Усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники
Разработан новый метод отображения «горячих точек» в изделиях микроэлектроники, основанный на визуализации локальной холестерической фазы в смектической фазе холестерического жидкого кристалла. Приведена технология реализации метода и примеры его использования....
Saved in:
| Published in: | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
|---|---|
| Date: | 2008 |
| Main Authors: | , , |
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Published: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2008
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52430 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники / В.М. Попов, А.С. Клименко, А.П. Поканевич // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2008. — № 3. — С. 55-58. — Бібліогр.: 10 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-52430 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
Попов, В.М. Клименко, А.С. Поканевич, А.П. 2014-01-01T17:45:49Z 2014-01-01T17:45:49Z 2008 Усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники / В.М. Попов, А.С. Клименко, А.П. Поканевич // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2008. — № 3. — С. 55-58. — Бібліогр.: 10 назв. — рос. 2225-5818 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52430 Разработан новый метод отображения «горячих точек» в изделиях микроэлектроники, основанный на визуализации локальной холестерической фазы в смектической фазе холестерического жидкого кристалла. Приведена технология реализации метода и примеры его использования. ru Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України Технология и конструирование в электронной аппаратуре Технологические процессы и оборудование Усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники Удосконалений метод виявлення «гарячих точок» у виробах мікроелектроніки Improved method for detection of 'hot spots' in microelectronic devices Article published earlier |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| title |
Усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники |
| spellingShingle |
Усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники Попов, В.М. Клименко, А.С. Поканевич, А.П. Технологические процессы и оборудование |
| title_short |
Усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники |
| title_full |
Усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники |
| title_fullStr |
Усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники |
| title_full_unstemmed |
Усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники |
| title_sort |
усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники |
| author |
Попов, В.М. Клименко, А.С. Поканевич, А.П. |
| author_facet |
Попов, В.М. Клименко, А.С. Поканевич, А.П. |
| topic |
Технологические процессы и оборудование |
| topic_facet |
Технологические процессы и оборудование |
| publishDate |
2008 |
| language |
Russian |
| container_title |
Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| publisher |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
| format |
Article |
| title_alt |
Удосконалений метод виявлення «гарячих точок» у виробах мікроелектроніки Improved method for detection of 'hot spots' in microelectronic devices |
| description |
Разработан новый метод отображения «горячих точек» в изделиях микроэлектроники, основанный на визуализации локальной холестерической фазы в смектической фазе холестерического жидкого кристалла. Приведена технология реализации метода и примеры его использования.
|
| issn |
2225-5818 |
| url |
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52430 |
| citation_txt |
Усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники / В.М. Попов, А.С. Клименко, А.П. Поканевич // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2008. — № 3. — С. 55-58. — Бібліогр.: 10 назв. — рос. |
| work_keys_str_mv |
AT popovvm usoveršenstvovannyimetodvyâvleniâgorâčihtočekvizdeliâhmikroélektroniki AT klimenkoas usoveršenstvovannyimetodvyâvleniâgorâčihtočekvizdeliâhmikroélektroniki AT pokanevičap usoveršenstvovannyimetodvyâvleniâgorâčihtočekvizdeliâhmikroélektroniki AT popovvm udoskonaleniimetodviâvlennâgarâčihtočokuvirobahmíkroelektroníki AT klimenkoas udoskonaleniimetodviâvlennâgarâčihtočokuvirobahmíkroelektroníki AT pokanevičap udoskonaleniimetodviâvlennâgarâčihtočokuvirobahmíkroelektroníki AT popovvm improvedmethodfordetectionofhotspotsinmicroelectronicdevices AT klimenkoas improvedmethodfordetectionofhotspotsinmicroelectronicdevices AT pokanevičap improvedmethodfordetectionofhotspotsinmicroelectronicdevices |
| first_indexed |
2025-12-07T17:44:01Z |
| last_indexed |
2025-12-07T17:44:01Z |
| _version_ |
1850872369638277120 |