Измерения ВАХ импульсных кремниевых ЛПД на участке лавинного пробоя
Рассмотрены особенности измерения ВАХ импульсных кремниевых лавинно-пролетных диодов и использования их параметров для прогнозирования надежности ЛПДK Розглянуто аспекти вимірювань вольт-амперных характеристик імпульсних лавинно-пролітних діодів (ЛПД). Визначено основні параметри ВАХ імпульсних ЛПД:...
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
|---|---|
| Datum: | 2009 |
| 1. Verfasser: | |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Russisch |
| Veröffentlicht: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2009
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52311 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Измерения ВАХ импульсных кремниевых ЛПД на участке лавинного пробоя / Я.Я. Кудрик // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2009. — № 5. — С. 32-33. — Бібліогр.: 8 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862619989426569216 |
|---|---|
| author | Кудрик, Я.Я. |
| author_facet | Кудрик, Я.Я. |
| citation_txt | Измерения ВАХ импульсных кремниевых ЛПД на участке лавинного пробоя / Я.Я. Кудрик // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2009. — № 5. — С. 32-33. — Бібліогр.: 8 назв. — рос. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| description | Рассмотрены особенности измерения ВАХ импульсных кремниевых лавинно-пролетных диодов и использования их параметров для прогнозирования надежности ЛПДK
Розглянуто аспекти вимірювань вольт-амперных характеристик імпульсних лавинно-пролітних діодів (ЛПД). Визначено основні параметри ВАХ імпульсних ЛПД: густина критичного струму, стрибок напруги на ділянці негативного диференціального опору, напруга лавинного пробою. Приведено спосіб визначення температурного опору ділянки «p.n-перехід.корпус», необхідного для розрахунку режиму роботи ЛПД. Показано можливість використання величини ΔU для прогнозування ранніх відмов ЛПД.·
Some aspects of measurement of I-V-curves for IMPATT diodes are considered. There were determined the main parameters of the pulsed I-V-curves for IMPATT diodes: density of critical current, voltage step in the region of negative differential resistance and avalanche breakdown region. A method for determination of p-n junction-package thermal resistance that is required for calculation of IMPATT diode operating mode is given. A possibility to use ΔU magnitude for prediction of early failures of IMPATT diodes was demonstrated.
|
| first_indexed | 2025-12-07T13:20:07Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-52311 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 2225-5818 |
| language | Russian |
| last_indexed | 2025-12-07T13:20:07Z |
| publishDate | 2009 |
| publisher | Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Кудрик, Я.Я. 2013-12-29T17:18:32Z 2013-12-29T17:18:32Z 2009 Измерения ВАХ импульсных кремниевых ЛПД на участке лавинного пробоя / Я.Я. Кудрик // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2009. — № 5. — С. 32-33. — Бібліогр.: 8 назв. — рос. 2225-5818 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52311 Рассмотрены особенности измерения ВАХ импульсных кремниевых лавинно-пролетных диодов и использования их параметров для прогнозирования надежности ЛПДK Розглянуто аспекти вимірювань вольт-амперных характеристик імпульсних лавинно-пролітних діодів (ЛПД). Визначено основні параметри ВАХ імпульсних ЛПД: густина критичного струму, стрибок напруги на ділянці негативного диференціального опору, напруга лавинного пробою. Приведено спосіб визначення температурного опору ділянки «p.n-перехід.корпус», необхідного для розрахунку режиму роботи ЛПД. Показано можливість використання величини ΔU для прогнозування ранніх відмов ЛПД.· Some aspects of measurement of I-V-curves for IMPATT diodes are considered. There were determined the main parameters of the pulsed I-V-curves for IMPATT diodes: density of critical current, voltage step in the region of negative differential resistance and avalanche breakdown region. A method for determination of p-n junction-package thermal resistance that is required for calculation of IMPATT diode operating mode is given. A possibility to use ΔU magnitude for prediction of early failures of IMPATT diodes was demonstrated. ru Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України Технология и конструирование в электронной аппаратуре Функциональная микро- и наноэлектроника Измерения ВАХ импульсных кремниевых ЛПД на участке лавинного пробоя Вимірювання ВАХ імпульсних кремнієвих ЛПД наділянці лавинного пробою The measurements of pulsed I-V-curves for silicon IMPATT diodes in the avalanche breakdown region Article published earlier |
| spellingShingle | Измерения ВАХ импульсных кремниевых ЛПД на участке лавинного пробоя Кудрик, Я.Я. Функциональная микро- и наноэлектроника |
| title | Измерения ВАХ импульсных кремниевых ЛПД на участке лавинного пробоя |
| title_alt | Вимірювання ВАХ імпульсних кремнієвих ЛПД наділянці лавинного пробою The measurements of pulsed I-V-curves for silicon IMPATT diodes in the avalanche breakdown region |
| title_full | Измерения ВАХ импульсных кремниевых ЛПД на участке лавинного пробоя |
| title_fullStr | Измерения ВАХ импульсных кремниевых ЛПД на участке лавинного пробоя |
| title_full_unstemmed | Измерения ВАХ импульсных кремниевых ЛПД на участке лавинного пробоя |
| title_short | Измерения ВАХ импульсных кремниевых ЛПД на участке лавинного пробоя |
| title_sort | измерения вах импульсных кремниевых лпд на участке лавинного пробоя |
| topic | Функциональная микро- и наноэлектроника |
| topic_facet | Функциональная микро- и наноэлектроника |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52311 |
| work_keys_str_mv | AT kudrikââ izmereniâvahimpulʹsnyhkremnievyhlpdnaučastkelavinnogoproboâ AT kudrikââ vimírûvannâvahímpulʹsnihkremníêvihlpdnadílâncílavinnogoproboû AT kudrikââ themeasurementsofpulsedivcurvesforsiliconimpattdiodesintheavalanchebreakdownregion |