Оценка параметров DN-распределения с помощью помехоустойчивой кластеризации для автоматизированных систем технической диагностики
Разработан метод оценки параметров DN-распределения при отбраковочных испытаниях изделий электронной техники и процедура реализации этого метода. Повышение помехоустойчивости и снижение погрешности процедуры отбраковки достигается за счет применения мультистартового субградиентного итеративного мето...
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Штучний інтелект |
|---|---|
| Datum: | 2010 |
| 1. Verfasser: | |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Russisch |
| Veröffentlicht: |
Інститут проблем штучного інтелекту МОН України та НАН України
2010
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/58649 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Оценка параметров DN-распределения с помощью помехоустойчивой кластеризации для автоматизированных систем технической диагностики / Г.Ю. Щербакова // Штучний інтелект. — 2010. — № 4. — С. 491-496. — Бібліогр.: 10 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| Zusammenfassung: | Разработан метод оценки параметров DN-распределения при отбраковочных испытаниях изделий электронной техники и процедура реализации этого метода. Повышение помехоустойчивости и снижение погрешности процедуры отбраковки достигается за счет применения мультистартового субградиентного итеративного метода адаптивной кластеризации в пространстве вейвлет-преобразования.
Розроблено метод визначення параметрів DN-розподілу для оцінки надійності під час відбраковування виробів електронної техніки. Запропоновано процедуру реалізації цього методу. Підвищення завадостійкості і достовірності процедури відбраковування досягається за рахунок використання мультистартового субградієнтного ітеративного методу адаптивної кластеризації в просторі вейвлет-перетворення.
The DN-distribution parameters evaluation method and own implementation procedure for the reliability estimation in time of electronic components accelerated life test was carrying out. In that procedure multi starting sub gradient iterative clustering methods for electronic components division in two groups by reliability level is used. That division procedure noise immunity increasing and error decreasing by applying of this clustering method was achieved.
|
|---|---|
| ISSN: | 1561-5359 |