Atomistic models for R1–xPrxBa2Cu3O7–δ (R = Y and lanthanides) and related oxides
We report the results of defect structures studies of silicon implanted at different temperatures with Mn ions (Si:Mn) and of GaMnAs layers, next annealed under ambient and high pressures. An influence of annealing conditions on structural properties of Si:Mn and GaMnAs layers was investigated. It h...
Gespeichert in:
| Datum: | 2009 |
|---|---|
| Hauptverfasser: | , , , , , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
Донецький фізико-технічний інститут ім. О.О. Галкіна НАН України
2009
|
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/5990 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Atomistic models for R1–xPrxBa2Cu3O7–δ (R = Y and lanthanides) and related oxides / A.I. Chroneos, I.L. Goulatis, R.V. Vovk, A.A. Zavgorodniy, M.A. Obolenskii, A.G. Petrenko, A.V. Samoilov // Физика и техника высоких давлений. — 2009. — Т. 19, № 2. — С. 7-13. — Бібліогр.: 17 назв. — англ. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-5990 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
Chroneos, A.I. Goulatis, I.L. Vovk, R.V. Zavgorodniy, A.A. Obolenskii, M.A. Petrenko, A.G. Samoilov, A.V. 2010-02-12T17:55:51Z 2010-02-12T17:55:51Z 2009 Atomistic models for R1–xPrxBa2Cu3O7–δ (R = Y and lanthanides) and related oxides / A.I. Chroneos, I.L. Goulatis, R.V. Vovk, A.A. Zavgorodniy, M.A. Obolenskii, A.G. Petrenko, A.V. Samoilov // Физика и техника высоких давлений. — 2009. — Т. 19, № 2. — С. 7-13. — Бібліогр.: 17 назв. — англ. 0868-5924 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/5990 We report the results of defect structures studies of silicon implanted at different temperatures with Mn ions (Si:Mn) and of GaMnAs layers, next annealed under ambient and high pressures. An influence of annealing conditions on structural properties of Si:Mn and GaMnAs layers was investigated. It has been confirmed that annealing of the Si:Mn samples after implantation results in crystallization of silicon inside the buried postimplanted layer, as well as in the formation of ferromagnetic Mn4Si7 precipitates. A change of strain in the GaMnAs layer, from the compressive to the tensile one, related to a creation of nanoclustered MnAs, was found to be dependent on processing conditions and primary existing structural defects, while independent of the Mn concentration. An influence of primary defects on the structural transformations of the GaMnAs layer is discussed. Атомістичні методи імітаційного моделювання, основані на принципі мінімізації енергії, використані для вивчення структурних параметрів ряду орторомбічних R1–xPrxBa2Cu3O6.5 і пов'язаних з ними сполук. Нові міжатомні потенційні параметри взаємодії одержані для широкого діапазону оксидів, таких як CuO, R2O3, RBa2Cu3O6.5 і R1–xPrxBa2Cu3O6.5 (всього 62 сполуки). Одержані дані знаходяться в доброму узгoдженні з попередніми результатами експериментальних і теоретичних досліджень. Мета даної роботи – прогнозування решіточних потенціалів взаємодії, що можуть бути надалі використані як основа для теоретичного вивчення дефектної хімії надпровідних купратів та інших технологічно важливих оксидів. en Донецький фізико-технічний інститут ім. О.О. Галкіна НАН України Atomistic models for R1–xPrxBa2Cu3O7–δ (R = Y and lanthanides) and related oxides Атомістичні моделі для R1–xPrxBa2Cu3O7–δ і супутніх оксидів Article published earlier |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| title |
Atomistic models for R1–xPrxBa2Cu3O7–δ (R = Y and lanthanides) and related oxides |
| spellingShingle |
Atomistic models for R1–xPrxBa2Cu3O7–δ (R = Y and lanthanides) and related oxides Chroneos, A.I. Goulatis, I.L. Vovk, R.V. Zavgorodniy, A.A. Obolenskii, M.A. Petrenko, A.G. Samoilov, A.V. |
| title_short |
Atomistic models for R1–xPrxBa2Cu3O7–δ (R = Y and lanthanides) and related oxides |
| title_full |
Atomistic models for R1–xPrxBa2Cu3O7–δ (R = Y and lanthanides) and related oxides |
| title_fullStr |
Atomistic models for R1–xPrxBa2Cu3O7–δ (R = Y and lanthanides) and related oxides |
| title_full_unstemmed |
Atomistic models for R1–xPrxBa2Cu3O7–δ (R = Y and lanthanides) and related oxides |
| title_sort |
atomistic models for r1–xprxba2cu3o7–δ (r = y and lanthanides) and related oxides |
| author |
Chroneos, A.I. Goulatis, I.L. Vovk, R.V. Zavgorodniy, A.A. Obolenskii, M.A. Petrenko, A.G. Samoilov, A.V. |
| author_facet |
Chroneos, A.I. Goulatis, I.L. Vovk, R.V. Zavgorodniy, A.A. Obolenskii, M.A. Petrenko, A.G. Samoilov, A.V. |
| publishDate |
2009 |
| language |
English |
| publisher |
Донецький фізико-технічний інститут ім. О.О. Галкіна НАН України |
| format |
Article |
| title_alt |
Атомістичні моделі для R1–xPrxBa2Cu3O7–δ і супутніх оксидів |
| description |
We report the results of defect structures studies of silicon implanted at different temperatures with Mn ions (Si:Mn) and of GaMnAs layers, next annealed under ambient and high pressures. An influence of annealing conditions on structural properties of Si:Mn and GaMnAs layers was investigated. It has been confirmed that annealing of the Si:Mn samples after implantation results in crystallization of silicon inside the buried postimplanted layer, as well as in the formation of ferromagnetic Mn4Si7 precipitates. A change of strain in the GaMnAs layer, from the compressive to the tensile one, related to a creation of nanoclustered MnAs, was found to be dependent on processing conditions and primary existing structural defects, while independent of the Mn concentration. An influence of primary defects on the structural transformations of the GaMnAs layer is discussed.
Атомістичні методи імітаційного моделювання, основані на принципі мінімізації енергії, використані для вивчення структурних параметрів ряду орторомбічних R1–xPrxBa2Cu3O6.5 і пов'язаних з ними сполук. Нові міжатомні потенційні параметри взаємодії одержані для широкого діапазону оксидів, таких як CuO, R2O3, RBa2Cu3O6.5 і R1–xPrxBa2Cu3O6.5 (всього 62 сполуки). Одержані дані знаходяться в доброму узгoдженні з попередніми результатами експериментальних і теоретичних досліджень. Мета даної роботи – прогнозування решіточних потенціалів взаємодії, що можуть бути надалі використані як основа для теоретичного вивчення дефектної хімії надпровідних купратів та інших технологічно важливих оксидів.
|
| issn |
0868-5924 |
| url |
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/5990 |
| citation_txt |
Atomistic models for R1–xPrxBa2Cu3O7–δ (R = Y and lanthanides) and related oxides / A.I. Chroneos, I.L. Goulatis, R.V. Vovk, A.A. Zavgorodniy, M.A. Obolenskii, A.G. Petrenko, A.V. Samoilov // Физика и техника высоких давлений. — 2009. — Т. 19, № 2. — С. 7-13. — Бібліогр.: 17 назв. — англ. |
| work_keys_str_mv |
AT chroneosai atomisticmodelsforr1xprxba2cu3o7δryandlanthanidesandrelatedoxides AT goulatisil atomisticmodelsforr1xprxba2cu3o7δryandlanthanidesandrelatedoxides AT vovkrv atomisticmodelsforr1xprxba2cu3o7δryandlanthanidesandrelatedoxides AT zavgorodniyaa atomisticmodelsforr1xprxba2cu3o7δryandlanthanidesandrelatedoxides AT obolenskiima atomisticmodelsforr1xprxba2cu3o7δryandlanthanidesandrelatedoxides AT petrenkoag atomisticmodelsforr1xprxba2cu3o7δryandlanthanidesandrelatedoxides AT samoilovav atomisticmodelsforr1xprxba2cu3o7δryandlanthanidesandrelatedoxides AT chroneosai atomístičnímodelídlâr1xprxba2cu3o7δísuputníhoksidív AT goulatisil atomístičnímodelídlâr1xprxba2cu3o7δísuputníhoksidív AT vovkrv atomístičnímodelídlâr1xprxba2cu3o7δísuputníhoksidív AT zavgorodniyaa atomístičnímodelídlâr1xprxba2cu3o7δísuputníhoksidív AT obolenskiima atomístičnímodelídlâr1xprxba2cu3o7δísuputníhoksidív AT petrenkoag atomístičnímodelídlâr1xprxba2cu3o7δísuputníhoksidív AT samoilovav atomístičnímodelídlâr1xprxba2cu3o7δísuputníhoksidív |
| first_indexed |
2025-12-07T19:13:30Z |
| last_indexed |
2025-12-07T19:13:30Z |
| _version_ |
1850877998856667136 |