Измерительно-вычислительный комплекс СМ-100 для характеризации жидкокристаллических дисплеев
Для научных центров и предприятий России, Белоруссии и Украины оптимален комплекс СМ-100, разработанный в Институте физики полупроводников НАН Украины.
Saved in:
| Published in: | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
|---|---|
| Date: | 2008 |
| Main Authors: | , , , |
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Published: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2008
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52393 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Измерительно-вычислительный комплекс СМ-100 для характеризации жидкокристаллических дисплеев / В.М. Cорокин, Р.Я. Зелинский, А.В. Рыбалочка, А.С. Олийник // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2008. — № 1. — С. 48-53. — Бібліогр.: 4 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862716192814268416 |
|---|---|
| author | Сорокин, В.М. Зелинский, Р.Я. Рыбалочка, А.В. Олийник, А.С. |
| author_facet | Сорокин, В.М. Зелинский, Р.Я. Рыбалочка, А.В. Олийник, А.С. |
| citation_txt | Измерительно-вычислительный комплекс СМ-100 для характеризации жидкокристаллических дисплеев / В.М. Cорокин, Р.Я. Зелинский, А.В. Рыбалочка, А.С. Олийник // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2008. — № 1. — С. 48-53. — Бібліогр.: 4 назв. — рос. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| description | Для научных центров и предприятий России, Белоруссии и Украины оптимален комплекс СМ-100, разработанный в Институте физики полупроводников НАН Украины.
|
| first_indexed | 2025-12-07T18:02:33Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-52393 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 2225-5818 |
| language | Russian |
| last_indexed | 2025-12-07T18:02:33Z |
| publishDate | 2008 |
| publisher | Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Сорокин, В.М. Зелинский, Р.Я. Рыбалочка, А.В. Олийник, А.С. 2013-12-30T23:14:42Z 2013-12-30T23:14:42Z 2008 Измерительно-вычислительный комплекс СМ-100 для характеризации жидкокристаллических дисплеев / В.М. Cорокин, Р.Я. Зелинский, А.В. Рыбалочка, А.С. Олийник // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2008. — № 1. — С. 48-53. — Бібліогр.: 4 назв. — рос. 2225-5818 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52393 Для научных центров и предприятий России, Белоруссии и Украины оптимален комплекс СМ-100, разработанный в Институте физики полупроводников НАН Украины. ru Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України Технология и конструирование в электронной аппаратуре Технологические процессы и оборудование Измерительно-вычислительный комплекс СМ-100 для характеризации жидкокристаллических дисплеев Вимірювально-окислювальний комплекс СМ-100 для характеризації рідкокристалічних дисплеїв Display measuring system CM-100 for LCD characterization Article published earlier |
| spellingShingle | Измерительно-вычислительный комплекс СМ-100 для характеризации жидкокристаллических дисплеев Сорокин, В.М. Зелинский, Р.Я. Рыбалочка, А.В. Олийник, А.С. Технологические процессы и оборудование |
| title | Измерительно-вычислительный комплекс СМ-100 для характеризации жидкокристаллических дисплеев |
| title_alt | Вимірювально-окислювальний комплекс СМ-100 для характеризації рідкокристалічних дисплеїв Display measuring system CM-100 for LCD characterization |
| title_full | Измерительно-вычислительный комплекс СМ-100 для характеризации жидкокристаллических дисплеев |
| title_fullStr | Измерительно-вычислительный комплекс СМ-100 для характеризации жидкокристаллических дисплеев |
| title_full_unstemmed | Измерительно-вычислительный комплекс СМ-100 для характеризации жидкокристаллических дисплеев |
| title_short | Измерительно-вычислительный комплекс СМ-100 для характеризации жидкокристаллических дисплеев |
| title_sort | измерительно-вычислительный комплекс см-100 для характеризации жидкокристаллических дисплеев |
| topic | Технологические процессы и оборудование |
| topic_facet | Технологические процессы и оборудование |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52393 |
| work_keys_str_mv | AT sorokinvm izmeritelʹnovyčislitelʹnyikomplekssm100dlâharakterizaciižidkokristalličeskihdispleev AT zelinskiirâ izmeritelʹnovyčislitelʹnyikomplekssm100dlâharakterizaciižidkokristalličeskihdispleev AT rybaločkaav izmeritelʹnovyčislitelʹnyikomplekssm100dlâharakterizaciižidkokristalličeskihdispleev AT oliinikas izmeritelʹnovyčislitelʹnyikomplekssm100dlâharakterizaciižidkokristalličeskihdispleev AT sorokinvm vimírûvalʹnookislûvalʹniikomplekssm100dlâharakterizacíírídkokristalíčnihdispleív AT zelinskiirâ vimírûvalʹnookislûvalʹniikomplekssm100dlâharakterizacíírídkokristalíčnihdispleív AT rybaločkaav vimírûvalʹnookislûvalʹniikomplekssm100dlâharakterizacíírídkokristalíčnihdispleív AT oliinikas vimírûvalʹnookislûvalʹniikomplekssm100dlâharakterizacíírídkokristalíčnihdispleív AT sorokinvm displaymeasuringsystemcm100forlcdcharacterization AT zelinskiirâ displaymeasuringsystemcm100forlcdcharacterization AT rybaločkaav displaymeasuringsystemcm100forlcdcharacterization AT oliinikas displaymeasuringsystemcm100forlcdcharacterization |