Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов

Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов

Для диагностики качества полупроводниковых диодов, изготавливаемых методом сварко-пайки, предлагается использовать изображение излучения кристалла.

Saved in:
Bibliographic Details
Published in:Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Date:2004
Main Authors: Павлюк, С.П., Ищук, Л.В., Кислицын, В.М.
Format: Article
Language:Russian
Published: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2004
Subjects:
Интегральные схемы и полупроводниковые приборы
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/54435
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов / С.П. Павлюк, Л.В. Ищук, В.М. Кислицын // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2004. — № 3. — С. 62-64. — Бібліогр.: 10 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-54435
record_format dspace
spelling Павлюк, С.П.
Ищук, Л.В.
Кислицын, В.М.
2014-02-01T22:20:39Z
2014-02-01T22:20:39Z
2004
Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов / С.П. Павлюк, Л.В. Ищук, В.М. Кислицын // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2004. — № 3. — С. 62-64. — Бібліогр.: 10 назв. — рос.
2225-5818
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/54435
Для диагностики качества полупроводниковых диодов, изготавливаемых методом сварко-пайки, предлагается использовать изображение излучения кристалла.
ru
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Интегральные схемы и полупроводниковые приборы
Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов
Експрес-метод контролю якості напівпровідникових діодних кристалів
Express-method of semiconductor diode crystal quality diagnostics
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов
spellingShingle Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов
Павлюк, С.П.
Ищук, Л.В.
Кислицын, В.М.
Интегральные схемы и полупроводниковые приборы
title_short Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов
title_full Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов
title_fullStr Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов
title_full_unstemmed Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов
title_sort экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов
author Павлюк, С.П.
Ищук, Л.В.
Кислицын, В.М.
author_facet Павлюк, С.П.
Ищук, Л.В.
Кислицын, В.М.
topic Интегральные схемы и полупроводниковые приборы
topic_facet Интегральные схемы и полупроводниковые приборы
publishDate 2004
language Russian
container_title Технология и конструирование в электронной аппаратуре
publisher Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
format Article
title_alt Експрес-метод контролю якості напівпровідникових діодних кристалів
Express-method of semiconductor diode crystal quality diagnostics
description Для диагностики качества полупроводниковых диодов, изготавливаемых методом сварко-пайки, предлагается использовать изображение излучения кристалла.
issn 2225-5818
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/54435
citation_txt Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов / С.П. Павлюк, Л.В. Ищук, В.М. Кислицын // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2004. — № 3. — С. 62-64. — Бібліогр.: 10 назв. — рос.
work_keys_str_mv AT pavlûksp ékspressmetodkontrolâkačestvapoluprovodnikovyhdiodnyhkristallov
AT iŝuklv ékspressmetodkontrolâkačestvapoluprovodnikovyhdiodnyhkristallov
AT kislicynvm ékspressmetodkontrolâkačestvapoluprovodnikovyhdiodnyhkristallov
AT pavlûksp ekspresmetodkontrolûâkostínapívprovídnikovihdíodnihkristalív
AT iŝuklv ekspresmetodkontrolûâkostínapívprovídnikovihdíodnihkristalív
AT kislicynvm ekspresmetodkontrolûâkostínapívprovídnikovihdíodnihkristalív
AT pavlûksp expressmethodofsemiconductordiodecrystalqualitydiagnostics
AT iŝuklv expressmethodofsemiconductordiodecrystalqualitydiagnostics
AT kislicynvm expressmethodofsemiconductordiodecrystalqualitydiagnostics
first_indexed 2025-12-07T20:14:45Z
last_indexed 2025-12-07T20:14:45Z
_version_ 1850881852374515712

Similar Items