Исследование радиационной стойкости гибридных интегральных микросхем
Обнаружена стойкость основных пара-метров микросборок, предназначенных для измерения и стабилизации температуры первичных преобразователей неэлектрических величин, к воздействию быстрыми электронами и нейтронами. Показаны причины изменений некоторых параметров....
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
|---|---|
| Datum: | 2008 |
| Hauptverfasser: | , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Russian |
| Veröffentlicht: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2008
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52439 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Исследование радиационной стойкости гибридных интегральных микросхем / В.А. Мокрицкий, О.В. Банзак, В.П. Волосевич // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2008. — № 4. — С. 14-15. — Бібліогр.: 3 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-52439 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
Мокрицкий, В.А. Банзак, О.В. Волосевич, В.П. 2014-01-01T21:15:34Z 2014-01-01T21:15:34Z 2008 Исследование радиационной стойкости гибридных интегральных микросхем / В.А. Мокрицкий, О.В. Банзак, В.П. Волосевич // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2008. — № 4. — С. 14-15. — Бібліогр.: 3 назв. — рос. 2225-5818 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52439 Обнаружена стойкость основных пара-метров микросборок, предназначенных для измерения и стабилизации температуры первичных преобразователей неэлектрических величин, к воздействию быстрыми электронами и нейтронами. Показаны причины изменений некоторых параметров. ru Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України Технология и конструирование в электронной аппаратуре Электронные средства: исследования, разработки Исследование радиационной стойкости гибридных интегральных микросхем Дослідження радіаційної стійкості гібридних інтегральних мікросхем Electronic means: investigations, development Research of radiation stability of hybrid integrated microcircuits Article published earlier |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| title |
Исследование радиационной стойкости гибридных интегральных микросхем |
| spellingShingle |
Исследование радиационной стойкости гибридных интегральных микросхем Мокрицкий, В.А. Банзак, О.В. Волосевич, В.П. Электронные средства: исследования, разработки |
| title_short |
Исследование радиационной стойкости гибридных интегральных микросхем |
| title_full |
Исследование радиационной стойкости гибридных интегральных микросхем |
| title_fullStr |
Исследование радиационной стойкости гибридных интегральных микросхем |
| title_full_unstemmed |
Исследование радиационной стойкости гибридных интегральных микросхем |
| title_sort |
исследование радиационной стойкости гибридных интегральных микросхем |
| author |
Мокрицкий, В.А. Банзак, О.В. Волосевич, В.П. |
| author_facet |
Мокрицкий, В.А. Банзак, О.В. Волосевич, В.П. |
| topic |
Электронные средства: исследования, разработки |
| topic_facet |
Электронные средства: исследования, разработки |
| publishDate |
2008 |
| language |
Russian |
| container_title |
Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| publisher |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
| format |
Article |
| title_alt |
Дослідження радіаційної стійкості гібридних інтегральних мікросхем Electronic means: investigations, development Research of radiation stability of hybrid integrated microcircuits |
| description |
Обнаружена стойкость основных пара-метров микросборок, предназначенных для измерения и стабилизации температуры первичных преобразователей неэлектрических величин, к воздействию быстрыми электронами и нейтронами. Показаны причины изменений некоторых параметров.
|
| issn |
2225-5818 |
| url |
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52439 |
| citation_txt |
Исследование радиационной стойкости гибридных интегральных микросхем / В.А. Мокрицкий, О.В. Банзак, В.П. Волосевич // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2008. — № 4. — С. 14-15. — Бібліогр.: 3 назв. — рос. |
| work_keys_str_mv |
AT mokrickiiva issledovanieradiacionnoistoikostigibridnyhintegralʹnyhmikroshem AT banzakov issledovanieradiacionnoistoikostigibridnyhintegralʹnyhmikroshem AT volosevičvp issledovanieradiacionnoistoikostigibridnyhintegralʹnyhmikroshem AT mokrickiiva doslídžennâradíacíinoístíikostígíbridnihíntegralʹnihmíkroshem AT banzakov doslídžennâradíacíinoístíikostígíbridnihíntegralʹnihmíkroshem AT volosevičvp doslídžennâradíacíinoístíikostígíbridnihíntegralʹnihmíkroshem AT mokrickiiva electronicmeansinvestigationsdevelopmentresearchofradiationstabilityofhybridintegratedmicrocircuits AT banzakov electronicmeansinvestigationsdevelopmentresearchofradiationstabilityofhybridintegratedmicrocircuits AT volosevičvp electronicmeansinvestigationsdevelopmentresearchofradiationstabilityofhybridintegratedmicrocircuits |
| first_indexed |
2025-12-07T15:30:34Z |
| last_indexed |
2025-12-07T15:30:34Z |
| _version_ |
1850863972827267072 |