Способ определения доли кристаллов в стеклокерамическом диэлектрике
Предложен комплексный метод количественной оценки доли кристаллов в композиционной стеклокерамике, полученной при разном времени ее спекания, базируемый на определении диэлектрической проницаемости композита. Запропоновано комплексний метод оцінки частки кристалів у композиційній склокераміці при рі...
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
|---|---|
| Datum: | 2009 |
| Hauptverfasser: | , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Russisch |
| Veröffentlicht: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2009
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52317 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Способ определения доли кристаллов в стеклокерамическом диэлектрике / М.В. Дмитриев, И.Н. Еримичой, Л.И. Панов // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2009. — № 5. — С. 50-53. — Бібліогр.: 17 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862660226036006912 |
|---|---|
| author | Дмитриев, М.В. Еримичой, И.Н. Панов, Л.И. |
| author_facet | Дмитриев, М.В. Еримичой, И.Н. Панов, Л.И. |
| citation_txt | Способ определения доли кристаллов в стеклокерамическом диэлектрике / М.В. Дмитриев, И.Н. Еримичой, Л.И. Панов // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2009. — № 5. — С. 50-53. — Бібліогр.: 17 назв. — рос. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| description | Предложен комплексный метод количественной оценки доли кристаллов в композиционной стеклокерамике, полученной при разном времени ее спекания, базируемый на определении диэлектрической проницаемости композита.
Запропоновано комплексний метод оцінки частки кристалів у композиційній склокераміці при різному часі її спікання, що базується на визначенні діелектричної проникності композита та не потребує застосування складних і трудомістких інструментальних способів ідентифікації частки кристалів.·
This work presents a complex method of estimation of cristal part in composit glass-ceramics at different time points of its sintering, which is based on determining composite's permittivity and free from application of complicated and labourious tool methods of crystal part identification.
|
| first_indexed | 2025-12-02T10:39:29Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-52317 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 2225-5818 |
| language | Russian |
| last_indexed | 2025-12-02T10:39:29Z |
| publishDate | 2009 |
| publisher | Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Дмитриев, М.В. Еримичой, И.Н. Панов, Л.И. 2013-12-29T17:49:50Z 2013-12-29T17:49:50Z 2009 Способ определения доли кристаллов в стеклокерамическом диэлектрике / М.В. Дмитриев, И.Н. Еримичой, Л.И. Панов // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2009. — № 5. — С. 50-53. — Бібліогр.: 17 назв. — рос. 2225-5818 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52317 Предложен комплексный метод количественной оценки доли кристаллов в композиционной стеклокерамике, полученной при разном времени ее спекания, базируемый на определении диэлектрической проницаемости композита. Запропоновано комплексний метод оцінки частки кристалів у композиційній склокераміці при різному часі її спікання, що базується на визначенні діелектричної проникності композита та не потребує застосування складних і трудомістких інструментальних способів ідентифікації частки кристалів.· This work presents a complex method of estimation of cristal part in composit glass-ceramics at different time points of its sintering, which is based on determining composite's permittivity and free from application of complicated and labourious tool methods of crystal part identification. ru Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України Технология и конструирование в электронной аппаратуре Материалы электроники Способ определения доли кристаллов в стеклокерамическом диэлектрике Спосіб визначення частки кристалів у склокерамічному діелектрику Method of determining of crystal part in glass-ceramic dielectric Article published earlier |
| spellingShingle | Способ определения доли кристаллов в стеклокерамическом диэлектрике Дмитриев, М.В. Еримичой, И.Н. Панов, Л.И. Материалы электроники |
| title | Способ определения доли кристаллов в стеклокерамическом диэлектрике |
| title_alt | Спосіб визначення частки кристалів у склокерамічному діелектрику Method of determining of crystal part in glass-ceramic dielectric |
| title_full | Способ определения доли кристаллов в стеклокерамическом диэлектрике |
| title_fullStr | Способ определения доли кристаллов в стеклокерамическом диэлектрике |
| title_full_unstemmed | Способ определения доли кристаллов в стеклокерамическом диэлектрике |
| title_short | Способ определения доли кристаллов в стеклокерамическом диэлектрике |
| title_sort | способ определения доли кристаллов в стеклокерамическом диэлектрике |
| topic | Материалы электроники |
| topic_facet | Материалы электроники |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52317 |
| work_keys_str_mv | AT dmitrievmv sposobopredeleniâdolikristallovvsteklokeramičeskomdiélektrike AT erimičoiin sposobopredeleniâdolikristallovvsteklokeramičeskomdiélektrike AT panovli sposobopredeleniâdolikristallovvsteklokeramičeskomdiélektrike AT dmitrievmv sposíbviznačennâčastkikristalívusklokeramíčnomudíelektriku AT erimičoiin sposíbviznačennâčastkikristalívusklokeramíčnomudíelektriku AT panovli sposíbviznačennâčastkikristalívusklokeramíčnomudíelektriku AT dmitrievmv methodofdeterminingofcrystalpartinglassceramicdielectric AT erimičoiin methodofdeterminingofcrystalpartinglassceramicdielectric AT panovli methodofdeterminingofcrystalpartinglassceramicdielectric |