Метод считывания и обработки стационарных интерференционных картин

Разработан оптоэлектронный метод считывания и определения дробной доли полосы стационарных интерференционных картин, формируемых в модернизированном двухлучевом интерферометре Кестерса при поверке концевых мер длины. Оптоелектронна система зчитування дозволяє отримувати і обробляти зображення інтер...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Datum:2009
Hauptverfasser: Ильин, В.Н., Дубешко, А.В., Михаевич, Д.А.
Format: Artikel
Sprache:Russisch
Veröffentlicht: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2009
Schlagworte:
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52100
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Метод считывания и обработки стационарных интерференционных картин / В.Н. Ильин, А.В. Дубешко, Д.А. Михаевич // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2009. — № 4. — С. 59-62. — Бібліогр.: 1 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
_version_ 1862536199022837760
author Ильин, В.Н.
Дубешко, А.В.
Михаевич, Д.А.
author_facet Ильин, В.Н.
Дубешко, А.В.
Михаевич, Д.А.
citation_txt Метод считывания и обработки стационарных интерференционных картин / В.Н. Ильин, А.В. Дубешко, Д.А. Михаевич // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2009. — № 4. — С. 59-62. — Бібліогр.: 1 назв. — рос.
collection DSpace DC
container_title Технология и конструирование в электронной аппаратуре
description Разработан оптоэлектронный метод считывания и определения дробной доли полосы стационарных интерференционных картин, формируемых в модернизированном двухлучевом интерферометре Кестерса при поверке концевых мер длины. Оптоелектронна система зчитування дозволяє отримувати і обробляти зображення інтерференційної картини в інтерферометрі Кестерса в режимі реального часу і має достатню розрізнювальну здатність. Середнє квадратичне відхилення результату вимірювань складає 0,001 мкм. Загальний час, що витрачається на вимірювання і обробку результатів, скоротився з двох годин до 30 хвилин. Optoelectronic reading system allows to obtain and process the interference pattern image in the Kosters interferometer in the real-time mode and has sufficient resolution. Rms deviation of measuring result is 0,001 mm. Total time spent on measuring and analysing the results, was reduced from two hours to 30 minutes.
first_indexed 2025-11-24T10:46:49Z
format Article
fulltext
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-52100
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
issn 2225-5818
language Russian
last_indexed 2025-11-24T10:46:49Z
publishDate 2009
publisher Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
record_format dspace
spelling Ильин, В.Н.
Дубешко, А.В.
Михаевич, Д.А.
2013-12-28T00:24:18Z
2013-12-28T00:24:18Z
2009
Метод считывания и обработки стационарных интерференционных картин / В.Н. Ильин, А.В. Дубешко, Д.А. Михаевич // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2009. — № 4. — С. 59-62. — Бібліогр.: 1 назв. — рос.
2225-5818
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52100
Разработан оптоэлектронный метод считывания и определения дробной доли полосы стационарных интерференционных картин, формируемых в модернизированном двухлучевом интерферометре Кестерса при поверке концевых мер длины.
Оптоелектронна система зчитування дозволяє отримувати і обробляти зображення інтерференційної картини в інтерферометрі Кестерса в режимі реального часу і має достатню розрізнювальну здатність. Середнє квадратичне відхилення результату вимірювань складає 0,001 мкм. Загальний час, що витрачається на вимірювання і обробку результатів, скоротився з двох годин до 30 хвилин.
Optoelectronic reading system allows to obtain and process the interference pattern image in the Kosters interferometer in the real-time mode and has sufficient resolution. Rms deviation of measuring result is 0,001 mm. Total time spent on measuring and analysing the results, was reduced from two hours to 30 minutes.
ru
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Метрология. Стандартизация
Метод считывания и обработки стационарных интерференционных картин
Метод зчитування і обробки стаціонарних інтерференційних картин
Method of stationary interference patterns reading and processing
Article
published earlier
spellingShingle Метод считывания и обработки стационарных интерференционных картин
Ильин, В.Н.
Дубешко, А.В.
Михаевич, Д.А.
Метрология. Стандартизация
title Метод считывания и обработки стационарных интерференционных картин
title_alt Метод зчитування і обробки стаціонарних інтерференційних картин
Method of stationary interference patterns reading and processing
title_full Метод считывания и обработки стационарных интерференционных картин
title_fullStr Метод считывания и обработки стационарных интерференционных картин
title_full_unstemmed Метод считывания и обработки стационарных интерференционных картин
title_short Метод считывания и обработки стационарных интерференционных картин
title_sort метод считывания и обработки стационарных интерференционных картин
topic Метрология. Стандартизация
topic_facet Метрология. Стандартизация
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52100
work_keys_str_mv AT ilʹinvn metodsčityvaniâiobrabotkistacionarnyhinterferencionnyhkartin
AT dubeškoav metodsčityvaniâiobrabotkistacionarnyhinterferencionnyhkartin
AT mihaevičda metodsčityvaniâiobrabotkistacionarnyhinterferencionnyhkartin
AT ilʹinvn metodzčituvannâíobrobkistacíonarnihínterferencíinihkartin
AT dubeškoav metodzčituvannâíobrobkistacíonarnihínterferencíinihkartin
AT mihaevičda metodzčituvannâíobrobkistacíonarnihínterferencíinihkartin
AT ilʹinvn methodofstationaryinterferencepatternsreadingandprocessing
AT dubeškoav methodofstationaryinterferencepatternsreadingandprocessing
AT mihaevičda methodofstationaryinterferencepatternsreadingandprocessing