Методика рентгеновского микроанализа водных сульфатов магния и аморфной фазы импактных пород
На примере отработки методики рентгеновского микроанализа геологических объектов (кизерит, импактит) и искусственных материалов (оптоволокно) рассмотрены общие подходы при исследовании образцов, нестабильных под электронным зондом. На прикладі відпрацювання методики рентгенівського мікроаналіз...
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Збірник наукових праць Інституту геологічних наук НАН України |
|---|---|
| Datum: | 2010 |
| 1. Verfasser: | |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Russisch |
| Veröffentlicht: |
Інститут геологічних наук НАН України
2010
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/59466 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Методика рентгеновского микроанализа водных сульфатов магния и аморфной фазы импактных пород / В.В. Пермяков // Зб. наук. пр. Інституту геологічних наук НАН України. — 2010. — Вип. 3. — С. 332-337. — Бібліогр.: 6 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| Zusammenfassung: | На примере отработки методики рентгеновского микроанализа геологических объектов (кизерит, импактит) и
искусственных материалов (оптоволокно) рассмотрены общие подходы при исследовании образцов, нестабильных
под электронным зондом.
На прикладі відпрацювання методики рентгенівського мікроаналізу геологічних об’єктів (кізерит, імпактит) і штучних
матеріалів (оптоволокно) розглянуті загальні підходи при дослідженні зразків, нестабільних під електронним зондом.
The main approaches for investigation of samples, unstable under electron beam, have been considered at exhample of
x-ray microanalysis methodology development of geological (kieserite, impact structure) and synthetic samples (amorphous
glass).
|
|---|---|
| ISSN: | XXXX-0025 |