Анализ свойств наноповерхностей по ACM изображениям

• Опубліковано в: : Штучний інтелект
• Дата: 2011
• Автори: Недзьведь, А.М., Абламейко, С.В., Недзьведь, О.В.
• Формат: Стаття
• Мова: Російська
• Опубліковано: Інститут проблем штучного інтелекту МОН України та НАН України 2011
• Теми: Интеллектуальные интерфейсы и распознавание образов. Системы цифровой обработки изображений
• Онлайн доступ: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/59897
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Цитувати: Анализ свойств наноповерхностей по ACM изображениям / А.М. Недзьведь, С.В. Абламейко, О.В. Недзьведь // Штучний інтелект. — 2011. — № 3. — С. 246-253. — Бібліогр.: 8 назв. — рос.

В данной статье представлена схема алгоритма анализа наноповерхности по изображениям атомно-силовой 
 микроскопии. В основе анализа лежит коррекция неравномерного контраста и выделение объектов с округлой 
 формой. Данный алгоритм позволил определить не только классические характеристики описания наноповерхности, такие как шероховатость, но и дополнительные характеристики нанообъектов, позволяющие 
 получить как их индивидуальное, так и групповое описание. У даній статті представлена схема алгоритму аналізу наноповерхності за зображеннями атомно-силової 
 мікроскопії. В основі аналізу лежить корекція нерівномірного контрасту і виділення об’єктів з округлою 
 формою. Даний алгоритм дозволив визначити не тільки класичні характеристики опису наноповерхності, 
 такі як шорсткість, але і додаткові характеристики нанооб’єктів, що дозволяють отримати як їх індивідуальний, так і груповий опис. In this paper the scheme of algorithm of nano-surface image analysis of atomic force microscopy was 
 described. The analysis is based on correction of uneven contrast and object selection with a rounded shape. 
 This algorithm allowed us to determine not only the classical characteristics of nano-surface such as 
 roughness, but it included additional characteristics of several nano-objects.