Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов - Павлюк, С.П.; Ищук, Л.В.; Кислицын, В.М. (Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2004)
Для диагностики качества полупроводниковых диодов, изготавливаемых методом сварко-пайки, предлагается использовать изображение излучения кристалла.