Исследование собственных и примесных точечных дефектов в сапфировых подложках люминесцентными методами
Предложено использовать люминесценцию в качестве экспресс-метода определения собственных и примесных точечных дефектов в кристаллах сапфира и сапфировых подложках....
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
|---|---|
| Datum: | 2006 |
| Hauptverfasser: | , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Russisch |
| Veröffentlicht: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2006
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52922 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Исследование собственных и примесных точечных дефектов в сапфировых подложках люминесцентными методами / Д.И. Блецкан, А.Р Лукьянчук.,Я.М. Пекар // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2006. — № 3. — С. 59-64. — Бібліогр.: 29 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862542513021124608 |
|---|---|
| author | Блецкан, Д.И. Лукьянчук, А.Р. Пекар, Я.М. |
| author_facet | Блецкан, Д.И. Лукьянчук, А.Р. Пекар, Я.М. |
| citation_txt | Исследование собственных и примесных точечных дефектов в сапфировых подложках люминесцентными методами / Д.И. Блецкан, А.Р Лукьянчук.,Я.М. Пекар // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2006. — № 3. — С. 59-64. — Бібліогр.: 29 назв. — рос. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| description | Предложено использовать люминесценцию в качестве экспресс-метода определения собственных и примесных точечных дефектов в кристаллах сапфира и сапфировых подложках.
|
| first_indexed | 2025-11-24T19:11:20Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-52922 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 2225-5818 |
| language | Russian |
| last_indexed | 2025-11-24T19:11:20Z |
| publishDate | 2006 |
| publisher | Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Блецкан, Д.И. Лукьянчук, А.Р. Пекар, Я.М. 2014-01-10T00:36:06Z 2014-01-10T00:36:06Z 2006 Исследование собственных и примесных точечных дефектов в сапфировых подложках люминесцентными методами / Д.И. Блецкан, А.Р Лукьянчук.,Я.М. Пекар // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2006. — № 3. — С. 59-64. — Бібліогр.: 29 назв. — рос. 2225-5818 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52922 Предложено использовать люминесценцию в качестве экспресс-метода определения собственных и примесных точечных дефектов в кристаллах сапфира и сапфировых подложках. ru Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України Технология и конструирование в электронной аппаратуре Материалы электроники Исследование собственных и примесных точечных дефектов в сапфировых подложках люминесцентными методами Дослідження власних та домішкових точкових дефектів в сапфірових підкладинках люмінесцентними методами Study proper and doped point defects in sapphire substrates by luminescence methods Article published earlier |
| spellingShingle | Исследование собственных и примесных точечных дефектов в сапфировых подложках люминесцентными методами Блецкан, Д.И. Лукьянчук, А.Р. Пекар, Я.М. Материалы электроники |
| title | Исследование собственных и примесных точечных дефектов в сапфировых подложках люминесцентными методами |
| title_alt | Дослідження власних та домішкових точкових дефектів в сапфірових підкладинках люмінесцентними методами Study proper and doped point defects in sapphire substrates by luminescence methods |
| title_full | Исследование собственных и примесных точечных дефектов в сапфировых подложках люминесцентными методами |
| title_fullStr | Исследование собственных и примесных точечных дефектов в сапфировых подложках люминесцентными методами |
| title_full_unstemmed | Исследование собственных и примесных точечных дефектов в сапфировых подложках люминесцентными методами |
| title_short | Исследование собственных и примесных точечных дефектов в сапфировых подложках люминесцентными методами |
| title_sort | исследование собственных и примесных точечных дефектов в сапфировых подложках люминесцентными методами |
| topic | Материалы электроники |
| topic_facet | Материалы электроники |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52922 |
| work_keys_str_mv | AT bleckandi issledovaniesobstvennyhiprimesnyhtočečnyhdefektovvsapfirovyhpodložkahlûminescentnymimetodami AT lukʹânčukar issledovaniesobstvennyhiprimesnyhtočečnyhdefektovvsapfirovyhpodložkahlûminescentnymimetodami AT pekarâm issledovaniesobstvennyhiprimesnyhtočečnyhdefektovvsapfirovyhpodložkahlûminescentnymimetodami AT bleckandi doslídžennâvlasnihtadomíškovihtočkovihdefektívvsapfírovihpídkladinkahlûmínescentnimimetodami AT lukʹânčukar doslídžennâvlasnihtadomíškovihtočkovihdefektívvsapfírovihpídkladinkahlûmínescentnimimetodami AT pekarâm doslídžennâvlasnihtadomíškovihtočkovihdefektívvsapfírovihpídkladinkahlûmínescentnimimetodami AT bleckandi studyproperanddopedpointdefectsinsapphiresubstratesbyluminescencemethods AT lukʹânčukar studyproperanddopedpointdefectsinsapphiresubstratesbyluminescencemethods AT pekarâm studyproperanddopedpointdefectsinsapphiresubstratesbyluminescencemethods |