Закономерности деградации светоизлучающих диодов
Предложен метод тестирования фосфид-галлиевых светоизлучающих диодов на величину срока службы, значительно сокращающий время отбраковки ненадежных СИД в производстве....
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
|---|---|
| Дата: | 2004 |
| Автори: | , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Російська |
| Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2004
|
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/53801 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Закономерности деградации светоизлучающих диодов / И.М. Викулин, В.И. Ирха, Б.В. Коробицын, В.Э. Горбачев // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2004. — № 2. — С. 55-56. — Бібліогр.: 5 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862716050854903808 |
|---|---|
| author | Викулин, И.М. Ирха, В.И. Коробицын, Б.В. Горбачев, В.Э. |
| author_facet | Викулин, И.М. Ирха, В.И. Коробицын, Б.В. Горбачев, В.Э. |
| citation_txt | Закономерности деградации светоизлучающих диодов / И.М. Викулин, В.И. Ирха, Б.В. Коробицын, В.Э. Горбачев // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2004. — № 2. — С. 55-56. — Бібліогр.: 5 назв. — рос. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| description | Предложен метод тестирования фосфид-галлиевых светоизлучающих диодов на величину срока службы, значительно сокращающий время отбраковки ненадежных СИД в производстве.
|
| first_indexed | 2025-12-07T18:02:12Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-53801 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 2225-5818 |
| language | Russian |
| last_indexed | 2025-12-07T18:02:12Z |
| publishDate | 2004 |
| publisher | Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Викулин, И.М. Ирха, В.И. Коробицын, Б.В. Горбачев, В.Э. 2014-01-27T18:27:29Z 2014-01-27T18:27:29Z 2004 Закономерности деградации светоизлучающих диодов / И.М. Викулин, В.И. Ирха, Б.В. Коробицын, В.Э. Горбачев // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2004. — № 2. — С. 55-56. — Бібліогр.: 5 назв. — рос. 2225-5818 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/53801 Предложен метод тестирования фосфид-галлиевых светоизлучающих диодов на величину срока службы, значительно сокращающий время отбраковки ненадежных СИД в производстве. ru Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України Технология и конструирование в электронной аппаратуре Контроль. Качество. Надежность Закономерности деградации светоизлучающих диодов Закономірності деградації світловипромінюючих діодів Legitimacies of a degradation of light-emitting diodes Article published earlier |
| spellingShingle | Закономерности деградации светоизлучающих диодов Викулин, И.М. Ирха, В.И. Коробицын, Б.В. Горбачев, В.Э. Контроль. Качество. Надежность |
| title | Закономерности деградации светоизлучающих диодов |
| title_alt | Закономірності деградації світловипромінюючих діодів Legitimacies of a degradation of light-emitting diodes |
| title_full | Закономерности деградации светоизлучающих диодов |
| title_fullStr | Закономерности деградации светоизлучающих диодов |
| title_full_unstemmed | Закономерности деградации светоизлучающих диодов |
| title_short | Закономерности деградации светоизлучающих диодов |
| title_sort | закономерности деградации светоизлучающих диодов |
| topic | Контроль. Качество. Надежность |
| topic_facet | Контроль. Качество. Надежность |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/53801 |
| work_keys_str_mv | AT vikulinim zakonomernostidegradaciisvetoizlučaûŝihdiodov AT irhavi zakonomernostidegradaciisvetoizlučaûŝihdiodov AT korobicynbv zakonomernostidegradaciisvetoizlučaûŝihdiodov AT gorbačevvé zakonomernostidegradaciisvetoizlučaûŝihdiodov AT vikulinim zakonomírnostídegradacíísvítlovipromínûûčihdíodív AT irhavi zakonomírnostídegradacíísvítlovipromínûûčihdíodív AT korobicynbv zakonomírnostídegradacíísvítlovipromínûûčihdíodív AT gorbačevvé zakonomírnostídegradacíísvítlovipromínûûčihdíodív AT vikulinim legitimaciesofadegradationoflightemittingdiodes AT irhavi legitimaciesofadegradationoflightemittingdiodes AT korobicynbv legitimaciesofadegradationoflightemittingdiodes AT gorbačevvé legitimaciesofadegradationoflightemittingdiodes |