Сетевая система контроля технологического процесса выращивания полупроводниковых кристаллов и тонких пленок

Экспериментальное моделирование аппаратно-программного обеспечения показало достаточную надежность работы системы и значительное уменьшение трудоемкости контроля и управления параметрами технологического процесса....

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Published in:Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Date:2005
Main Authors: Рогов, Р.В., Мельничук, С.В., Воробец, Г.И.
Format: Article
Language:Russian
Published: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2005
Subjects:
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/53633
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Сетевая система контроля технологического процесса выращивания полупроводниковых кристаллов и тонких пленок / Р.В. Рогов, С.В. Мельничук, Г.И. Воробец // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2005. — № 5. — С. 52-54. — Бібліогр.: 6 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-53633
record_format dspace
spelling Рогов, Р.В.
Мельничук, С.В.
Воробец, Г.И.
2014-01-25T13:00:41Z
2014-01-25T13:00:41Z
2005
Сетевая система контроля технологического процесса выращивания полупроводниковых кристаллов и тонких пленок / Р.В. Рогов, С.В. Мельничук, Г.И. Воробец // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2005. — № 5. — С. 52-54. — Бібліогр.: 6 назв. — рос.
2225-5818
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/53633
Экспериментальное моделирование аппаратно-программного обеспечения показало достаточную надежность работы системы и значительное уменьшение трудоемкости контроля и управления параметрами технологического процесса.
ru
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Технологические процессы и оборудование
Сетевая система контроля технологического процесса выращивания полупроводниковых кристаллов и тонких пленок
Мережева система контролю технологічного процесу вирощування напівпровідникових кристалів і тонких плівок
Network system for control of the technological process of the growth of semiconducting crystals and thin films
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title Сетевая система контроля технологического процесса выращивания полупроводниковых кристаллов и тонких пленок
spellingShingle Сетевая система контроля технологического процесса выращивания полупроводниковых кристаллов и тонких пленок
Рогов, Р.В.
Мельничук, С.В.
Воробец, Г.И.
Технологические процессы и оборудование
title_short Сетевая система контроля технологического процесса выращивания полупроводниковых кристаллов и тонких пленок
title_full Сетевая система контроля технологического процесса выращивания полупроводниковых кристаллов и тонких пленок
title_fullStr Сетевая система контроля технологического процесса выращивания полупроводниковых кристаллов и тонких пленок
title_full_unstemmed Сетевая система контроля технологического процесса выращивания полупроводниковых кристаллов и тонких пленок
title_sort сетевая система контроля технологического процесса выращивания полупроводниковых кристаллов и тонких пленок
author Рогов, Р.В.
Мельничук, С.В.
Воробец, Г.И.
author_facet Рогов, Р.В.
Мельничук, С.В.
Воробец, Г.И.
topic Технологические процессы и оборудование
topic_facet Технологические процессы и оборудование
publishDate 2005
language Russian
container_title Технология и конструирование в электронной аппаратуре
publisher Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
format Article
title_alt Мережева система контролю технологічного процесу вирощування напівпровідникових кристалів і тонких плівок
Network system for control of the technological process of the growth of semiconducting crystals and thin films
description Экспериментальное моделирование аппаратно-программного обеспечения показало достаточную надежность работы системы и значительное уменьшение трудоемкости контроля и управления параметрами технологического процесса.
issn 2225-5818
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/53633
citation_txt Сетевая система контроля технологического процесса выращивания полупроводниковых кристаллов и тонких пленок / Р.В. Рогов, С.В. Мельничук, Г.И. Воробец // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2005. — № 5. — С. 52-54. — Бібліогр.: 6 назв. — рос.
work_keys_str_mv AT rogovrv setevaâsistemakontrolâtehnologičeskogoprocessavyraŝivaniâpoluprovodnikovyhkristallovitonkihplenok
AT melʹničuksv setevaâsistemakontrolâtehnologičeskogoprocessavyraŝivaniâpoluprovodnikovyhkristallovitonkihplenok
AT vorobecgi setevaâsistemakontrolâtehnologičeskogoprocessavyraŝivaniâpoluprovodnikovyhkristallovitonkihplenok
AT rogovrv mereževasistemakontrolûtehnologíčnogoprocesuviroŝuvannânapívprovídnikovihkristalívítonkihplívok
AT melʹničuksv mereževasistemakontrolûtehnologíčnogoprocesuviroŝuvannânapívprovídnikovihkristalívítonkihplívok
AT vorobecgi mereževasistemakontrolûtehnologíčnogoprocesuviroŝuvannânapívprovídnikovihkristalívítonkihplívok
AT rogovrv networksystemforcontrolofthetechnologicalprocessofthegrowthofsemiconductingcrystalsandthinfilms
AT melʹničuksv networksystemforcontrolofthetechnologicalprocessofthegrowthofsemiconductingcrystalsandthinfilms
AT vorobecgi networksystemforcontrolofthetechnologicalprocessofthegrowthofsemiconductingcrystalsandthinfilms
first_indexed 2025-12-01T11:17:45Z
last_indexed 2025-12-01T11:17:45Z
_version_ 1850860087473602560