Закономерности деградации светоизлучающих диодов
Предложен метод тестирования фосфид-галлиевых светоизлучающих диодов на величину срока службы, значительно сокращающий время отбраковки ненадежных СИД в производстве....
Saved in:
| Published in: | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
|---|---|
| Date: | 2004 |
| Main Authors: | , , , |
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Published: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2004
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/53801 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Закономерности деградации светоизлучающих диодов / И.М. Викулин, В.И. Ирха, Б.В. Коробицын, В.Э. Горбачев // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2004. — № 2. — С. 55-56. — Бібліогр.: 5 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862716050854903808 |
|---|---|
| author | Викулин, И.М. Ирха, В.И. Коробицын, Б.В. Горбачев, В.Э. |
| author_facet | Викулин, И.М. Ирха, В.И. Коробицын, Б.В. Горбачев, В.Э. |
| citation_txt | Закономерности деградации светоизлучающих диодов / И.М. Викулин, В.И. Ирха, Б.В. Коробицын, В.Э. Горбачев // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2004. — № 2. — С. 55-56. — Бібліогр.: 5 назв. — рос. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| description | Предложен метод тестирования фосфид-галлиевых светоизлучающих диодов на величину срока службы, значительно сокращающий время отбраковки ненадежных СИД в производстве.
|
| first_indexed | 2025-12-07T18:02:12Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-53801 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 2225-5818 |
| language | Russian |
| last_indexed | 2025-12-07T18:02:12Z |
| publishDate | 2004 |
| publisher | Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Викулин, И.М. Ирха, В.И. Коробицын, Б.В. Горбачев, В.Э. 2014-01-27T18:27:29Z 2014-01-27T18:27:29Z 2004 Закономерности деградации светоизлучающих диодов / И.М. Викулин, В.И. Ирха, Б.В. Коробицын, В.Э. Горбачев // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2004. — № 2. — С. 55-56. — Бібліогр.: 5 назв. — рос. 2225-5818 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/53801 Предложен метод тестирования фосфид-галлиевых светоизлучающих диодов на величину срока службы, значительно сокращающий время отбраковки ненадежных СИД в производстве. ru Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України Технология и конструирование в электронной аппаратуре Контроль. Качество. Надежность Закономерности деградации светоизлучающих диодов Закономірності деградації світловипромінюючих діодів Legitimacies of a degradation of light-emitting diodes Article published earlier |
| spellingShingle | Закономерности деградации светоизлучающих диодов Викулин, И.М. Ирха, В.И. Коробицын, Б.В. Горбачев, В.Э. Контроль. Качество. Надежность |
| title | Закономерности деградации светоизлучающих диодов |
| title_alt | Закономірності деградації світловипромінюючих діодів Legitimacies of a degradation of light-emitting diodes |
| title_full | Закономерности деградации светоизлучающих диодов |
| title_fullStr | Закономерности деградации светоизлучающих диодов |
| title_full_unstemmed | Закономерности деградации светоизлучающих диодов |
| title_short | Закономерности деградации светоизлучающих диодов |
| title_sort | закономерности деградации светоизлучающих диодов |
| topic | Контроль. Качество. Надежность |
| topic_facet | Контроль. Качество. Надежность |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/53801 |
| work_keys_str_mv | AT vikulinim zakonomernostidegradaciisvetoizlučaûŝihdiodov AT irhavi zakonomernostidegradaciisvetoizlučaûŝihdiodov AT korobicynbv zakonomernostidegradaciisvetoizlučaûŝihdiodov AT gorbačevvé zakonomernostidegradaciisvetoizlučaûŝihdiodov AT vikulinim zakonomírnostídegradacíísvítlovipromínûûčihdíodív AT irhavi zakonomírnostídegradacíísvítlovipromínûûčihdíodív AT korobicynbv zakonomírnostídegradacíísvítlovipromínûûčihdíodív AT gorbačevvé zakonomírnostídegradacíísvítlovipromínûûčihdíodív AT vikulinim legitimaciesofadegradationoflightemittingdiodes AT irhavi legitimaciesofadegradationoflightemittingdiodes AT korobicynbv legitimaciesofadegradationoflightemittingdiodes AT gorbačevvé legitimaciesofadegradationoflightemittingdiodes |