Закономерности деградации светоизлучающих диодов - Викулин, И.М.; Ирха, В.И.; Коробицын, Б.В.; Горбачев, В.Э. (Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2004)
Предложен метод тестирования фосфид-галлиевых светоизлучающих диодов на величину срока службы, значительно сокращающий время отбраковки ненадежных СИД в производстве.