Закономерности деградации светоизлучающих диодов

• Опубліковано в: : Технология и конструирование в электронной аппаратуре
• Дата: 2004
• Автори: Викулин, И.М., Ирха, В.И., Коробицын, Б.В., Горбачев, В.Э.
• Формат: Стаття
• Мова: Russian
• Опубліковано: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2004
• Теми: Контроль. Качество. Надежность
• Онлайн доступ: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/53801
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Цитувати: Закономерности деградации светоизлучающих диодов / И.М. Викулин, В.И. Ирха, Б.В. Коробицын, В.Э. Горбачев // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2004. — № 2. — С. 55-56. — Бібліогр.: 5 назв. — рос.

Предложен метод тестирования фосфид-галлиевых светоизлучающих диодов на величину срока службы, значительно сокращающий время отбраковки ненадежных СИД в производстве.