Анализ свойств наноповерхностей по ACM изображениям

• Published in: Штучний інтелект
• Date: 2011
• Main Authors: Недзьведь, А.М., Абламейко, С.В., Недзьведь, О.В.
• Format: Article
• Language: Russian
• Published: Інститут проблем штучного інтелекту МОН України та НАН України 2011
• Subjects: Интеллектуальные интерфейсы и распознавание образов. Системы цифровой обработки изображений
• Online Access: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/59897
• Journal Title: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Cite this: Анализ свойств наноповерхностей по ACM изображениям / А.М. Недзьведь, С.В. Абламейко, О.В. Недзьведь // Штучний інтелект. — 2011. — № 3. — С. 246-253. — Бібліогр.: 8 назв. — рос.

В данной статье представлена схема алгоритма анализа наноповерхности по изображениям атомно-силовой микроскопии. В основе анализа лежит коррекция неравномерного контраста и выделение объектов с округлой формой. Данный алгоритм позволил определить не только классические характеристики описания на...