Исследование радиационной стойкости гибридных интегральных микросхем

• Опубліковано в: : Технология и конструирование в электронной аппаратуре
• Дата: 2008
• Автори: Мокрицкий, В.А., Банзак, О.В., Волосевич, В.П.
• Формат: Стаття
• Мова: Russian
• Опубліковано: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2008
• Теми: Электронные средства: исследования, разработки
• Онлайн доступ: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52439
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Цитувати: Исследование радиационной стойкости гибридных интегральных микросхем / В.А. Мокрицкий, О.В. Банзак, В.П. Волосевич // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2008. — № 4. — С. 14-15. — Бібліогр.: 3 назв. — рос.

Обнаружена стойкость основных пара-метров микросборок, предназначенных для измерения и стабилизации температуры первичных преобразователей неэлектрических величин, к воздействию быстрыми электронами и нейтронами. Показаны причины изменений некоторых параметров.