Исследование радиационной стойкости гибридных интегральных микросхем
Обнаружена стойкость основных пара-метров микросборок, предназначенных для измерения и стабилизации температуры первичных преобразователей неэлектрических величин, к воздействию быстрыми электронами и нейтронами. Показаны причины изменений некоторых параметров....
Saved in:
| Published in: | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
|---|---|
| Date: | 2008 |
| Main Authors: | , , |
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Published: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2008
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52439 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Исследование радиационной стойкости гибридных интегральных микросхем / В.А. Мокрицкий, О.В. Банзак, В.П. Волосевич // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2008. — № 4. — С. 14-15. — Бібліогр.: 3 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862670330397458432 |
|---|---|
| author | Мокрицкий, В.А. Банзак, О.В. Волосевич, В.П. |
| author_facet | Мокрицкий, В.А. Банзак, О.В. Волосевич, В.П. |
| citation_txt | Исследование радиационной стойкости гибридных интегральных микросхем / В.А. Мокрицкий, О.В. Банзак, В.П. Волосевич // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2008. — № 4. — С. 14-15. — Бібліогр.: 3 назв. — рос. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| description | Обнаружена стойкость основных пара-метров микросборок, предназначенных для измерения и стабилизации температуры первичных преобразователей неэлектрических величин, к воздействию быстрыми электронами и нейтронами. Показаны причины изменений некоторых параметров.
|
| first_indexed | 2025-12-07T15:30:34Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-52439 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 2225-5818 |
| language | Russian |
| last_indexed | 2025-12-07T15:30:34Z |
| publishDate | 2008 |
| publisher | Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Мокрицкий, В.А. Банзак, О.В. Волосевич, В.П. 2014-01-01T21:15:34Z 2014-01-01T21:15:34Z 2008 Исследование радиационной стойкости гибридных интегральных микросхем / В.А. Мокрицкий, О.В. Банзак, В.П. Волосевич // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2008. — № 4. — С. 14-15. — Бібліогр.: 3 назв. — рос. 2225-5818 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52439 Обнаружена стойкость основных пара-метров микросборок, предназначенных для измерения и стабилизации температуры первичных преобразователей неэлектрических величин, к воздействию быстрыми электронами и нейтронами. Показаны причины изменений некоторых параметров. ru Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України Технология и конструирование в электронной аппаратуре Электронные средства: исследования, разработки Исследование радиационной стойкости гибридных интегральных микросхем Дослідження радіаційної стійкості гібридних інтегральних мікросхем Electronic means: investigations, development Research of radiation stability of hybrid integrated microcircuits Article published earlier |
| spellingShingle | Исследование радиационной стойкости гибридных интегральных микросхем Мокрицкий, В.А. Банзак, О.В. Волосевич, В.П. Электронные средства: исследования, разработки |
| title | Исследование радиационной стойкости гибридных интегральных микросхем |
| title_alt | Дослідження радіаційної стійкості гібридних інтегральних мікросхем Electronic means: investigations, development Research of radiation stability of hybrid integrated microcircuits |
| title_full | Исследование радиационной стойкости гибридных интегральных микросхем |
| title_fullStr | Исследование радиационной стойкости гибридных интегральных микросхем |
| title_full_unstemmed | Исследование радиационной стойкости гибридных интегральных микросхем |
| title_short | Исследование радиационной стойкости гибридных интегральных микросхем |
| title_sort | исследование радиационной стойкости гибридных интегральных микросхем |
| topic | Электронные средства: исследования, разработки |
| topic_facet | Электронные средства: исследования, разработки |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52439 |
| work_keys_str_mv | AT mokrickiiva issledovanieradiacionnoistoikostigibridnyhintegralʹnyhmikroshem AT banzakov issledovanieradiacionnoistoikostigibridnyhintegralʹnyhmikroshem AT volosevičvp issledovanieradiacionnoistoikostigibridnyhintegralʹnyhmikroshem AT mokrickiiva doslídžennâradíacíinoístíikostígíbridnihíntegralʹnihmíkroshem AT banzakov doslídžennâradíacíinoístíikostígíbridnihíntegralʹnihmíkroshem AT volosevičvp doslídžennâradíacíinoístíikostígíbridnihíntegralʹnihmíkroshem AT mokrickiiva electronicmeansinvestigationsdevelopmentresearchofradiationstabilityofhybridintegratedmicrocircuits AT banzakov electronicmeansinvestigationsdevelopmentresearchofradiationstabilityofhybridintegratedmicrocircuits AT volosevičvp electronicmeansinvestigationsdevelopmentresearchofradiationstabilityofhybridintegratedmicrocircuits |