Анализ свойств наноповерхностей по ACM изображениям

Анализ свойств наноповерхностей по ACM изображениям

В данной статье представлена схема алгоритма анализа наноповерхности по изображениям атомно-силовой микроскопии. В основе анализа лежит коррекция неравномерного контраста и выделение объектов с округлой формой. Данный алгоритм позволил определить не только классические характеристики описания на...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Штучний інтелект
Datum:2011
Hauptverfasser: Недзьведь, А.М., Абламейко, С.В., Недзьведь, О.В.
Format: Artikel
Sprache:Russian
Veröffentlicht: Інститут проблем штучного інтелекту МОН України та НАН України 2011
Schlagworte:
Интеллектуальные интерфейсы и распознавание образов. Системы цифровой обработки изображений
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/59897
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Анализ свойств наноповерхностей по ACM изображениям / А.М. Недзьведь, С.В. Абламейко, О.В. Недзьведь // Штучний інтелект. — 2011. — № 3. — С. 246-253. — Бібліогр.: 8 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-59897
record_format dspace
spelling Недзьведь, А.М.
Абламейко, С.В.
Недзьведь, О.В.
2014-04-10T14:43:01Z
2014-04-10T14:43:01Z
2011
Анализ свойств наноповерхностей по ACM изображениям / А.М. Недзьведь, С.В. Абламейко, О.В. Недзьведь // Штучний інтелект. — 2011. — № 3. — С. 246-253. — Бібліогр.: 8 назв. — рос.
1561-5359
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/59897
004.93'1;004.932
В данной статье представлена схема алгоритма анализа наноповерхности по изображениям атомно-силовой микроскопии. В основе анализа лежит коррекция неравномерного контраста и выделение объектов с округлой формой. Данный алгоритм позволил определить не только классические характеристики описания наноповерхности, такие как шероховатость, но и дополнительные характеристики нанообъектов, позволяющие получить как их индивидуальное, так и групповое описание.
У даній статті представлена схема алгоритму аналізу наноповерхності за зображеннями атомно-силової мікроскопії. В основі аналізу лежить корекція нерівномірного контрасту і виділення об’єктів з округлою формою. Даний алгоритм дозволив визначити не тільки класичні характеристики опису наноповерхності, такі як шорсткість, але і додаткові характеристики нанооб’єктів, що дозволяють отримати як їх індивідуальний, так і груповий опис.
In this paper the scheme of algorithm of nano-surface image analysis of atomic force microscopy was described. The analysis is based on correction of uneven contrast and object selection with a rounded shape. This algorithm allowed us to determine not only the classical characteristics of nano-surface such as roughness, but it included additional characteristics of several nano-objects.
ru
Інститут проблем штучного інтелекту МОН України та НАН України
Штучний інтелект
Интеллектуальные интерфейсы и распознавание образов. Системы цифровой обработки изображений
Анализ свойств наноповерхностей по ACM изображениям
Аналіз властивостей наноповерхностей за ACM зображенням
Analysis of Nano-Surface Features by AFM Image Processing
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title Анализ свойств наноповерхностей по ACM изображениям
spellingShingle Анализ свойств наноповерхностей по ACM изображениям
Недзьведь, А.М.
Абламейко, С.В.
Недзьведь, О.В.
Интеллектуальные интерфейсы и распознавание образов. Системы цифровой обработки изображений
title_short Анализ свойств наноповерхностей по ACM изображениям
title_full Анализ свойств наноповерхностей по ACM изображениям
title_fullStr Анализ свойств наноповерхностей по ACM изображениям
title_full_unstemmed Анализ свойств наноповерхностей по ACM изображениям
title_sort анализ свойств наноповерхностей по acm изображениям
author Недзьведь, А.М.
Абламейко, С.В.
Недзьведь, О.В.
author_facet Недзьведь, А.М.
Абламейко, С.В.
Недзьведь, О.В.
topic Интеллектуальные интерфейсы и распознавание образов. Системы цифровой обработки изображений
topic_facet Интеллектуальные интерфейсы и распознавание образов. Системы цифровой обработки изображений
publishDate 2011
language Russian
container_title Штучний інтелект
publisher Інститут проблем штучного інтелекту МОН України та НАН України
format Article
title_alt Аналіз властивостей наноповерхностей за ACM зображенням
Analysis of Nano-Surface Features by AFM Image Processing
description В данной статье представлена схема алгоритма анализа наноповерхности по изображениям атомно-силовой микроскопии. В основе анализа лежит коррекция неравномерного контраста и выделение объектов с округлой формой. Данный алгоритм позволил определить не только классические характеристики описания наноповерхности, такие как шероховатость, но и дополнительные характеристики нанообъектов, позволяющие получить как их индивидуальное, так и групповое описание. У даній статті представлена схема алгоритму аналізу наноповерхності за зображеннями атомно-силової мікроскопії. В основі аналізу лежить корекція нерівномірного контрасту і виділення об’єктів з округлою формою. Даний алгоритм дозволив визначити не тільки класичні характеристики опису наноповерхності, такі як шорсткість, але і додаткові характеристики нанооб’єктів, що дозволяють отримати як їх індивідуальний, так і груповий опис. In this paper the scheme of algorithm of nano-surface image analysis of atomic force microscopy was described. The analysis is based on correction of uneven contrast and object selection with a rounded shape. This algorithm allowed us to determine not only the classical characteristics of nano-surface such as roughness, but it included additional characteristics of several nano-objects.
issn 1561-5359
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/59897
citation_txt Анализ свойств наноповерхностей по ACM изображениям / А.М. Недзьведь, С.В. Абламейко, О.В. Недзьведь // Штучний інтелект. — 2011. — № 3. — С. 246-253. — Бібліогр.: 8 назв. — рос.
work_keys_str_mv AT nedzʹvedʹam analizsvoistvnanopoverhnosteipoacmizobraženiâm
AT ablameikosv analizsvoistvnanopoverhnosteipoacmizobraženiâm
AT nedzʹvedʹov analizsvoistvnanopoverhnosteipoacmizobraženiâm
AT nedzʹvedʹam analízvlastivosteinanopoverhnosteizaacmzobražennâm
AT ablameikosv analízvlastivosteinanopoverhnosteizaacmzobražennâm
AT nedzʹvedʹov analízvlastivosteinanopoverhnosteizaacmzobražennâm
AT nedzʹvedʹam analysisofnanosurfacefeaturesbyafmimageprocessing
AT ablameikosv analysisofnanosurfacefeaturesbyafmimageprocessing
AT nedzʹvedʹov analysisofnanosurfacefeaturesbyafmimageprocessing
first_indexed 2025-12-07T20:44:47Z
last_indexed 2025-12-07T20:44:47Z
_version_ 1850883742225137664

Ähnliche Einträge