Вольт-фарадные характеристики ионно-имплантированных структур GaAs
Выявлены особенности вольт-фарадных характеристик ионно-имплантированных структур GaAs, обусловленные наличием глубоких центров захвата.
Saved in:
| Published in: | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
|---|---|
| Date: | 2008 |
| Main Authors: | Горев, Н.Б., Коджеспирова, И.Ф., Привалов, Е.Н. |
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Published: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2008
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52449 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Вольт-фарадные характеристики ионно-имплантированных структур GaAs / Н.Б. Горев, И.Ф. Коджеспирова, Е.Н. Привалов // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2008. — № 4. — С. 52-54. — Бібліогр.: 6 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineSimilar Items
Вольт-фарадные характеристики ионно-имплантированных структур GaAs
by: Gorev, N. B., et al.
Published: (2008)
by: Gorev, N. B., et al.
Published: (2008)
Вольт-фарадные измерения в тонкопленочных эпитаксиальных структурах GaAs
by: Горев, Н.Б., et al.
Published: (2009)
by: Горев, Н.Б., et al.
Published: (2009)
Диагностика глубоких центров на границе пленка–подложка в тонкопленочных эпитаксиальных структурах GaAs
by: Горев, Н.Б., et al.
Published: (2010)
by: Горев, Н.Б., et al.
Published: (2010)
Прогнозирование напряжения отсечки ионно-имплантированных полевых транзисторов с барьером Шоттки на GaAs
by: Горев, Н.Б., et al.
Published: (2007)
by: Горев, Н.Б., et al.
Published: (2007)
Вольт-фарадные измерения в тонкопленочных эпитаксиальных структурах GaAs
by: Gorev, N. B., et al.
Published: (2009)
by: Gorev, N. B., et al.
Published: (2009)
Прогнозирование разброса параметров полевых транзисторов с барьером Шоттки на GaAs
by: Горев, Н.Б., et al.
Published: (2006)
by: Горев, Н.Б., et al.
Published: (2006)
Формирование резких границ раздела в эпитаксиальных структурах p+-AlGaAs/n-GaAs методом МОС-гидридной эпитаксии
by: Вакив, Н.М., et al.
Published: (2014)
by: Вакив, Н.М., et al.
Published: (2014)
Прогнозирование напряжения отсечки ионно-имплантированных полевых транзисторов с барьером Шоттки на GaAs
by: Gorev, N. B., et al.
Published: (2007)
by: Gorev, N. B., et al.
Published: (2007)
Исследование спектров фотолюминесценции низкоразмерных структур InSb, сформированных в матрице GaSb
by: Андронова, Е.В., et al.
Published: (2011)
by: Андронова, Е.В., et al.
Published: (2011)
Влияние режимов ионного легирования и фотонного отжига на параметры имплантированных слоев n-GaAs:Si
by: Бончик, А.Ю., et al.
Published: (2005)
by: Бончик, А.Ю., et al.
Published: (2005)
Модификация барьерной структуры на основе pAlGaInAs–nGaAs последовательно соединенными потенциальными барьерами
by: Каримов, А.В., et al.
Published: (2009)
by: Каримов, А.В., et al.
Published: (2009)
Элементы твердотельной электроники на основе КНИ-структур и нитевидных кристаллов Si для криогенных температур
by: Дружинин, А.А., et al.
Published: (2014)
by: Дружинин, А.А., et al.
Published: (2014)
Формирование гетероструктур GaTe/CdSe для использования в солнечных элементах
by: Балицкий, А.А.
Published: (2005)
by: Балицкий, А.А.
Published: (2005)
Гетеропереходы, сформированные отжигом слоистых кристаллов GaSe и InSe в парах цинка
by: Кудринский, З.Р., et al.
Published: (2012)
by: Кудринский, З.Р., et al.
Published: (2012)
Свойства эпитаксиальных слоев GaAs, легированных редкоземельными элементами
by: Круковский, С.И., et al.
Published: (2007)
by: Круковский, С.И., et al.
Published: (2007)
Моделирование деградации радиационно-оптических свойств халькогенидных стеклообразных полупроводников
by: Вакив, Н.М.
Published: (2000)
by: Вакив, Н.М.
Published: (2000)
Исследование стойкости слоев поликремния в КНИ-структурах при воздействии электронного облучения и сильного магнитного поля
by: Ховерко, Ю.Н.
Published: (2010)
by: Ховерко, Ю.Н.
Published: (2010)
Получение и свойства пористого карбида кремния
by: Светличная, Л.А., et al.
Published: (2005)
by: Светличная, Л.А., et al.
Published: (2005)
Система паст "Аналог-4" расширяет возможности толстопленочной технологии
by: Пучкова, Н.С., et al.
Published: (2000)
by: Пучкова, Н.С., et al.
Published: (2000)
Наноструктурированная композитная пленка для сенсоров влажности
by: Коваленко, К.Л., et al.
Published: (2009)
by: Коваленко, К.Л., et al.
Published: (2009)
Термоэлектрические свойства сплавов системы TlInTe₂-TlYbTe₂
by: Зарбалиев, М.М., et al.
Published: (2004)
by: Зарбалиев, М.М., et al.
Published: (2004)
Способ определения доли кристаллов в стеклокерамическом диэлектрике
by: Дмитриев, М.В., et al.
Published: (2009)
by: Дмитриев, М.В., et al.
Published: (2009)
Электрические и топологические свойства пленок оксидов, термически выращенных на подложках InSe
by: Катеринчук, В.Н., et al.
Published: (2010)
by: Катеринчук, В.Н., et al.
Published: (2010)
Методика определения параметров структурной и кластерной моделей толстых резистивных пленок
by: Стерхова, А.В., et al.
Published: (2001)
by: Стерхова, А.В., et al.
Published: (2001)
Деградационные превращения в топологически разупорядоченных твердых телах: 2. Мономолекулярная модель кинетики
by: Балицкая, В.А., et al.
Published: (2004)
by: Балицкая, В.А., et al.
Published: (2004)
Оценка параметров компонентов моноармированой стеклокерамики со стеклокристаллической матрицей
by: Дмитриев, М.В., et al.
Published: (2009)
by: Дмитриев, М.В., et al.
Published: (2009)
Прогнозирование параметров стеклокерамики со стеклокристаллической матрицей для разных соотношений компонентов и режимов спекания
by: Дмитриев, М.В., et al.
Published: (2009)
by: Дмитриев, М.В., et al.
Published: (2009)
Газочувствительные элементы на основе пленок SiPcCl₂
by: Алиева, Х.С., et al.
Published: (2010)
by: Алиева, Х.С., et al.
Published: (2010)
Влияние электронного облучения на оптические свойства пленок нанокристаллического SiC на подложках из монокристалла Al₂O₃
by: Семенов, A.В., et al.
Published: (2017)
by: Семенов, A.В., et al.
Published: (2017)
Прогноз диэлектрических потерь в стеклокерамике для разных соотношений массовых долей компонентов
by: Дмитриев, М.В., et al.
Published: (2012)
by: Дмитриев, М.В., et al.
Published: (2012)
Исследование процесса термической деполяризации сегнетокерамики (Pb,Sr)(Zr,Ti)O₃
by: Кузенко, Д.В., et al.
Published: (2011)
by: Кузенко, Д.В., et al.
Published: (2011)
Физические свойства и зонная структура кристаллов (3HgTe)1-x(Al₂Te₃)x, легированных марганцем
by: Марьянчук, П.Д., et al.
Published: (2014)
by: Марьянчук, П.Д., et al.
Published: (2014)
Деградационные превращения в топологически разупорядоченных твердых телах: 1. Математические модели кинетики
by: Вакив, Н.М., et al.
Published: (2003)
by: Вакив, Н.М., et al.
Published: (2003)
Эффективные сцинтилляционные материалы на основе твердых растворов ZnS1–xTex и перспективы их применения
by: Катрунов, К.А., et al.
Published: (2011)
by: Катрунов, К.А., et al.
Published: (2011)
Разработка сцинтилляторов на основе соединений AIIBVI для медицинского и технического радиационного приборостроения
by: Старжинский, Н.Г., et al.
Published: (2009)
by: Старжинский, Н.Г., et al.
Published: (2009)
Гетероструктуры, полученные методом отжига монокристаллов InSe в парах серы
by: Ковалюк, З.Д., et al.
Published: (2009)
by: Ковалюк, З.Д., et al.
Published: (2009)
Использование "эффекта текстуры" для повышения прочности конструкционных материалов
by: Гохман, А.Р., et al.
Published: (2000)
by: Гохман, А.Р., et al.
Published: (2000)
Взрывная кристаллизация тонких пленок полупроводников при облучении y-квантами
by: Храмов, Е.Ф., et al.
Published: (2003)
by: Храмов, Е.Ф., et al.
Published: (2003)
Математические модели формирования химической связи твердых растворов CdSb–ZnSb
by: Ащеулов, А.А., et al.
Published: (2009)
by: Ащеулов, А.А., et al.
Published: (2009)
Прогнозирование диэлектрических свойств некристаллизующейся моноармированной полиматричной стеклокерамики
by: Дмитриев, М.В., et al.
Published: (2008)
by: Дмитриев, М.В., et al.
Published: (2008)
Similar Items
-
Вольт-фарадные характеристики ионно-имплантированных структур GaAs
by: Gorev, N. B., et al.
Published: (2008) -
Вольт-фарадные измерения в тонкопленочных эпитаксиальных структурах GaAs
by: Горев, Н.Б., et al.
Published: (2009) -
Диагностика глубоких центров на границе пленка–подложка в тонкопленочных эпитаксиальных структурах GaAs
by: Горев, Н.Б., et al.
Published: (2010) -
Прогнозирование напряжения отсечки ионно-имплантированных полевых транзисторов с барьером Шоттки на GaAs
by: Горев, Н.Б., et al.
Published: (2007) -
Вольт-фарадные измерения в тонкопленочных эпитаксиальных структурах GaAs
by: Gorev, N. B., et al.
Published: (2009)