Мелебаев, Д., Мелебаева, Г., Рудь, Ю., & Рудь, В. (2008). Спектры фоточувствительности поверхностно-барьерных структур Ni–n–GaAs. Технология и конструирование в электронной аппаратуре.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Мелебаев, Д, Г.Д Мелебаева, Ю.В Рудь, та В.Ю Рудь. "Спектры фоточувствительности поверхностно-барьерных структур Ni–n–GaAs." Технология и конструирование в электронной аппаратуре 2008.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Мелебаев, Д, et al. "Спектры фоточувствительности поверхностно-барьерных структур Ni–n–GaAs." Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2008.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.