Усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники
Разработан новый метод отображения «горячих точек» в изделиях микроэлектроники, основанный на визуализации локальной холестерической фазы в смектической фазе холестерического жидкого кристалла. Приведена технология реализации метода и примеры его использования....
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
|---|---|
| Datum: | 2008 |
| Hauptverfasser: | , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Russisch |
| Veröffentlicht: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2008
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52430 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники / В.М. Попов, А.С. Клименко, А.П. Поканевич // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2008. — № 3. — С. 55-58. — Бібліогр.: 10 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862713360542334976 |
|---|---|
| author | Попов, В.М. Клименко, А.С. Поканевич, А.П. |
| author_facet | Попов, В.М. Клименко, А.С. Поканевич, А.П. |
| citation_txt | Усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники / В.М. Попов, А.С. Клименко, А.П. Поканевич // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2008. — № 3. — С. 55-58. — Бібліогр.: 10 назв. — рос. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| description | Разработан новый метод отображения «горячих точек» в изделиях микроэлектроники, основанный на визуализации локальной холестерической фазы в смектической фазе холестерического жидкого кристалла. Приведена технология реализации метода и примеры его использования.
|
| first_indexed | 2025-12-07T17:44:01Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-52430 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 2225-5818 |
| language | Russian |
| last_indexed | 2025-12-07T17:44:01Z |
| publishDate | 2008 |
| publisher | Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Попов, В.М. Клименко, А.С. Поканевич, А.П. 2014-01-01T17:45:49Z 2014-01-01T17:45:49Z 2008 Усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники / В.М. Попов, А.С. Клименко, А.П. Поканевич // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2008. — № 3. — С. 55-58. — Бібліогр.: 10 назв. — рос. 2225-5818 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52430 Разработан новый метод отображения «горячих точек» в изделиях микроэлектроники, основанный на визуализации локальной холестерической фазы в смектической фазе холестерического жидкого кристалла. Приведена технология реализации метода и примеры его использования. ru Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України Технология и конструирование в электронной аппаратуре Технологические процессы и оборудование Усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники Удосконалений метод виявлення «гарячих точок» у виробах мікроелектроніки Improved method for detection of 'hot spots' in microelectronic devices Article published earlier |
| spellingShingle | Усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники Попов, В.М. Клименко, А.С. Поканевич, А.П. Технологические процессы и оборудование |
| title | Усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники |
| title_alt | Удосконалений метод виявлення «гарячих точок» у виробах мікроелектроніки Improved method for detection of 'hot spots' in microelectronic devices |
| title_full | Усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники |
| title_fullStr | Усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники |
| title_full_unstemmed | Усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники |
| title_short | Усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники |
| title_sort | усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники |
| topic | Технологические процессы и оборудование |
| topic_facet | Технологические процессы и оборудование |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52430 |
| work_keys_str_mv | AT popovvm usoveršenstvovannyimetodvyâvleniâgorâčihtočekvizdeliâhmikroélektroniki AT klimenkoas usoveršenstvovannyimetodvyâvleniâgorâčihtočekvizdeliâhmikroélektroniki AT pokanevičap usoveršenstvovannyimetodvyâvleniâgorâčihtočekvizdeliâhmikroélektroniki AT popovvm udoskonaleniimetodviâvlennâgarâčihtočokuvirobahmíkroelektroníki AT klimenkoas udoskonaleniimetodviâvlennâgarâčihtočokuvirobahmíkroelektroníki AT pokanevičap udoskonaleniimetodviâvlennâgarâčihtočokuvirobahmíkroelektroníki AT popovvm improvedmethodfordetectionofhotspotsinmicroelectronicdevices AT klimenkoas improvedmethodfordetectionofhotspotsinmicroelectronicdevices AT pokanevičap improvedmethodfordetectionofhotspotsinmicroelectronicdevices |