Buchumschlag

Прогнозирование параметров стеклокерамики со стеклокристаллической матрицей для разных соотношений компонентов и режимов спекания

Представлены способы прогнозирования диэлектрической проницаемости стеклокерамики и ее компонентов и их долей для разных соотношений стекла, наполнителя и кристаллической фазы при разной температуре и длительности спекания. Представлено способи прогнозування діелектричної проникності склокераміки і...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Datum:	2009
Hauptverfasser:	Дмитриев, М.В., Еримичой, И.Н., Панов, Л.И.
Format:	Artikel
Sprache:	Russisch
Veröffentlicht:	Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2009
Schlagworte:	Материалы электроники
Online Zugang:	https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52064
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:	Прогнозирование параметров стеклокерамики со стеклокристаллической матрицей для разных соотношений компонентов и режимов спекания / М.В. Дмитриев, И.Н. Еримичой, Л.И. Панов // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2009. — № 3. — С. 47-50. — Бібліогр.: 11 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

Ähnliche Einträge

Оценка параметров компонентов моноармированой стеклокерамики со стеклокристаллической матрицей
von: Дмитриев, М.В., et al.
Veröffentlicht: (2009)

Прогнозирование параметров стеклокерамики со стеклокристаллической матрицей для разных соотношений компонентов и режимов спекания
von: Dmitriev, M. V., et al.
Veröffentlicht: (2009)

Оценка параметров компонентов моноармированой стеклокерамики со стеклокристаллической матрицей
von: Dmitriev, M. V., et al.
Veröffentlicht: (2009)

Зависимость диэлектрической проницаемости кристаллизующейся фазы стеклокерамики от времени спекания
von: Дмитриев, М.В., et al.
Veröffentlicht: (2010)

Прогноз диэлектрических потерь в стеклокерамике для разных соотношений массовых долей компонентов
von: Дмитриев, М.В., et al.
Veröffentlicht: (2012)

Прогнозирование диэлектрических свойств некристаллизующейся моноармированной полиматричной стеклокерамики
von: Дмитриев, М.В., et al.
Veröffentlicht: (2008)

Влияние режимов спекания на параметры стеклокерамики с кристаллизуемым стеклом
von: Дмитриев, М.В.
Veröffentlicht: (2000)

Влияние термозависимых превращений в стекле композиционной стеклокерамики на ее диэлектрическую проницаемость
von: Дмитриев, М.В.
Veröffentlicht: (2000)

Степенная связь параметров композиционного материала и его компонентов
von: Дмитриев, М.В.
Veröffentlicht: (2002)

Способ определения доли кристаллов в стеклокерамическом диэлектрике
von: Дмитриев, М.В., et al.
Veröffentlicht: (2009)

Влияние концентрации компонентов и пор на электросопротивление стеклокерамики
von: Дмитриев, М.В.
Veröffentlicht: (1998)

Зависимость диэлектрической проницаемости кристаллизующейся фазы стеклокерамики от времени спекания
von: Dmitriyev, M. V., et al.
Veröffentlicht: (2010)

Прогноз диэлектрических потерь в стеклокерамике для разных соотношений массовых долей компонентов
von: Dmitriev, M. V., et al.
Veröffentlicht: (2012)

Прогнозирование диэлектрических свойств некристаллизующейся моноармированной полиматричной стеклокерамики
von: Dmitriev, M. V., et al.
Veröffentlicht: (2008)

Способы прогнозирования параметров стеклокерамики с межфазным слоем
von: Дмитриев, М.В.
Veröffentlicht: (2001)

Исследование воспроизводимости электрофизических параметров толстопленочных структур "RuO₂-стекло"
von: Курмашев, Ш.Д., et al.
Veröffentlicht: (2005)

Прогнозирование предела текучести и усадки под давлением алмазосодержащего композита с пористой матрицей
von: Кущ, В.И., et al.
Veröffentlicht: (2009)

Методика определения параметров структурной и кластерной моделей толстых резистивных пленок
von: Стерхова, А.В., et al.
Veröffentlicht: (2001)

Выбор оптимальных соотношений компонентов дезактивирующего раствора с помощью математического моделирования
von: Иванец, В.Г.
Veröffentlicht: (2011)

Моделирование тепловых режимов активных компонентов электронных модулей
von: Kondrashenkov, I. S.
Veröffentlicht: (2006)

Влияние морфологии поверхности подложек ZnSe:Te на их оптические свойства
von: Махний, В.П., et al.
Veröffentlicht: (2016)

Зависимость свойств толстопленочных терморезисторов от состава базовой шпинели
von: Гадзаман, И.В., et al.
Veröffentlicht: (2005)

Получение пригодного для сенсорики пористого кремния методом неэлектролитического травления MacEtch
von: Яцунский, И.Р.
Veröffentlicht: (2013)

Выращивание крупногабаритных монокристаллов вольфрамата кадмия с высокой оптической однородностью
von: Сольский, И.М.
Veröffentlicht: (2005)

Фотолюминесцентный метод исследования пластической деформации на границе раздела «SiO₂—Si»
von: Кулинич, О.А., et al.
Veröffentlicht: (2012)

Исследование свойств пленок нитрида и оксида кремния, полученных методом плазмохимического осаждения на кремниевую подложку
von: Рубцевич, И.И., et al.
Veröffentlicht: (2011)

Использование керамики на основе твердых растворов (Ni, Co, Mn, Cu)₃O₄для толстопленочных терморезисторов
von: Шпотюк, О.И., et al.
Veröffentlicht: (2002)

Влияние примесей и структурных дефектов на электрофизические и детекторные свойства CdTe и CdZnTe
von: Кондрик, А.И., et al.
Veröffentlicht: (2019)

Температурные и концентрационные зависимости подвижности носителей заряда в твердых растворах (PbS)1–x(Sm2S3)x
von: Гасанов, Г.А., et al.
Veröffentlicht: (2008)

Влияние слоя поликристаллического кремния на механизмы токопереноса в контактах «металл — p-кремний»
von: Смынтына, В.А., et al.
Veröffentlicht: (2011)

Способ электродугового восстановления кремния
von: Соловьев, О.В., et al.
Veröffentlicht: (2005)

Получение оптически однородных монокристаллов ниобата лития больших размеров
von: Сольский, И.М., et al.
Veröffentlicht: (2005)

Диагностика глубоких центров на границе пленка–подложка в тонкопленочных эпитаксиальных структурах GaAs
von: Горев, Н.Б., et al.
Veröffentlicht: (2010)

Ректификационная очистка трихлорида мышьяка от примеси кислорода
von: Мазницкая, О.В., et al.
Veröffentlicht: (2008)

Вольт-фарадные характеристики ионно-имплантированных структур GaAs
von: Горев, Н.Б., et al.
Veröffentlicht: (2008)

Деградационные превращения в топологически разупорядоченных твердых телах: 2. Мономолекулярная модель кинетики
von: Балицкая, В.А., et al.
Veröffentlicht: (2004)

Исследование собственных и примесных точечных дефектов в сапфировых подложках люминесцентными методами
von: Блецкан, Д.И., et al.
Veröffentlicht: (2006)

Система паст "Аналог-4" расширяет возможности толстопленочной технологии
von: Пучкова, Н.С., et al.
Veröffentlicht: (2000)

Строение и высокотемпературная сверхпроводимость пленок Bi₂Sr₂CaCu₂Oy
von: Самойлович, М.И., et al.
Veröffentlicht: (2007)

Исследование процесса термической деполяризации сегнетокерамики (Pb,Sr)(Zr,Ti)O₃
von: Кузенко, Д.В., et al.
Veröffentlicht: (2011)