Модульный спектрометр для оценки качества технологии твердотельных детекторов

• Veröffentlicht in: Технология и конструирование в электронной аппаратуре
• Datum: 2013
• Hauptverfasser: Перевертайло, В.Л., Зайцевский, И.Л., Тарасенко, Л.И., Перевертайло, А.В., Шкиренко, Э.А., Крюков, А.С.
• Format: Artikel
• Sprache: Russisch
• Veröffentlicht: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2013
• Schlagworte: Электронные средства: исследования, разработки
• Online Zugang: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/56313
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Zitieren: Модульный спектрометр для оценки качества технологии твердотельных детекторов / В.Л. Перевертайло, И.Л. Зайцевский, Л.И. Тарасенко, А.В. Перевертайло, Э.А. Шкиренко, А.С. Крюков // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2013. — № 2-3. — С. 3-10. — Бібліогр.: 16 назв. — рос.

Рассмотрено применение зарядочувствительных предусилителей и спектрометрических усилителей для преобразования и усиления сигналов твердотельных детекторов, указаны факторы, определяющие энергетическое разрешение спектрометрического тракта. Описана техника спектрометрии для контроля качества p—i—n-фотодиодов, приведена структура многоцелевой спектрометрической системы, схемные решения ее отдельных узлов, указаны их особенности и параметры. Розглянуто застосування зарядочутливих попередніх підсилювачів і спектрометричних підсилювачів для перетворення і підсилення сигналів твердотільних детекторів, вказані чинники, що визначають енергетичне роздільну здатність спектрометричного тракту. Описано техніку спектрометрії для контролю якості p-i-n-фотодіодів, наведено структуру багатоцільовий спектрометричної системи, схемні рішення її окремих вузлів, вказано їх особливості та параметри. The authors consider application of charge sensitive preamplifiers and spectrometric amplifiers for transformation and amplification of signals of solid state detectors. The factors that determine the energy resolution of the spectrometer path are presented. The article describes the spectrometry technique for p-i-n-photodiodes quality control. The structure of a multi-purpose spectrometer system and schematics of its individual components are presented, their features and parameters are specified.