Способ определения доли кристаллов в стеклокерамическом диэлектрике

Предложен комплексный метод количественной оценки доли кристаллов в композиционной стеклокерамике, полученной при разном времени ее спекания, базируемый на определении диэлектрической проницаемости композита. Запропоновано комплексний метод оцінки частки кристалів у композиційній склокераміці при рі...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Дата:2009
Автори: Дмитриев, М.В., Еримичой, И.Н., Панов, Л.И.
Формат: Стаття
Мова:Російська
Опубліковано: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2009
Теми:
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52317
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Способ определения доли кристаллов в стеклокерамическом диэлектрике / М.В. Дмитриев, И.Н. Еримичой, Л.И. Панов // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2009. — № 5. — С. 50-53. — Бібліогр.: 17 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
_version_ 1862660226036006912
author Дмитриев, М.В.
Еримичой, И.Н.
Панов, Л.И.
author_facet Дмитриев, М.В.
Еримичой, И.Н.
Панов, Л.И.
citation_txt Способ определения доли кристаллов в стеклокерамическом диэлектрике / М.В. Дмитриев, И.Н. Еримичой, Л.И. Панов // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2009. — № 5. — С. 50-53. — Бібліогр.: 17 назв. — рос.
collection DSpace DC
container_title Технология и конструирование в электронной аппаратуре
description Предложен комплексный метод количественной оценки доли кристаллов в композиционной стеклокерамике, полученной при разном времени ее спекания, базируемый на определении диэлектрической проницаемости композита. Запропоновано комплексний метод оцінки частки кристалів у композиційній склокераміці при різному часі її спікання, що базується на визначенні діелектричної проникності композита та не потребує застосування складних і трудомістких інструментальних способів ідентифікації частки кристалів.· This work presents a complex method of estimation of cristal part in composit glass-ceramics at different time points of its sintering, which is based on determining composite's permittivity and free from application of complicated and labourious tool methods of crystal part identification.
first_indexed 2025-12-02T10:39:29Z
format Article
fulltext
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-52317
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
issn 2225-5818
language Russian
last_indexed 2025-12-02T10:39:29Z
publishDate 2009
publisher Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
record_format dspace
spelling Дмитриев, М.В.
Еримичой, И.Н.
Панов, Л.И.
2013-12-29T17:49:50Z
2013-12-29T17:49:50Z
2009
Способ определения доли кристаллов в стеклокерамическом диэлектрике / М.В. Дмитриев, И.Н. Еримичой, Л.И. Панов // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2009. — № 5. — С. 50-53. — Бібліогр.: 17 назв. — рос.
2225-5818
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52317
Предложен комплексный метод количественной оценки доли кристаллов в композиционной стеклокерамике, полученной при разном времени ее спекания, базируемый на определении диэлектрической проницаемости композита.
Запропоновано комплексний метод оцінки частки кристалів у композиційній склокераміці при різному часі її спікання, що базується на визначенні діелектричної проникності композита та не потребує застосування складних і трудомістких інструментальних способів ідентифікації частки кристалів.·
This work presents a complex method of estimation of cristal part in composit glass-ceramics at different time points of its sintering, which is based on determining composite's permittivity and free from application of complicated and labourious tool methods of crystal part identification.
ru
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Материалы электроники
Способ определения доли кристаллов в стеклокерамическом диэлектрике
Спосіб визначення частки кристалів у склокерамічному діелектрику
Method of determining of crystal part in glass-ceramic dielectric
Article
published earlier
spellingShingle Способ определения доли кристаллов в стеклокерамическом диэлектрике
Дмитриев, М.В.
Еримичой, И.Н.
Панов, Л.И.
Материалы электроники
title Способ определения доли кристаллов в стеклокерамическом диэлектрике
title_alt Спосіб визначення частки кристалів у склокерамічному діелектрику
Method of determining of crystal part in glass-ceramic dielectric
title_full Способ определения доли кристаллов в стеклокерамическом диэлектрике
title_fullStr Способ определения доли кристаллов в стеклокерамическом диэлектрике
title_full_unstemmed Способ определения доли кристаллов в стеклокерамическом диэлектрике
title_short Способ определения доли кристаллов в стеклокерамическом диэлектрике
title_sort способ определения доли кристаллов в стеклокерамическом диэлектрике
topic Материалы электроники
topic_facet Материалы электроники
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52317
work_keys_str_mv AT dmitrievmv sposobopredeleniâdolikristallovvsteklokeramičeskomdiélektrike
AT erimičoiin sposobopredeleniâdolikristallovvsteklokeramičeskomdiélektrike
AT panovli sposobopredeleniâdolikristallovvsteklokeramičeskomdiélektrike
AT dmitrievmv sposíbviznačennâčastkikristalívusklokeramíčnomudíelektriku
AT erimičoiin sposíbviznačennâčastkikristalívusklokeramíčnomudíelektriku
AT panovli sposíbviznačennâčastkikristalívusklokeramíčnomudíelektriku
AT dmitrievmv methodofdeterminingofcrystalpartinglassceramicdielectric
AT erimičoiin methodofdeterminingofcrystalpartinglassceramicdielectric
AT panovli methodofdeterminingofcrystalpartinglassceramicdielectric