Cover Image

Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов

Для диагностики качества полупроводниковых диодов, изготавливаемых методом сварко-пайки, предлагается использовать изображение излучения кристалла.

Saved in:

Bibliographic Details
Published in:	Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Date:	2004
Main Authors:	Павлюк, С.П., Ищук, Л.В., Кислицын, В.М.
Format:	Article
Language:	Russian
Published:	Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2004
Subjects:	Интегральные схемы и полупроводниковые приборы
Online Access:	https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/54435
Tags:	Add Tag No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:	Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов / С.П. Павлюк, Л.В. Ищук, В.М. Кислицын // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2004. — № 3. — С. 62-64. — Бібліогр.: 10 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

Similar Items

Активное термостатирование полупроводниковых СВЧ-генераторов
by: Кравченко, А.В., et al.
Published: (2005)

Использование КНИ-транзистора в качестве генератора колебаний напряжения
by: Нинидзе, Г.К., et al.
Published: (2005)

Плазменная технология формирования субмикронных структур БИС
by: Новосядлый, С.П.
Published: (2002)

Однокристальная микро-ЭВМ для систем с высокоразвитыми локальными сетями
by: Вербицкий, В.Г., et al.
Published: (2002)

Разработка конструкции и технологии изготовления диодов Ганна для КВЧ-терапии
by: Иванов, В.Н., et al.
Published: (2004)

Слаботочные диоды Ганна на основе арсенида галлия для КВЧ-аппаратов
by: Яцуненко, А.Г., et al.
Published: (2005)

Механизм возникновения шумовых максимумов в элементах с нелинейными вольт-амперными характеристиками
by: Головко, А.Г.
Published: (2004)

Особенности разработки термостабилизированных германиевых фотодиодов
by: Рюхтин, В.В., et al.
Published: (2004)

Проектирование схемы считывания для матриц ИК-фотодиодов среднего диапазона длин волн
by: Рева, В.П., et al.
Published: (2004)

Схемное решение построения каскадного регистра сдвига
by: Куценко, Г.В.
Published: (2004)

Малосигнальная модель транзистора в разработке СВЧ малошумящих усилителей
by: Емцев, П.А.
Published: (2004)

КМОП БИС 16-разрядного микропроцессора, устойчивого к воздействию γ-радиации
by: Вербицкий, В.Г., et al.
Published: (2004)

Кинетика десорбционной очистки поверхности кремниевых пластин в перекисно-аммиачных растворах
by: Полтавцев, Ю.Г., et al.
Published: (2003)

Однокристальная микро-ЭВМ с аналого-цифровым преобразователем
by: Вербицкий, В.Г., et al.
Published: (2001)

Схемотехническое моделирование и синтез активных СВЧ-фильтров на полевых транзисторах Шоттки
by: Филинюк, Н.А., et al.
Published: (2005)

Проектирование высоковольтных КМОП ИС ключей и коммутаторов на основе объемного кремния
by: Вербицкий, В.Г., et al.
Published: (2001)

Влияние кремниевой подложки на пробивное напряжение разветвленного n++-p+-перехода
by: Сидоренко, В.П., et al.
Published: (2003)

Конструктивно-технологические ограничения при проектировании высоковольтных КМОП БИС
by: Вербицкий, В.Г., et al.
Published: (2002)

Энергонезависимая память на элементах FLOTOX для БИС электронных карт
by: Сидоренко, В.П., et al.
Published: (2002)

БИС электронных пластиковых карт с предварительной оплатой
by: Сидоренко, В.П., et al.
Published: (2001)

Контактообразующие пленки боридов и нитридов титана в арсенидгаллиевых СВЧ-приборах
by: Иванов, В.Н., et al.
Published: (2002)

Оптимизация уровня безотказности в сложных устройствах микроэлектроники
by: Креденцер, Б.П., et al.
Published: (2002)

Схемное решение построения матричного регистра
by: Куценко, Г.В.
Published: (2005)

Силовая микросхема для блоков управления газоразрядными источниками света
by: Гаврилюк, Г.И., et al.
Published: (2002)

КМОП ИС задающего генератора с кварцевой стабилизацией частоты
by: Золотаревский, В.И., et al.
Published: (2003)

Устройства считывания информации с крупноформатных матриц ИК-фотодиодов
by: Reva, V. P., et al.
Published: (2011)

Оборудование для формирования омических контактов полупроводниковых приборов на основе соединений A3B5
by: Aleksandrov, S. B., et al.
Published: (2011)

Исследование воспроизводимости электрофизических параметров толстопленочных структур "RuO2-стекло"
by: Kurmashev, Sh. D., et al.
Published: (2005)

Умножители частоты миллиметрового диапазона на полупроводниковых диодных структурах
by: Карушкин, Н.Ф.
Published: (2018)

Использование эффекта Кирлиан для контроля качества полупроводниковых пластин
by: Добровольский, Ю.Г.
Published: (1999)

Усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники
by: Popov, V. M., et al.
Published: (2008)

Сетевая система контроля технологического процесса выращивания полупроводниковых кристаллов и тонких пленок
by: Рогов, Р.В., et al.
Published: (2005)

Сетевая система контроля технологического процесса выращивания полупроводниковых кристаллов и тонких пленок
by: Rogov, R. V., et al.
Published: (2005)

Частотный метод контроля качества гальванопокрытий
by: Безотосный, В.Ф., et al.
Published: (2011)

Установка для исследования микропластичности полупроводниковых кристаллов
by: Надточий, В.А., et al.
Published: (2004)

Методика контроля установки направляющих целостата
by: Ганджа, С.И., et al.
Published: (1995)

"Электронный нос" на основе матрицы элементарных полупроводниковых резистивных сенсоров
by: Altukhov, A. A., et al.
Published: (2007)

Ионизационный отжиг полупроводниковых кристаллов. Часть вторая: эксперимент
by: Garkavenko, A. S., et al.
Published: (2014)

Ионизационный отжиг полупроводниковых кристаллов. Часть вторая: эксперимент
by: Гаркавенко, А.С., et al.
Published: (2014)

КОНЦЕПЦИЯ ПОСТРОЕНИЯ ЕМКОСТНЫХ ЗАРЯДНЫХ УЗЛОВ МАГНИТНО-ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ГЕНЕРАТОРОВ
by: Волков, И.В., et al.
Published: (2014)