Исследование собственных и примесных точечных дефектов в сапфировых подложках люминесцентными методами - Блецкан, Д.И.; Лукьянчук, А.Р.; Пекар, Я.М. (Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2006)
Предложено использовать люминесценцию в качестве экспресс-метода определения собственных и примесных точечных дефектов в кристаллах сапфира и сапфировых подложках.