однородности пленочных структур / В.А. Макара, В.А. Одарич, Т.Ю. Кепич, Т.Д. Преображенская, О.В. Руденко // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2009. — № 3. — С. 40-46. — Бібліогр.: 12 назв. — рос. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| description | Разработана блок-схема, изготовлен макет прибора и создан пакет автоматизированных программ для измерения показателя преломления и контроля толщины пленок в процессе изготовления пленочных структур.
У роботі проведено конструкторсько-технологічний аналіз схеми вимірювання еліпсометричних параметрів, розрахунку показника заломлення і товщини плівки, розроблено блок-схему і створено макет приладу для контролю однорідності плівкових структур в процесі їх виготовлення. Розроблено пакет автоматизованих програм обчислення показника заломлення і товщини плівок по зміряних еліпсометричних параметрах, які засновані на ітераційному методі вирішення рівняння еліпсометрії. Проведено апробацію приладу на прикладі визначення показника заломлення і товщини плівок CdTe і плівок HfO₂, яка показала можливість контролю однорідностіплівок як за площею, так і по товщині.·
The designer-technological analysis of ellipsometric parameters measuring and calculation of the film refraction index and thickness scheme is conducted in this article. The flow-chart is developed and the model of apparatus for the film refraction index and thickness measuring and control of the film structures technology making is created. Package of automated programs of the film refraction index and thicknes calculating on the measured ellipsometric parameters, based on the iteration method of decision of ellipsometry equation was developed. The approbation of device, which showed the checking feature of films homogeneity both on an area and on a thickness on the example of determination of CdTe and HfO₂ films refraction index and thickness is conducted.
|
| first_indexed | 2025-12-07T17:58:21Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-52063 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 2225-5818 |
| language | Russian |
| last_indexed | 2025-12-07T17:58:21Z |
| publishDate | 2009 |
| publisher | Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Макара, В.А. Одарич, В.А. Кепич, Т.Ю. Преображенская, Т.Д. Руденко, О.В. 2013-12-27T00:02:37Z 2013-12-27T00:02:37Z 2009 Прибор и методы измерения параметров и степени однородности пленочных структур / В.А. Макара, В.А. Одарич, Т.Ю. Кепич, Т.Д. Преображенская, О.В. Руденко // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2009. — № 3. — С. 40-46. — Бібліогр.: 12 назв. — рос. 2225-5818 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52063 Разработана блок-схема, изготовлен макет прибора и создан пакет автоматизированных программ для измерения показателя преломления и контроля толщины пленок в процессе изготовления пленочных структур. У роботі проведено конструкторсько-технологічний аналіз схеми вимірювання еліпсометричних параметрів, розрахунку показника заломлення і товщини плівки, розроблено блок-схему і створено макет приладу для контролю однорідності плівкових структур в процесі їх виготовлення. Розроблено пакет автоматизованих програм обчислення показника заломлення і товщини плівок по зміряних еліпсометричних параметрах, які засновані на ітераційному методі вирішення рівняння еліпсометрії. Проведено апробацію приладу на прикладі визначення показника заломлення і товщини плівок CdTe і плівок HfO₂, яка показала можливість контролю однорідностіплівок як за площею, так і по товщині.· The designer-technological analysis of ellipsometric parameters measuring and calculation of the film refraction index and thickness scheme is conducted in this article. The flow-chart is developed and the model of apparatus for the film refraction index and thickness measuring and control of the film structures technology making is created. Package of automated programs of the film refraction index and thicknes calculating on the measured ellipsometric parameters, based on the iteration method of decision of ellipsometry equation was developed. The approbation of device, which showed the checking feature of films homogeneity both on an area and on a thickness on the example of determination of CdTe and HfO₂ films refraction index and thickness is conducted. ru Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України Технология и конструирование в электронной аппаратуре Технологические процессы и оборудование Прибор и методы измерения параметров и степени однородности пленочных структур Прилад і методи вимірювання параметрів і ступеню однорідності плівкових структур Apparatus and methods for measuring of the film structures homogeneity degree Article published earlier |
| spellingShingle | Прибор и методы измерения параметров и степени однородности пленочных структур Макара, В.А. Одарич, В.А. Кепич, Т.Ю. Преображенская, Т.Д. Руденко, О.В. Технологические процессы и оборудование |
| title | Прибор и методы измерения параметров и степени однородности пленочных структур |
| title_alt | Прилад і методи вимірювання параметрів і ступеню однорідності плівкових структур Apparatus and methods for measuring of the film structures homogeneity degree |
| title_full | Прибор и методы измерения параметров и степени однородности пленочных структур |
| title_fullStr | Прибор и методы измерения параметров и степени однородности пленочных структур |
| title_full_unstemmed | Прибор и методы измерения параметров и степени однородности пленочных структур |
| title_short | Прибор и методы измерения параметров и степени однородности пленочных структур |
| title_sort | прибор и методы измерения параметров и степени однородности пленочных структур |
| topic | Технологические процессы и оборудование |
| topic_facet | Технологические процессы и оборудование |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52063 |
| work_keys_str_mv | AT makarava priborimetodyizmereniâparametrovistepeniodnorodnostiplenočnyhstruktur AT odaričva priborimetodyizmereniâparametrovistepeniodnorodnostiplenočnyhstruktur AT kepičtû priborimetodyizmereniâparametrovistepeniodnorodnostiplenočnyhstruktur AT preobraženskaâtd priborimetodyizmereniâparametrovistepeniodnorodnostiplenočnyhstruktur AT rudenkoov priborimetodyizmereniâparametrovistepeniodnorodnostiplenočnyhstruktur AT makarava priladímetodivimírûvannâparametrívístupenûodnorídnostíplívkovihstruktur AT odaričva priladímetodivimírûvannâparametrívístupenûodnorídnostíplívkovihstruktur AT kepičtû priladímetodivimírûvannâparametrívístupenûodnorídnostíplívkovihstruktur AT preobraženskaâtd priladímetodivimírûvannâparametrívístupenûodnorídnostíplívkovihstruktur AT rudenkoov priladímetodivimírûvannâparametrívístupenûodnorídnostíplívkovihstruktur AT makarava apparatusandmethodsformeasuringofthefilmstructureshomogeneitydegree AT odaričva apparatusandmethodsformeasuringofthefilmstructureshomogeneitydegree AT kepičtû apparatusandmethodsformeasuringofthefilmstructureshomogeneitydegree AT preobraženskaâtd apparatusandmethodsformeasuringofthefilmstructureshomogeneitydegree AT rudenkoov apparatusandmethodsformeasuringofthefilmstructureshomogeneitydegree |