Мелебаев, Д., Мелебаева, Г., Рудь, Ю., & Рудь, В. (2007). Новые возможности фотоэлектрического метода определения высоты барьера в структурах Au–n-GaAs. Технология и конструирование в электронной аппаратуре.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Мелебаев, Д, Г.Д Мелебаева, Ю.В Рудь, und В.Ю Рудь. "Новые возможности фотоэлектрического метода определения высоты барьера в структурах Au–n-GaAs." Технология и конструирование в электронной аппаратуре 2007.
MLA-Zitierstil (8. Ausg.)Мелебаев, Д, et al. "Новые возможности фотоэлектрического метода определения высоты барьера в структурах Au–n-GaAs." Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2007.
Achtung: Diese Zitate sind unter Umständen nicht zu 100% korrekt.