Исследование собственных и примесных точечных дефектов в сапфировых подложках люминесцентными методами

• Date: 2006
• Main Authors: Блецкан, Д.И., Лукьянчук, А.Р., Пекар, Я.М.
• Format: Article
• Language: Russian
• Published: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2006
• Series: Технология и конструирование в электронной аппаратуре
• Subjects: Материалы электроники
• Online Access: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/52922
• Journal Title: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Cite this: Исследование собственных и примесных точечных дефектов в сапфировых подложках люминесцентными методами / Д.И. Блецкан, А.Р Лукьянчук.,Я.М. Пекар // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2006. — № 3. — С. 59-64. — Бібліогр.: 29 назв. — рос.

Предложено использовать люминесценцию в качестве экспресс-метода определения собственных и примесных точечных дефектов в кристаллах сапфира и сапфировых подложках....