Анализ свойств наноповерхностей по ACM изображениям
В данной статье представлена схема алгоритма анализа наноповерхности по изображениям атомно-силовой 
 микроскопии. В основе анализа лежит коррекция неравномерного контраста и выделение объектов с округлой 
 формой. Данный алгоритм позволил определить не только классические характерис...
Saved in:
| Published in: | Штучний інтелект |
|---|---|
| Date: | 2011 |
| Main Authors: | , , |
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Published: |
Інститут проблем штучного інтелекту МОН України та НАН України
2011
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/59897 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Анализ свойств наноповерхностей по ACM изображениям / А.М. Недзьведь, С.В. Абламейко, О.В. Недзьведь // Штучний інтелект. — 2011. — № 3. — С. 246-253. — Бібліогр.: 8 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862746239557173248 |
|---|---|
| author | Недзьведь, А.М. Абламейко, С.В. Недзьведь, О.В. |
| author_facet | Недзьведь, А.М. Абламейко, С.В. Недзьведь, О.В. |
| citation_txt | Анализ свойств наноповерхностей по ACM изображениям / А.М. Недзьведь, С.В. Абламейко, О.В. Недзьведь // Штучний інтелект. — 2011. — № 3. — С. 246-253. — Бібліогр.: 8 назв. — рос. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Штучний інтелект |
| description | В данной статье представлена схема алгоритма анализа наноповерхности по изображениям атомно-силовой 
микроскопии. В основе анализа лежит коррекция неравномерного контраста и выделение объектов с округлой 
формой. Данный алгоритм позволил определить не только классические характеристики описания наноповерхности, такие как шероховатость, но и дополнительные характеристики нанообъектов, позволяющие 
получить как их индивидуальное, так и групповое описание.
У даній статті представлена схема алгоритму аналізу наноповерхності за зображеннями атомно-силової 
мікроскопії. В основі аналізу лежить корекція нерівномірного контрасту і виділення об’єктів з округлою 
формою. Даний алгоритм дозволив визначити не тільки класичні характеристики опису наноповерхності, 
такі як шорсткість, але і додаткові характеристики нанооб’єктів, що дозволяють отримати як їх індивідуальний, так і груповий опис.
In this paper the scheme of algorithm of nano-surface image analysis of atomic force microscopy was 
described. The analysis is based on correction of uneven contrast and object selection with a rounded shape. 
This algorithm allowed us to determine not only the classical characteristics of nano-surface such as 
roughness, but it included additional characteristics of several nano-objects.
|
| first_indexed | 2025-12-07T20:44:47Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-59897 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 1561-5359 |
| language | Russian |
| last_indexed | 2025-12-07T20:44:47Z |
| publishDate | 2011 |
| publisher | Інститут проблем штучного інтелекту МОН України та НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Недзьведь, А.М. Абламейко, С.В. Недзьведь, О.В. 2014-04-10T14:43:01Z 2014-04-10T14:43:01Z 2011 Анализ свойств наноповерхностей по ACM изображениям / А.М. Недзьведь, С.В. Абламейко, О.В. Недзьведь // Штучний інтелект. — 2011. — № 3. — С. 246-253. — Бібліогр.: 8 назв. — рос. 1561-5359 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/59897 004.93'1;004.932 В данной статье представлена схема алгоритма анализа наноповерхности по изображениям атомно-силовой 
 микроскопии. В основе анализа лежит коррекция неравномерного контраста и выделение объектов с округлой 
 формой. Данный алгоритм позволил определить не только классические характеристики описания наноповерхности, такие как шероховатость, но и дополнительные характеристики нанообъектов, позволяющие 
 получить как их индивидуальное, так и групповое описание. У даній статті представлена схема алгоритму аналізу наноповерхності за зображеннями атомно-силової 
 мікроскопії. В основі аналізу лежить корекція нерівномірного контрасту і виділення об’єктів з округлою 
 формою. Даний алгоритм дозволив визначити не тільки класичні характеристики опису наноповерхності, 
 такі як шорсткість, але і додаткові характеристики нанооб’єктів, що дозволяють отримати як їх індивідуальний, так і груповий опис. In this paper the scheme of algorithm of nano-surface image analysis of atomic force microscopy was 
 described. The analysis is based on correction of uneven contrast and object selection with a rounded shape. 
 This algorithm allowed us to determine not only the classical characteristics of nano-surface such as 
 roughness, but it included additional characteristics of several nano-objects. ru Інститут проблем штучного інтелекту МОН України та НАН України Штучний інтелект Интеллектуальные интерфейсы и распознавание образов. Системы цифровой обработки изображений Анализ свойств наноповерхностей по ACM изображениям Аналіз властивостей наноповерхностей за ACM зображенням Analysis of Nano-Surface Features by AFM Image Processing Article published earlier |
| spellingShingle | Анализ свойств наноповерхностей по ACM изображениям Недзьведь, А.М. Абламейко, С.В. Недзьведь, О.В. Интеллектуальные интерфейсы и распознавание образов. Системы цифровой обработки изображений |
| title | Анализ свойств наноповерхностей по ACM изображениям |
| title_alt | Аналіз властивостей наноповерхностей за ACM зображенням Analysis of Nano-Surface Features by AFM Image Processing |
| title_full | Анализ свойств наноповерхностей по ACM изображениям |
| title_fullStr | Анализ свойств наноповерхностей по ACM изображениям |
| title_full_unstemmed | Анализ свойств наноповерхностей по ACM изображениям |
| title_short | Анализ свойств наноповерхностей по ACM изображениям |
| title_sort | анализ свойств наноповерхностей по acm изображениям |
| topic | Интеллектуальные интерфейсы и распознавание образов. Системы цифровой обработки изображений |
| topic_facet | Интеллектуальные интерфейсы и распознавание образов. Системы цифровой обработки изображений |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/59897 |
| work_keys_str_mv | AT nedzʹvedʹam analizsvoistvnanopoverhnosteipoacmizobraženiâm AT ablameikosv analizsvoistvnanopoverhnosteipoacmizobraženiâm AT nedzʹvedʹov analizsvoistvnanopoverhnosteipoacmizobraženiâm AT nedzʹvedʹam analízvlastivosteinanopoverhnosteizaacmzobražennâm AT ablameikosv analízvlastivosteinanopoverhnosteizaacmzobražennâm AT nedzʹvedʹov analízvlastivosteinanopoverhnosteizaacmzobražennâm AT nedzʹvedʹam analysisofnanosurfacefeaturesbyafmimageprocessing AT ablameikosv analysisofnanosurfacefeaturesbyafmimageprocessing AT nedzʹvedʹov analysisofnanosurfacefeaturesbyafmimageprocessing |