Бойко, Ю., Кузнецов, Г., Савицкий, С., & Третяк, О. (2007). Автоматизированный спектрометр глубоких уровней для исследования полупроводниковых структур. Технология и конструирование в электронной аппаратуре.
Chicago Style (17th ed.) CitationБойко, Ю.В, Г.В Кузнецов, С.М Савицкий, and О.В Третяк. "Автоматизированный спектрометр глубоких уровней для исследования полупроводниковых структур." Технология и конструирование в электронной аппаратуре 2007.
MLA (8th ed.) CitationБойко, Ю.В, et al. "Автоматизированный спектрометр глубоких уровней для исследования полупроводниковых структур." Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2007.
Warning: These citations may not always be 100% accurate.