Измерительный комплекс для определения фотоэлектрических параметров приемников излучения
Комплекс ИКФ-009 позволяет сократить время и стоимость этапов при разработке приемников излучения и повысить достоверность измеряемых параметров при высокой надежности эксплуатации....
Saved in:
| Published in: | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
|---|---|
| Date: | 2004 |
| Main Authors: | Ащеулов, А.А., Дунаенко, А.Х., Фотий, В.Д. |
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Published: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2004
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/56300 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Измерительный комплекс для определения фотоэлектрических параметров приемников излучения / А.А. Ащеулов, А.Х. Дунаенко, В.Д. Фотий // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2004. — № 6. — С. 38-39. — Бібліогр.: 3 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineSimilar Items
Камера тепла и холода для изделий фотоэлектронной техники
by: Дунаенко, А.Х., et al.
Published: (2003)
by: Дунаенко, А.Х., et al.
Published: (2003)
Особенности автоматизации диодных реакторных систем микротравления
by: Будянский, А.М., et al.
Published: (2001)
by: Будянский, А.М., et al.
Published: (2001)
Установка для выращивания малодислокационных монокристаллов GaAs большого диаметра
by: Ковтун, Г.П., et al.
Published: (2001)
by: Ковтун, Г.П., et al.
Published: (2001)
Модернизация установки фотонного отжига полупроводниковых пластин “Оникс”
by: Савицкий, Г.В., et al.
Published: (2002)
by: Савицкий, Г.В., et al.
Published: (2002)
Конструкционные материалы с покрытиями в узлах технологического оборудования
by: Дудник, С.Ф., et al.
Published: (2001)
by: Дудник, С.Ф., et al.
Published: (2001)
Диодные реакторные системы микротравления
by: Фареник, В.И.
Published: (2002)
by: Фареник, В.И.
Published: (2002)
Полупроводниковые гетеропереходы оксид-InSe(GaSe) для фотоэлектрических анализаторов поляризованного излучения
by: Ковалюк, З.Д., et al.
Published: (2004)
by: Ковалюк, З.Д., et al.
Published: (2004)
Выбор полупроводникового материала для детекторов гамма-излучения
by: Абызов, А.С., et al.
Published: (2004)
by: Абызов, А.С., et al.
Published: (2004)
Обработка монокристаллов Сd–Zn–Te для применения в датчиках γ-излучения
by: Мокрицкий, В.А., et al.
Published: (2001)
by: Мокрицкий, В.А., et al.
Published: (2001)
Способы прогнозирования параметров стеклокерамики с межфазным слоем
by: Дмитриев, М.В.
Published: (2001)
by: Дмитриев, М.В.
Published: (2001)
Технологические приемы улучшения теплового режима выращивания кристаллов GaAs методом Чохральского
by: Ковтун, Г.П., et al.
Published: (2004)
by: Ковтун, Г.П., et al.
Published: (2004)
Получение высокочистых галлия, цинка, кадмия и теллура для микроэлектроники
by: Ковтун, Г.П., et al.
Published: (2001)
by: Ковтун, Г.П., et al.
Published: (2001)
Радиационная обработка ИК-фотоприемников на основе CdHgTe
by: Завадский, В.А., et al.
Published: (2001)
by: Завадский, В.А., et al.
Published: (2001)
Исследование контакта "металл—полупроводник на основе НgMnTe"
by: Косяченко, Л.А., et al.
Published: (2002)
by: Косяченко, Л.А., et al.
Published: (2002)
Радиационное легирование сульфида кадмия и арсенида галлия
by: Мокрицкий, В.А., et al.
Published: (2003)
by: Мокрицкий, В.А., et al.
Published: (2003)
Исследование свойств слоев поликремния на изоляторе при криогенных температурах для создания сенсоров
by: Дружинин, А.А., et al.
Published: (2003)
by: Дружинин, А.А., et al.
Published: (2003)
Квантовый выход межзонной излучательной рекомбинации в кристаллах CdHgTe
by: Власенко, А.И., et al.
Published: (2004)
by: Власенко, А.И., et al.
Published: (2004)
Исследование свойств полупроводниковых материалов для детекторов ионизирующих излучений
by: Кондрик, А.И., et al.
Published: (2003)
by: Кондрик, А.И., et al.
Published: (2003)
Математическое моделирование деградации керамических терморезисторов с отрицательным ТКС
by: Балицкая, В.А., et al.
Published: (2002)
by: Балицкая, В.А., et al.
Published: (2002)
Токопроводящий клей на основе порошка меди
by: Каркина, Е.А., et al.
Published: (2001)
by: Каркина, Е.А., et al.
Published: (2001)
Влияние режимов ионного легирования и фотонного отжига на параметры имплантированных слоев n-GaAs:Si
by: Бончик, А.Ю., et al.
Published: (2005)
by: Бончик, А.Ю., et al.
Published: (2005)
Выращивание гетероструктур GaSb/InAs жидкофазной эпитаксией без растворения подложки
by: Марончук, И.Е., et al.
Published: (2003)
by: Марончук, И.Е., et al.
Published: (2003)
Компьютерный измерительный комплекс параметров датчиков физических величин
by: Брайко, Ю.А., et al.
Published: (2004)
by: Брайко, Ю.А., et al.
Published: (2004)
Деградационные превращения в топологически разупорядоченных твердых телах: 3. Бимолекулярная кинетика затухания радиационных эффектов в ХСП
by: Вакив, Н.М.
Published: (2004)
by: Вакив, Н.М.
Published: (2004)
Вакуумное напыление тонких пленок органических полупроводников и исследование их структуры
by: Орлов, В.Д., et al.
Published: (2001)
by: Орлов, В.Д., et al.
Published: (2001)
Комплексный подход к получению высокочистых материалов для микроэлектроники
by: Ажажа, В.М., et al.
Published: (2002)
by: Ажажа, В.М., et al.
Published: (2002)
Кремниевые МДП-структуры с оксидами редкоземельных элементов в качестве диэлектрика
by: Курмашев, Ш.Д., et al.
Published: (2001)
by: Курмашев, Ш.Д., et al.
Published: (2001)
Реальная и предельная чувствительность некоторых приемников излучения ТГц/суб-ТГц-диапазонов
by: Шевчик-Шекера, А.В.
Published: (2012)
by: Шевчик-Шекера, А.В.
Published: (2012)
Бесконтактный метод определения эффективности термоэлектрических материалов
by: Ащеулов, А.А.
Published: (2009)
by: Ащеулов, А.А.
Published: (2009)
Применение метода криоскопии для определения температуры замерзания вод с различным содержанием дейтерия
by: Гончарук, В.В., et al.
Published: (2015)
by: Гончарук, В.В., et al.
Published: (2015)
Информационно-измерительный комплекс для оптоемкостной спектроскопии полупроводников
by: Васильев, В.А.
Published: (2002)
by: Васильев, В.А.
Published: (2002)
ПЕРЕХОДНЫЕ ПРОЦЕССЫ В ВЫХОДНЫХ ЦЕПЯХ ИСТОЧНИКА ПИТАНИЯ, РАБОТАЮЩЕГО НА НЕСТАЦИОНАРНУЮ ТЕХНОЛОГИЧЕСКУЮ НАГРУЗКУ
by: Руденко, Ю.В.
Published: (2013)
by: Руденко, Ю.В.
Published: (2013)
Особенности плазмохимического травления торцов кремниевых пластин для фотоэлектрических преобразователей
by: Федорович, О.А., et al.
Published: (2009)
by: Федорович, О.А., et al.
Published: (2009)
СПЕЦИАЛИЗИРОВАННЫЕ СИСТЕМЫ ЭЛЕКТРОПИТАНИЯ ДЛЯ ЭЛЕКТРОТЕХНОЛОГИЧЕСКОГО ОБОРУДОВАНИЯ
by: Мартынов , В.В., et al.
Published: (2012)
by: Мартынов , В.В., et al.
Published: (2012)
Об определении пороговой чувствительности матричных приемников инфракрасного излучения
by: Формозов, Б.Н.
Published: (2003)
by: Формозов, Б.Н.
Published: (2003)
Координатно-чувствительный анизотропный датчик лазерного излучения
by: Ащеулов, А.А., et al.
Published: (1998)
by: Ащеулов, А.А., et al.
Published: (1998)
Многоцелевой автоматизированный модульно-блочный информационно-измерительный комплекс для мониторинга акваторий
by: Гончар, А.И., et al.
Published: (2012)
by: Гончар, А.И., et al.
Published: (2012)
Характеристики приемников излучения на основе PbS в условиях астрономического применения
by: Жиляев, Б.Е., et al.
Published: (1988)
by: Жиляев, Б.Е., et al.
Published: (1988)
Alamar Blue-тест как метод определения жизнеспособности клеток до и после криоконсервирования
by: Горохова, Н.А., et al.
Published: (2005)
by: Горохова, Н.А., et al.
Published: (2005)
Реальная и предельная чувствительность некоторых приемников излучения ТГц/суб-ТГц-диапазонов
by: Shevchik-Shekera, A. V.
Published: (2012)
by: Shevchik-Shekera, A. V.
Published: (2012)
Similar Items
-
Камера тепла и холода для изделий фотоэлектронной техники
by: Дунаенко, А.Х., et al.
Published: (2003) -
Особенности автоматизации диодных реакторных систем микротравления
by: Будянский, А.М., et al.
Published: (2001) -
Установка для выращивания малодислокационных монокристаллов GaAs большого диаметра
by: Ковтун, Г.П., et al.
Published: (2001) -
Модернизация установки фотонного отжига полупроводниковых пластин “Оникс”
by: Савицкий, Г.В., et al.
Published: (2002) -
Конструкционные материалы с покрытиями в узлах технологического оборудования
by: Дудник, С.Ф., et al.
Published: (2001)