Измерительно-вычислительный комплекс СМ-100 для характеризации жидкокристаллических дисплеев
Для научных центров и предприятий России, Белоруссии и Украины оптимален комплекс СМ-100, разработанный в Институте физики полупроводников НАН Украины.
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
|---|---|
| Datum: | 2008 |
| Hauptverfasser: | , , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Russian |
| Veröffentlicht: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2008
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52393 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Измерительно-вычислительный комплекс СМ-100 для характеризации жидкокристаллических дисплеев / В.М. Cорокин, Р.Я. Зелинский, А.В. Рыбалочка, А.С. Олийник // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2008. — № 1. — С. 48-53. — Бібліогр.: 4 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-52393 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
Сорокин, В.М. Зелинский, Р.Я. Рыбалочка, А.В. Олийник, А.С. 2013-12-30T23:14:42Z 2013-12-30T23:14:42Z 2008 Измерительно-вычислительный комплекс СМ-100 для характеризации жидкокристаллических дисплеев / В.М. Cорокин, Р.Я. Зелинский, А.В. Рыбалочка, А.С. Олийник // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2008. — № 1. — С. 48-53. — Бібліогр.: 4 назв. — рос. 2225-5818 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52393 Для научных центров и предприятий России, Белоруссии и Украины оптимален комплекс СМ-100, разработанный в Институте физики полупроводников НАН Украины. ru Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України Технология и конструирование в электронной аппаратуре Технологические процессы и оборудование Измерительно-вычислительный комплекс СМ-100 для характеризации жидкокристаллических дисплеев Вимірювально-окислювальний комплекс СМ-100 для характеризації рідкокристалічних дисплеїв Display measuring system CM-100 for LCD characterization Article published earlier |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| title |
Измерительно-вычислительный комплекс СМ-100 для характеризации жидкокристаллических дисплеев |
| spellingShingle |
Измерительно-вычислительный комплекс СМ-100 для характеризации жидкокристаллических дисплеев Сорокин, В.М. Зелинский, Р.Я. Рыбалочка, А.В. Олийник, А.С. Технологические процессы и оборудование |
| title_short |
Измерительно-вычислительный комплекс СМ-100 для характеризации жидкокристаллических дисплеев |
| title_full |
Измерительно-вычислительный комплекс СМ-100 для характеризации жидкокристаллических дисплеев |
| title_fullStr |
Измерительно-вычислительный комплекс СМ-100 для характеризации жидкокристаллических дисплеев |
| title_full_unstemmed |
Измерительно-вычислительный комплекс СМ-100 для характеризации жидкокристаллических дисплеев |
| title_sort |
измерительно-вычислительный комплекс см-100 для характеризации жидкокристаллических дисплеев |
| author |
Сорокин, В.М. Зелинский, Р.Я. Рыбалочка, А.В. Олийник, А.С. |
| author_facet |
Сорокин, В.М. Зелинский, Р.Я. Рыбалочка, А.В. Олийник, А.С. |
| topic |
Технологические процессы и оборудование |
| topic_facet |
Технологические процессы и оборудование |
| publishDate |
2008 |
| language |
Russian |
| container_title |
Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| publisher |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
| format |
Article |
| title_alt |
Вимірювально-окислювальний комплекс СМ-100 для характеризації рідкокристалічних дисплеїв Display measuring system CM-100 for LCD characterization |
| description |
Для научных центров и предприятий России, Белоруссии и Украины оптимален комплекс СМ-100, разработанный в Институте физики полупроводников НАН Украины.
|
| issn |
2225-5818 |
| url |
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52393 |
| citation_txt |
Измерительно-вычислительный комплекс СМ-100 для характеризации жидкокристаллических дисплеев / В.М. Cорокин, Р.Я. Зелинский, А.В. Рыбалочка, А.С. Олийник // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2008. — № 1. — С. 48-53. — Бібліогр.: 4 назв. — рос. |
| work_keys_str_mv |
AT sorokinvm izmeritelʹnovyčislitelʹnyikomplekssm100dlâharakterizaciižidkokristalličeskihdispleev AT zelinskiirâ izmeritelʹnovyčislitelʹnyikomplekssm100dlâharakterizaciižidkokristalličeskihdispleev AT rybaločkaav izmeritelʹnovyčislitelʹnyikomplekssm100dlâharakterizaciižidkokristalličeskihdispleev AT oliinikas izmeritelʹnovyčislitelʹnyikomplekssm100dlâharakterizaciižidkokristalličeskihdispleev AT sorokinvm vimírûvalʹnookislûvalʹniikomplekssm100dlâharakterizacíírídkokristalíčnihdispleív AT zelinskiirâ vimírûvalʹnookislûvalʹniikomplekssm100dlâharakterizacíírídkokristalíčnihdispleív AT rybaločkaav vimírûvalʹnookislûvalʹniikomplekssm100dlâharakterizacíírídkokristalíčnihdispleív AT oliinikas vimírûvalʹnookislûvalʹniikomplekssm100dlâharakterizacíírídkokristalíčnihdispleív AT sorokinvm displaymeasuringsystemcm100forlcdcharacterization AT zelinskiirâ displaymeasuringsystemcm100forlcdcharacterization AT rybaločkaav displaymeasuringsystemcm100forlcdcharacterization AT oliinikas displaymeasuringsystemcm100forlcdcharacterization |
| first_indexed |
2025-12-07T18:02:33Z |
| last_indexed |
2025-12-07T18:02:33Z |
| _version_ |
1850873535090655232 |