Современная инфракрасная термография в контроле и диагностике оборудования
Компьютерная инфракрасная термография может быть использована в целях контроля и диагностики промышленных установок, линий производственного оборудования, объектов электронной и компьютерной техники....
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
|---|---|
| Дата: | 2006 |
| Автори: | Стевич, З., Райчич-Вуясинович, М., Антич, Д.В., Дамнянович, З. |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Russian |
| Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2006
|
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52921 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Современная инфракрасная термография в контроле и диагностике оборудования / З. Стевич, М Райчич-Вуясинович., Д.В. Антич, З. Дамнянович // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2006. — № 3. — С. 56-58. — Бібліогр.: 7 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineСхожі ресурси
-
Дистанционная инфракрасная термография в онкологии
за авторством: Розенфельд, Л.Г., та інші
Опубліковано: (2001) -
Влияние гамма-облучения на фотоэлектрические параметры InSe-гетероструктур
за авторством: Ковалюк, З.Д., та інші
Опубліковано: (2005) -
Формирование полированной поверхности халькогенидов Bi и Sb в травильных композициях K₂Cr₂O₇–HBr
за авторством: Павлович, И.И., та інші
Опубліковано: (2011) -
Закономерности формирования пучка ионов низкой энергии при помощи односеточной ионно-оптической системы
за авторством: Дудин, С.В., та інші
Опубліковано: (2009) -
Особенности изготовления Cd1-xZnxTe-детектора ионизирующего излучения
за авторством: Томашик, З.Ф., та інші
Опубліковано: (2013)