Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов
Для диагностики качества полупроводниковых диодов, изготавливаемых методом сварко-пайки, предлагается использовать изображение излучения кристалла.
Saved in:
| Published in: | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
|---|---|
| Date: | 2004 |
| Main Authors: | , , |
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Published: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2004
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/54435 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов / С.П. Павлюк, Л.В. Ищук, В.М. Кислицын // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2004. — № 3. — С. 62-64. — Бібліогр.: 10 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862740481496055808 |
|---|---|
| author | Павлюк, С.П. Ищук, Л.В. Кислицын, В.М. |
| author_facet | Павлюк, С.П. Ищук, Л.В. Кислицын, В.М. |
| citation_txt | Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов / С.П. Павлюк, Л.В. Ищук, В.М. Кислицын // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2004. — № 3. — С. 62-64. — Бібліогр.: 10 назв. — рос. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| description | Для диагностики качества полупроводниковых диодов, изготавливаемых методом сварко-пайки, предлагается использовать изображение излучения кристалла.
|
| first_indexed | 2025-12-07T20:14:45Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-54435 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 2225-5818 |
| language | Russian |
| last_indexed | 2025-12-07T20:14:45Z |
| publishDate | 2004 |
| publisher | Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Павлюк, С.П. Ищук, Л.В. Кислицын, В.М. 2014-02-01T22:20:39Z 2014-02-01T22:20:39Z 2004 Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов / С.П. Павлюк, Л.В. Ищук, В.М. Кислицын // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2004. — № 3. — С. 62-64. — Бібліогр.: 10 назв. — рос. 2225-5818 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/54435 Для диагностики качества полупроводниковых диодов, изготавливаемых методом сварко-пайки, предлагается использовать изображение излучения кристалла. ru Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України Технология и конструирование в электронной аппаратуре Интегральные схемы и полупроводниковые приборы Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов Експрес-метод контролю якості напівпровідникових діодних кристалів Express-method of semiconductor diode crystal quality diagnostics Article published earlier |
| spellingShingle | Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов Павлюк, С.П. Ищук, Л.В. Кислицын, В.М. Интегральные схемы и полупроводниковые приборы |
| title | Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов |
| title_alt | Експрес-метод контролю якості напівпровідникових діодних кристалів Express-method of semiconductor diode crystal quality diagnostics |
| title_full | Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов |
| title_fullStr | Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов |
| title_full_unstemmed | Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов |
| title_short | Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов |
| title_sort | экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов |
| topic | Интегральные схемы и полупроводниковые приборы |
| topic_facet | Интегральные схемы и полупроводниковые приборы |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/54435 |
| work_keys_str_mv | AT pavlûksp ékspressmetodkontrolâkačestvapoluprovodnikovyhdiodnyhkristallov AT iŝuklv ékspressmetodkontrolâkačestvapoluprovodnikovyhdiodnyhkristallov AT kislicynvm ékspressmetodkontrolâkačestvapoluprovodnikovyhdiodnyhkristallov AT pavlûksp ekspresmetodkontrolûâkostínapívprovídnikovihdíodnihkristalív AT iŝuklv ekspresmetodkontrolûâkostínapívprovídnikovihdíodnihkristalív AT kislicynvm ekspresmetodkontrolûâkostínapívprovídnikovihdíodnihkristalív AT pavlûksp expressmethodofsemiconductordiodecrystalqualitydiagnostics AT iŝuklv expressmethodofsemiconductordiodecrystalqualitydiagnostics AT kislicynvm expressmethodofsemiconductordiodecrystalqualitydiagnostics |