Визначення характеристик шаруватої структури за реконструйованою з коефіцієнтів відбиття матрицею розсіювання

• Опубліковано в: : Радиофизика и радиоастрономия
• Дата: 2010
• Автори: Назарчук, З.Т., Синявський, А.Т.
• Формат: Стаття
• Мова: Українська
• Опубліковано: Радіоастрономічний інститут НАН України 2010
• Теми: Распространение, дифракция и рассеяние электромагнитных волн
• Онлайн доступ: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/60106
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Цитувати: Визначення характеристик шаруватої структури
 за реконструйованою з коефіцієнтів відбиття
 матрицею розсіювання / З.Т. Назарчук, А.Т. Синявський // Радиофизика и радиоастрономия. — 2010. — Т. 15, № 3. — С. 295–313. — Бібліогр.: 23 назв. — укр.

Подається метод визначення діелектричної проникності та товщини шарів плоскої шаруватої
 структури за результатами вимірювання коефіцієнта відбиття плоскої електромагнітної хвилі.
 В цьому методі використовується підхід до реконструкції частотної залежності всіх елементів
 матриці розсіювання в обмеженому діапазоні частот. Матриця розсіювання відновлюється через
 перерахунок виміряних коефіцієнтів відбиття від такої структури у вільному просторі та на ідеально
 провідній підкладці. Високої точності обчислення діелектричної проникності та товщини шарів
 досягнуто за рахунок ідентифікації спектральних коефіцієнтів, які виділено з елементів матриці
 розсіювання та описано скінченним рядом незгасаючих комплексних експонент. Представлен метод определения диэлектрических проницаемостей и толщин слоев плоской многослойной структуры исходя из результатов измерений коэффициента отражения
 плоской электромагнитной волны. В этом методе используется подход к реконструкции
 частотной зависимости всех элементов матрицы рассеяния в ограниченном диапазоне
 частот. Восстановление матрицы рассеяния
 осуществлено путем перерасчета измеренных
 коэффициентов отражения от такой структуры
 в свободном пространстве и на идеально проводящей подложке. Высокой точности определения диэлектрической проницаемости
 и толщины слоев удалось достичь за счет идентификации спектральных коэффициентов, которые выделены из элементов матрицы рассеяния и представлены в виде конечного ряда
 незатухающих комплексных экспонент. A new method for determination of both
 layers’ permittivity and thickness of a plain multilayer
 structure is proposed. The reflection coefficient
 of a plain electromagnetic wave is considered
 as initial data in the problem. The method
 is based on an approach to reconstruction of the
 frequency dependences of all scattering matrix
 elements in a limited waveband. The scattering
 matrix has been recovered by recalculation of the
 measured reflection coefficients for this structure
 in free space and on a perfectly-conducting
 screen. A high accuracy in both permittivity and
 thickness determination is achieved due to identification
 of spectral coefficients which are distinguished
 from scattering matrix elements and expressed
 as a finite series of undamped complex
 exponents.