Современная инфракрасная термография в контроле и диагностике оборудования
Компьютерная инфракрасная термография может быть использована в целях контроля и диагностики промышленных установок, линий производственного оборудования, объектов электронной и компьютерной техники....
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
|---|---|
| Datum: | 2006 |
| Hauptverfasser: | Стевич, З., Райчич-Вуясинович, М., Антич, Д.В., Дамнянович, З. |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Russian |
| Veröffentlicht: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2006
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52921 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Современная инфракрасная термография в контроле и диагностике оборудования / З. Стевич, М Райчич-Вуясинович., Д.В. Антич, З. Дамнянович // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2006. — № 3. — С. 56-58. — Бібліогр.: 7 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineÄhnliche Einträge
-
Дистанционная инфракрасная термография в онкологии
von: Розенфельд, Л.Г., et al.
Veröffentlicht: (2001) -
Влияние гамма-облучения на фотоэлектрические параметры InSe-гетероструктур
von: Ковалюк, З.Д., et al.
Veröffentlicht: (2005) -
Формирование полированной поверхности халькогенидов Bi и Sb в травильных композициях K₂Cr₂O₇–HBr
von: Павлович, И.И., et al.
Veröffentlicht: (2011) -
Закономерности формирования пучка ионов низкой энергии при помощи односеточной ионно-оптической системы
von: Дудин, С.В., et al.
Veröffentlicht: (2009) -
Особенности изготовления Cd1-xZnxTe-детектора ионизирующего излучения
von: Томашик, З.Ф., et al.
Veröffentlicht: (2013)