Закономерности деградации светоизлучающих диодов

• Veröffentlicht in: Технология и конструирование в электронной аппаратуре
• Datum: 2004
• Hauptverfasser: Викулин, И.М., Ирха, В.И., Коробицын, Б.В., Горбачев, В.Э.
• Format: Artikel
• Sprache: Russian
• Veröffentlicht: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2004
• Schlagworte: Контроль. Качество. Надежность
• Online Zugang: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/53801
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Zitieren: Закономерности деградации светоизлучающих диодов / И.М. Викулин, В.И. Ирха, Б.В. Коробицын, В.Э. Горбачев // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2004. — № 2. — С. 55-56. — Бібліогр.: 5 назв. — рос.

Предложен метод тестирования фосфид-галлиевых светоизлучающих диодов на величину срока службы, значительно сокращающий время отбраковки ненадежных СИД в производстве....