Усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники
Разработан новый метод отображения «горячих точек» в изделиях микроэлектроники, основанный на визуализации локальной холестерической фазы в смектической фазе холестерического жидкого кристалла. Приведена технология реализации метода и примеры его использования....
Saved in:
| Published in: | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
|---|---|
| Date: | 2008 |
| Main Authors: | Попов, В.М., Клименко, А.С., Поканевич, А.П. |
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Published: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2008
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52430 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники / В.М. Попов, А.С. Клименко, А.П. Поканевич // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2008. — № 3. — С. 55-58. — Бібліогр.: 10 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineSimilar Items
Усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники
by: Popov, V. M., et al.
Published: (2008)
by: Popov, V. M., et al.
Published: (2008)
Метод определения температуры и теплового сопротивления точек поверхности кристалла интегральной схемы
by: Попов, В.М., et al.
Published: (2011)
by: Попов, В.М., et al.
Published: (2011)
Наноструктурированные пленки ZnO для устройств микроэлектроники и оптики
by: Белянин, А.Ф., et al.
Published: (2006)
by: Белянин, А.Ф., et al.
Published: (2006)
Бесконтактный метод определения эффективности термоэлектрических материалов
by: Ащеулов, А.А.
Published: (2009)
by: Ащеулов, А.А.
Published: (2009)
Измерительно-вычислительный комплекс СМ-100 для характеризации жидкокристаллических дисплеев
by: Сорокин, В.М., et al.
Published: (2008)
by: Сорокин, В.М., et al.
Published: (2008)
Кинетика процессов осаждения пленок поликремния, легированного кислородом в процессе роста
by: Наливайко, О.Ю., et al.
Published: (2012)
by: Наливайко, О.Ю., et al.
Published: (2012)
Получение тонких пленок Si₃N₄ при пониженном давлении на пластинах диаметром до 200 мм
by: Наливайко, О.Ю., et al.
Published: (2012)
by: Наливайко, О.Ю., et al.
Published: (2012)
Получение двухсторонних высоковольтных эпитаксиальных кремниевых p—i—n-структур методом ЖФЭ
by: Вакив, Н.М., et al.
Published: (2013)
by: Вакив, Н.М., et al.
Published: (2013)
СВЧ плазмохимическое осаждение структур для высокоапертурных планарных оптических волноводов
by: Григорьянц, В.В., et al.
Published: (2005)
by: Григорьянц, В.В., et al.
Published: (2005)
Высокочастотный реактор с асимметричными электродами для плазмохимического травления полупроводников
by: Дудин, С.В., et al.
Published: (2011)
by: Дудин, С.В., et al.
Published: (2011)
Лазерная абляция и фотостимулированная пассивация поверхности кристаллов Cd1–хZnхTe
by: Загоруйко, Ю.А., et al.
Published: (2011)
by: Загоруйко, Ю.А., et al.
Published: (2011)
Исследование качества пайки кристаллов мощных транзисторов релаксационным импеданс-спектрометром
by: Турцевич, А.С., et al.
Published: (2012)
by: Турцевич, А.С., et al.
Published: (2012)
Особенности трансформации примесно-дефектных комплексов в CdTe:Cl под воздействием СВЧ-облучения
by: Будзуляк, С.И., et al.
Published: (2014)
by: Будзуляк, С.И., et al.
Published: (2014)
Подключающее МЭМС-устройство для контроля BGA-компонентов
by: Невлюдов, И.Ш., et al.
Published: (2012)
by: Невлюдов, И.Ш., et al.
Published: (2012)
Формирование МОП-транзисторов с изоляцией активных элементов окисленным пористым кремнием
by: Новосядлый, С.П., et al.
Published: (2009)
by: Новосядлый, С.П., et al.
Published: (2009)
Формирование нанопленок Cu, Ag, Au под воздействием атомов водорода
by: Жавжаров, Е.Л., et al.
Published: (2015)
by: Жавжаров, Е.Л., et al.
Published: (2015)
Особенности изготовления Cd1-xZnxTe-детектора ионизирующего излучения
by: Томашик, З.Ф., et al.
Published: (2013)
by: Томашик, З.Ф., et al.
Published: (2013)
Технология и оборудование для обработки алмазных материалов современной электроники
by: Митягин, А.Ю., et al.
Published: (2009)
by: Митягин, А.Ю., et al.
Published: (2009)
Моделирование технологии изготовления субмикронных КМОП СБИС с помощью систем TCAD
by: Глушко, А.А., et al.
Published: (2007)
by: Глушко, А.А., et al.
Published: (2007)
Разработка процесса глубокого плазменного травления кремния для технологии трехмерной интеграции кристаллов
by: Голишников, А.А., et al.
Published: (2014)
by: Голишников, А.А., et al.
Published: (2014)
Оптимизация распределения концентрации носителей по толщине эпитаксиальных слоев
by: Каримов, А.В., et al.
Published: (2007)
by: Каримов, А.В., et al.
Published: (2007)
Методы удаления дефектов, возникающих при жидкостном травлении поверхности поликристаллического кремния
by: Иванчиков, А.Э., et al.
Published: (2008)
by: Иванчиков, А.Э., et al.
Published: (2008)
Ненакаливаемые катоды на основе углеродных наноструктурированных слоистых структур
by: Белянин, А.Ф., et al.
Published: (2013)
by: Белянин, А.Ф., et al.
Published: (2013)
Диффузия фосфора с применением твердого планарного источника в производстве интегральных схем
by: Шангереева, Б.А.
Published: (2008)
by: Шангереева, Б.А.
Published: (2008)
Источник бескапельных плазменных потоков для наноэлектроники
by: Борисенко, А.Г.
Published: (2013)
by: Борисенко, А.Г.
Published: (2013)
Алгоритм выбора интервала пересчета параметров объектов контроля и управления в АСУ ТП
by: Тыныныка, А.Н
Published: (2016)
by: Тыныныка, А.Н
Published: (2016)
Макет экспериментальной установки для исследования пространственно-временного интегрирования в акустооптической среде
by: Рудякова, А.Н., et al.
Published: (2008)
by: Рудякова, А.Н., et al.
Published: (2008)
Аналитические электронные весы с цифроаналоговым каналом компенсации
by: Липинский, А.Ю., et al.
Published: (2005)
by: Липинский, А.Ю., et al.
Published: (2005)
Массоперенос при жидкофазной эпитаксии двухслойных систем
by: Дранчук, С.Н., et al.
Published: (2012)
by: Дранчук, С.Н., et al.
Published: (2012)
Повышение адгезионной прочности никелевых контактов ветвей термоэлектрических модулей
by: Ащеулов, А.А., et al.
Published: (2006)
by: Ащеулов, А.А., et al.
Published: (2006)
Формирование мезаструктур 4НSiC p–i–n-диодов методом ионно-плазменного травления
by: Болтовец, Н.С., et al.
Published: (2009)
by: Болтовец, Н.С., et al.
Published: (2009)
Оборудование для формирования омических контактов полупроводниковых приборов на основе соединений A₃B₅
by: Александров, С.Б., et al.
Published: (2011)
by: Александров, С.Б., et al.
Published: (2011)
Ударостойкие защитные пленочные покрытия на основе AlN в электронной технике
by: Белянин, А.Ф., et al.
Published: (2005)
by: Белянин, А.Ф., et al.
Published: (2005)
Технологические источники ионов на основе контрагированных разрядов
by: Никитинский, В.А., et al.
Published: (2006)
by: Никитинский, В.А., et al.
Published: (2006)
Источник питания для контактной микросварки с программируемой формой сварочного импульса
by: Паэранд, Ю.Э., et al.
Published: (2006)
by: Паэранд, Ю.Э., et al.
Published: (2006)
Источник магнитных полей сложной энергочастотной и поляризационной структуры
by: Житник, Н.Е., et al.
Published: (2008)
by: Житник, Н.Е., et al.
Published: (2008)
Приборно-технологическое моделирование автоэмиссионных кремниевых микрокатодов
by: Дружинин, А.А., et al.
Published: (2008)
by: Дружинин, А.А., et al.
Published: (2008)
Сравнительный анализ технологий изготовления кремниевых схем считывания информации с ИК-фотодиодов
by: Рева, В.П., et al.
Published: (2007)
by: Рева, В.П., et al.
Published: (2007)
Повышение помехоустойчивости бинаризации изображений фотошаблонов в пространстве вейвлет-преобразования
by: Щербакова, Г.Ю., et al.
Published: (2011)
by: Щербакова, Г.Ю., et al.
Published: (2011)
Влияние параметров ВЧ-разряда и параметров нагревателя на температуру подложки в плазмохимическом реакторе «Алмаз» для синтеза углеродных алмазоподобных пленок
by: Гладковский, В.В., et al.
Published: (2014)
by: Гладковский, В.В., et al.
Published: (2014)
Similar Items
-
Усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники
by: Popov, V. M., et al.
Published: (2008) -
Метод определения температуры и теплового сопротивления точек поверхности кристалла интегральной схемы
by: Попов, В.М., et al.
Published: (2011) -
Наноструктурированные пленки ZnO для устройств микроэлектроники и оптики
by: Белянин, А.Ф., et al.
Published: (2006) -
Бесконтактный метод определения эффективности термоэлектрических материалов
by: Ащеулов, А.А.
Published: (2009) -
Измерительно-вычислительный комплекс СМ-100 для характеризации жидкокристаллических дисплеев
by: Сорокин, В.М., et al.
Published: (2008)