Исследование термометрических характеристик GaP-диодов p+–n-типа
Разработана методика получения диодных эпитаксиальных структур фосфида галлия (p⁺–n-типа), изготовлены опытные образцы сенсоров температуры и определены их технические параметры, показана перспективность применения....
Saved in:
| Published in: | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
|---|---|
| Date: | 2008 |
| Main Authors: | , , , , , , , |
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Published: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2008
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52536 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Исследование термометрических характеристик GaP-диодов p⁺–n-типа / В.А. Краснов, Ю.М. Шварц, М.М. Шварц, Д.П. Копко, С.Ю. Ерохин, А.М. Фонкич, С.В. Шутов, Н.И. Сыпко // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2008. — № 6. — С. 38-40. — Бібліогр.: 7 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-52536 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
Краснов, В.А. Шварц, Ю.М. Шварц, М.М. Копко, Д.П. Ерохин, С.Ю. Фонкич, А.М. Шутов, С.В. Сыпко, Н.И. 2014-01-04T18:11:57Z 2014-01-04T18:11:57Z 2008 Исследование термометрических характеристик GaP-диодов p⁺–n-типа / В.А. Краснов, Ю.М. Шварц, М.М. Шварц, Д.П. Копко, С.Ю. Ерохин, А.М. Фонкич, С.В. Шутов, Н.И. Сыпко // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2008. — № 6. — С. 38-40. — Бібліогр.: 7 назв. — рос. 2225-5818 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52536 Разработана методика получения диодных эпитаксиальных структур фосфида галлия (p⁺–n-типа), изготовлены опытные образцы сенсоров температуры и определены их технические параметры, показана перспективность применения. ru Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України Технология и конструирование в электронной аппаратуре Функциональная микро- и наноэлектроника Исследование термометрических характеристик GaP-диодов p+–n-типа Дослідження термометричних характеристик GaP-діодів p⁺–n-типу Investigation of thermometrical characteristics of p⁺–n-GaP diodes Article published earlier |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| title |
Исследование термометрических характеристик GaP-диодов p+–n-типа |
| spellingShingle |
Исследование термометрических характеристик GaP-диодов p+–n-типа Краснов, В.А. Шварц, Ю.М. Шварц, М.М. Копко, Д.П. Ерохин, С.Ю. Фонкич, А.М. Шутов, С.В. Сыпко, Н.И. Функциональная микро- и наноэлектроника |
| title_short |
Исследование термометрических характеристик GaP-диодов p+–n-типа |
| title_full |
Исследование термометрических характеристик GaP-диодов p+–n-типа |
| title_fullStr |
Исследование термометрических характеристик GaP-диодов p+–n-типа |
| title_full_unstemmed |
Исследование термометрических характеристик GaP-диодов p+–n-типа |
| title_sort |
исследование термометрических характеристик gap-диодов p+–n-типа |
| author |
Краснов, В.А. Шварц, Ю.М. Шварц, М.М. Копко, Д.П. Ерохин, С.Ю. Фонкич, А.М. Шутов, С.В. Сыпко, Н.И. |
| author_facet |
Краснов, В.А. Шварц, Ю.М. Шварц, М.М. Копко, Д.П. Ерохин, С.Ю. Фонкич, А.М. Шутов, С.В. Сыпко, Н.И. |
| topic |
Функциональная микро- и наноэлектроника |
| topic_facet |
Функциональная микро- и наноэлектроника |
| publishDate |
2008 |
| language |
Russian |
| container_title |
Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| publisher |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
| format |
Article |
| title_alt |
Дослідження термометричних характеристик GaP-діодів p⁺–n-типу Investigation of thermometrical characteristics of p⁺–n-GaP diodes |
| description |
Разработана методика получения диодных эпитаксиальных структур фосфида галлия (p⁺–n-типа), изготовлены опытные образцы сенсоров температуры и определены их технические параметры, показана перспективность применения.
|
| issn |
2225-5818 |
| url |
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52536 |
| citation_txt |
Исследование термометрических характеристик GaP-диодов p⁺–n-типа / В.А. Краснов, Ю.М. Шварц, М.М. Шварц, Д.П. Копко, С.Ю. Ерохин, А.М. Фонкич, С.В. Шутов, Н.И. Сыпко // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2008. — № 6. — С. 38-40. — Бібліогр.: 7 назв. — рос. |
| work_keys_str_mv |
AT krasnovva issledovanietermometričeskihharakteristikgapdiodovpntipa AT švarcûm issledovanietermometričeskihharakteristikgapdiodovpntipa AT švarcmm issledovanietermometričeskihharakteristikgapdiodovpntipa AT kopkodp issledovanietermometričeskihharakteristikgapdiodovpntipa AT erohinsû issledovanietermometričeskihharakteristikgapdiodovpntipa AT fonkičam issledovanietermometričeskihharakteristikgapdiodovpntipa AT šutovsv issledovanietermometričeskihharakteristikgapdiodovpntipa AT sypkoni issledovanietermometričeskihharakteristikgapdiodovpntipa AT krasnovva doslídžennâtermometričnihharakteristikgapdíodívpntipu AT švarcûm doslídžennâtermometričnihharakteristikgapdíodívpntipu AT švarcmm doslídžennâtermometričnihharakteristikgapdíodívpntipu AT kopkodp doslídžennâtermometričnihharakteristikgapdíodívpntipu AT erohinsû doslídžennâtermometričnihharakteristikgapdíodívpntipu AT fonkičam doslídžennâtermometričnihharakteristikgapdíodívpntipu AT šutovsv doslídžennâtermometričnihharakteristikgapdíodívpntipu AT sypkoni doslídžennâtermometričnihharakteristikgapdíodívpntipu AT krasnovva investigationofthermometricalcharacteristicsofpngapdiodes AT švarcûm investigationofthermometricalcharacteristicsofpngapdiodes AT švarcmm investigationofthermometricalcharacteristicsofpngapdiodes AT kopkodp investigationofthermometricalcharacteristicsofpngapdiodes AT erohinsû investigationofthermometricalcharacteristicsofpngapdiodes AT fonkičam investigationofthermometricalcharacteristicsofpngapdiodes AT šutovsv investigationofthermometricalcharacteristicsofpngapdiodes AT sypkoni investigationofthermometricalcharacteristicsofpngapdiodes |
| first_indexed |
2025-12-07T20:24:57Z |
| last_indexed |
2025-12-07T20:24:57Z |
| _version_ |
1850882494262411264 |