Мокрицкий, В., Банзак, О., & Волосевич, В. (2008). Исследование радиационной стойкости гибридных интегральных микросхем. Технология и конструирование в электронной аппаратуре.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Мокрицкий, В.А, О.В Банзак, und В.П Волосевич. "Исследование радиационной стойкости гибридных интегральных микросхем." Технология и конструирование в электронной аппаратуре 2008.
MLA-Zitierstil (8. Ausg.)Мокрицкий, В.А, et al. "Исследование радиационной стойкости гибридных интегральных микросхем." Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2008.
Achtung: Diese Zitate sind unter Umständen nicht zu 100% korrekt.