Cover Image

Измерительный комплекс для определения фотоэлектрических параметров приемников излучения

Комплекс ИКФ-009 позволяет сократить время и стоимость этапов при разработке приемников излучения и повысить достоверность измеряемых параметров при высокой надежности эксплуатации....

Full description

Saved in:

Bibliographic Details
Published in:	Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Date:	2004
ISSN:	2225-5818
Main Authors:	Ащеулов, А.А., Дунаенко, А.Х., Фотий, В.Д.
Format:	Article
Language:	Russian
Published:	Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2004
Subjects:	Новое технологическое оборудование для микроэлектроники
Online Access:	https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/56300
Tags:	Add Tag No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:	Измерительный комплекс для определения фотоэлектрических параметров приемников излучения / А.А. Ащеулов, А.Х. Дунаенко, В.Д. Фотий // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2004. — № 6. — С. 38-39. — Бібліогр.: 3 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

Similar Items

Камера тепла и холода для изделий фотоэлектронной техники
by: Дунаенко, А.Х., et al.
Published: (2003)

Особенности автоматизации диодных реакторных систем микротравления
by: Будянский, А.М., et al.
Published: (2001)

Установка для выращивания малодислокационных монокристаллов GaAs большого диаметра
by: Ковтун, Г.П., et al.
Published: (2001)

Модернизация установки фотонного отжига полупроводниковых пластин “Оникс”
by: Савицкий, Г.В., et al.
Published: (2002)

Оборудование для зондовой диагностики и контроля плазменных технологических процессов
by: Дудин, С.В., et al.
Published: (2002)

Конструкционные материалы с покрытиями в узлах технологического оборудования
by: Дудник, С.Ф., et al.
Published: (2001)

Диодные реакторные системы микротравления
by: Фареник, В.И.
Published: (2002)

Установка электрохимического профилирования для диагностирования эпитаксиальных структур GaAs
by: Вакив, Н.М., et al.
Published: (2005)

Измерительный комплекс для определения фотоэлектрических параметров приемников излучения
by: Ashcheulov, A. A., et al.
Published: (2004)

Полупроводниковые гетеропереходы оксид-InSe(GaSe) для фотоэлектрических анализаторов поляризованного излучения
by: Ковалюк, З.Д., et al.
Published: (2004)

Выбор полупроводникового материала для детекторов гамма-излучения
by: Абызов, А.С., et al.
Published: (2004)

Обработка монокристаллов Сd–Zn–Te для применения в датчиках γ-излучения
by: Мокрицкий, В.А., et al.
Published: (2001)

Способы прогнозирования параметров стеклокерамики с межфазным слоем
by: Дмитриев, М.В.
Published: (2001)

Технологические приемы улучшения теплового режима выращивания кристаллов GaAs методом Чохральского
by: Ковтун, Г.П., et al.
Published: (2004)

Радиационная обработка ИК-фотоприемников на основе CdHgTe
by: Завадский, В.А., et al.
Published: (2001)

Получение высокочистых галлия, цинка, кадмия и теллура для микроэлектроники
by: Ковтун, Г.П., et al.
Published: (2001)

Температурное поле в кристалле иттрий-алюминиевого граната при двухстадийном выращивании
by: Ковтун, Г.П., et al.
Published: (2005)

Исследование контакта "металл—полупроводник на основе НgMnTe"
by: Косяченко, Л.А., et al.
Published: (2002)

Исследование свойств слоев поликремния на изоляторе при криогенных температурах для создания сенсоров
by: Дружинин, А.А., et al.
Published: (2003)

Радиационное легирование сульфида кадмия и арсенида галлия
by: Мокрицкий, В.А., et al.
Published: (2003)

Влияние облучения быстрыми нейтронами на эпитаксиальный арсенид галлия
by: Завадский, В.А., et al.
Published: (2002)

Исследование свойств полупроводниковых материалов для детекторов ионизирующих излучений
by: Кондрик, А.И., et al.
Published: (2003)

Квантовый выход межзонной излучательной рекомбинации в кристаллах CdHgTe
by: Власенко, А.И., et al.
Published: (2004)

Математическое моделирование деградации керамических терморезисторов с отрицательным ТКС
by: Балицкая, В.А., et al.
Published: (2002)

Акустостимулированное понижение температуры отжига радиационных дефектов в кристаллах Ge
by: Олих, Я.М., et al.
Published: (2004)

Токопроводящий клей на основе порошка меди
by: Каркина, Е.А., et al.
Published: (2001)

Выращивание гетероструктур GaSb/InAs жидкофазной эпитаксией без растворения подложки
by: Марончук, И.Е., et al.
Published: (2003)

Влияние режимов ионного легирования и фотонного отжига на параметры имплантированных слоев n-GaAs:Si
by: Бончик, А.Ю., et al.
Published: (2005)

Собственные полупроводники группы A³₂B⁶₃ как перспективные материалы для радиационно стойкой электроники
by: Королюк, С.Л., et al.
Published: (2001)

Деградационные превращения в топологически разупорядоченных твердых телах: 4. Особенности экспоненциальной кинетики
by: Балицкая, В.А., et al.
Published: (2005)

Деградационные превращения в топологически разупорядоченных твердых телах: 3. Бимолекулярная кинетика затухания радиационных эффектов в ХСП
by: Вакив, Н.М.
Published: (2004)

Кремниевые МДП-структуры с оксидами редкоземельных элементов в качестве диэлектрика
by: Курмашев, Ш.Д., et al.
Published: (2001)

Комплексный подход к получению высокочистых материалов для микроэлектроники
by: Ажажа, В.М., et al.
Published: (2002)

Вакуумное напыление тонких пленок органических полупроводников и исследование их структуры
by: Орлов, В.Д., et al.
Published: (2001)

Ультрадисперсные субфазы в молекулярной электронике
by: Ковальчук, В.В.
Published: (2002)

Компьютерный измерительный комплекс параметров датчиков физических величин
by: Брайко, Ю.А., et al.
Published: (2004)

Реальная и предельная чувствительность некоторых приемников излучения ТГц/суб-ТГц-диапазонов
by: Шевчик-Шекера, А.В.
Published: (2012)

Бесконтактный метод определения эффективности термоэлектрических материалов
by: Ащеулов, А.А.
Published: (2009)

Применение метода криоскопии для определения температуры замерзания вод с различным содержанием дейтерия
by: Гончарук, В.В., et al.
Published: (2015)

Измерительный комплекс как пространственно-временной фильтр
by: Семесенко, М.П., et al.
Published: (2006)