Использование фотоприемных устройств в качестве контрольных для снижения погрешности измерений

• Veröffentlicht in: Технология и конструирование в электронной аппаратуре
• Datum: 2004
• Hauptverfasser: Ницович, Б.М., Докторович, И.В., Годованюк, В.Н., Бутенко, В.К., Юрьев, В.Г.
• Format: Artikel
• Sprache: Russian
• Veröffentlicht: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2004
• Schlagworte: Функциональная микроэлектроника
• Online Zugang: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/54425
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Zitieren: Использование фотоприемных устройств в качестве контрольных для снижения погрешности измерений / Б.М. Ницович, И.В. Докторович, В.Н. Годованюк, В.К. Бутенко, В.Г. Юрьев // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2004. — № 3. — С. 34-37. — Бібліогр.: 4 назв. — рос.

Приведены результаты исследований метрологических характеристик методик измерений вольтовой чувствительности и обнаружительной способности фотоприемных устройств....