Анализ свойств наноповерхностей по ACM изображениям

• Veröffentlicht in: Штучний інтелект
• Datum: 2011
• Hauptverfasser: Недзьведь, А.М., Абламейко, С.В., Недзьведь, О.В.
• Format: Artikel
• Sprache: Russian
• Veröffentlicht: Інститут проблем штучного інтелекту МОН України та НАН України 2011
• Schlagworte: Интеллектуальные интерфейсы и распознавание образов. Системы цифровой обработки изображений
• Online Zugang: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/59897
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Zitieren: Анализ свойств наноповерхностей по ACM изображениям / А.М. Недзьведь, С.В. Абламейко, О.В. Недзьведь // Штучний інтелект. — 2011. — № 3. — С. 246-253. — Бібліогр.: 8 назв. — рос.

В данной статье представлена схема алгоритма анализа наноповерхности по изображениям атомно-силовой микроскопии. В основе анализа лежит коррекция неравномерного контраста и выделение объектов с округлой формой. Данный алгоритм позволил определить не только классические характеристики описания наноповерхности, такие как шероховатость, но и дополнительные характеристики нанообъектов, позволяющие получить как их индивидуальное, так и групповое описание. У даній статті представлена схема алгоритму аналізу наноповерхності за зображеннями атомно-силової мікроскопії. В основі аналізу лежить корекція нерівномірного контрасту і виділення об’єктів з округлою формою. Даний алгоритм дозволив визначити не тільки класичні характеристики опису наноповерхності, такі як шорсткість, але і додаткові характеристики нанооб’єктів, що дозволяють отримати як їх індивідуальний, так і груповий опис. In this paper the scheme of algorithm of nano-surface image analysis of atomic force microscopy was described. The analysis is based on correction of uneven contrast and object selection with a rounded shape. This algorithm allowed us to determine not only the classical characteristics of nano-surface such as roughness, but it included additional characteristics of several nano-objects.